物料的介电系数的量测方法技术

一种物料的介电系数的量测方法，包含下列步骤：将一料位感测器的一探棒插入一桶槽内，使得该探棒的一部分设置位于该桶槽的一未填充区内，且该探棒的另一部分设置于该桶槽的一填充区内；该料位感测器进行一物料的料位量测以得到一第一特征值；将该料位感测器垂直移动一垂直距离，使得该料位感测器的该探棒未完全地离开该桶槽的该填充区；该料位感测器进行该物料的料位量测以得到一第二特征值；该料位感测器将该第一特征值减去该第二特征值以得到一特征值变化量；该料位感测器计算该特征值变化量以得到该物料的介电系数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种介电系数的量测方法，特别涉及一种物料的介电系数的量测方法。
技术介绍
目前，料位感测器，例如时域反射雷达感测器，被广泛地运用于料位量测；因此，料位感测器非常地重要。然而，有很多因素会影响料位感测器的精确度，例如物料的介电系数。这是因为物料的介电系数会影响在物料中的量测信号的往返时间，使得料位感测器的精确度被影响。然而，目前在料位感测器，例如时域反射雷达感测器，安装好之后，物料的介电系数并没有被准确且方便地测量，使得料位感测器的精确度降低。
技术实现思路
为改善上述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种物料的介电系数的量测方法。为达成本专利技术的上述目的，本专利技术的物料的介电系数的量测方法应用于一料位感测器、一桶槽及一物料，该料位感测器包含一料位感测电路及一探棒，该桶槽由上至下具有一未填充区以及充满该物料的一填充区，该物料的介电系数的量测方法包含：将该料位感测器的该探棒插入该桶槽内，使得该料位感测器的该探棒的一部分设置位于该桶槽的该未填充区内，且该料位感测器的该探棒的另一部分设置于该桶槽的该填充区内，且该料位感测器位于一第一位置；在该料位感测器位于该第一位置之后，该料位感测器进行该物料的料位量测以得到一第一特征值；在得到该第一特征值之后，将该料位感测器垂直移动一垂直距离，使得该料位感测器的该探棒未完全地离开该桶槽的该填充区，且该料位感测器系位于一第二位置；在该料位感测器位于该第二位置之后，该料位感测器进行该物料的料位量测以得到一第二特征值；该料位感测电路将该第一特征值减去该第二特征值以得到一特征值变化量；及该料位感测电路计算该特征值变化量以得到该物料的介电系数。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中该料位感测器可为例如但本专利技术不限定为一时域反射雷达感测器。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中该第一特征值为一第一走时差值。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中该第二特征值为一第二走时差值。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中当该料位感测器位于该第一位置时，该料位感测器的该探棒的一部分设置位于该桶槽的该未填充区内的长度为一第一长度，且该料位感测器的该探棒的另一部分设置于该桶槽的该填充区内的长度为一第二长度。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中该第一走时差值等于一第一时间加上一第二时间；该第一时间等于两倍的该第一长度除以一空气波速；该第二时间等于两倍的该第二长度除以一物料波速。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中一第三长度等于该第一长度加上该垂直距离；一第四长度等于该第二长度减掉该垂直距离。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中该第二走时差值等于一第三时间加上一第四时间；该第三时间等于两倍的该第三长度除以该空气波速；该第四时间等于两倍的该第四长度除以该物料波速。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中该空气波速系为一常数；该介电系数的平方根为一平方根值；该物料波速等于该常数除以该平方根值。再者，在一具体实施例，如上所述的物料的介电系数的量测方法，其中该料位感测器更包含一扩时电路；该扩时电路将该特征值变化量乘以一增益值，使得该特征值变化量的单位从微秒放大至毫秒。本专利技术的功效在于量测并计算物料的介电系数以提高料位感测器的精确度。以下结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的限定。附图说明图1为本专利技术的物料的介电系数的量测方法流程图；图2a为该料位感测器位于该第一位置的示意图；图2b为该料位感测器位于该第二位置的示意图；图3为该第一走时差值及该第二走时差值的一具体实施例波形图；图4a为物料的深度的量测方法的一部分示意图；图4b为物料的深度的量测方法的另一部分示意图。其中，附图标记料位感测器10料位感测电路12探棒14桶槽20未填充区22填充区24物料30常数c第三长度d3第四长度d4第一长度dair第二长度dm垂直距离Hair垂直距离Hm探棒长度Lt深度Lm步骤S02步骤S04步骤S06步骤S08步骤S10步骤S12第一时间t01第二时间t02第三时间t03第四时间t04第一走时差值t1第二走时差值t2第三走时差值t3第四走时差值t4空气波速Vair物料波速Vm介电系数ε平方根值√ε具体实施方式有关本专利技术的详细说明及
技术实现思路
，请参阅以下的详细说明和附图说明如下，而附图与详细说明仅作为说明之用，并非用于限制本专利技术。请参考图1，其为本专利技术的物料的介电系数的量测方法流程图；并请同时参考图2a，其为该料位感测器位于该第一位置的示意图；并请同时参考图2b，其为该料位感测器位于该第二位置的示意图。本专利技术的物料的介电系数的量测方法系应用于一料位感测器10、一桶槽20及一物料30；该料位感测器10包含一料位感测电路12及一探棒14；该桶槽20由上至下具有一未填充区22以及充满该物料30的一填充区24；该料位感测器10可为例如但本专利技术不限定为一时域反射雷达感测器。该物料30的介电系数ε的量测方法包含下列步骤。首先，请参考图1及图2a。步骤S02：将该料位感测器10的该探棒14插入该桶槽20内，使得该料位感测器10的该探棒14的一部分设置位于该桶槽20的该未填充区22内，且该料位感测器10的该探棒14的另一部分设置于该桶槽20的该填充区24内，且该料位感测器10位于一第一位置(即如图2a所示)。步骤S04：在该料位感测器10位于该第一位置的后，该料位感测器10进行该物料30的料位量测以得到一第一特征值(容后详述)。接着，请参考图1及图2b。步骤S06：在得到该第一特征值之后，将该料位感测器10垂直移动一垂直距离Hair(或一垂直距离Hm)，使得该料位感测器10的该探棒14未完全地离开该桶槽20的该填充区24，且该料位感测器10位于一第二位置(即如图2b所示)。其中，该垂直距离Hair即等于该垂直距离Hm。步骤S08：在该料位感测器10位于该第二位置之后，该料位感测器10进行该物料30的料位量测以得到一第二特征值(容后详述)。步骤S10：该料位感测电路12将该第一特征值减去该第二特征值以得到一特征值变化量(容后详述)。步骤S12：该料位感测电路12计算该特征值变化量以得到该物料30的介电系数ε(容后详述)。以下内容将详细叙述上述的步骤S02及步骤S04；请再次参考图1及图2a。当该料位感测器10位于该第一位置(即如图2a所示)时，该料位感测器10的该探棒14的一部分设置位于该桶槽20的该未填充区22内的长度为一第一长度dair，且该料位感测器10的该探棒14的另一部分设置于该桶槽20的该填充区24内的长度为一第二长度dm。该第一特征值为一第一走时差值t1；该第一走时差值t1等于一第一时间t01加上一第二时间t02；该第一时间t01等于两倍的该第一长度dair除以一空气波速Vair；该第二时间t02等于两倍的该第二长度dm除以一物料波速Vm。上述内容可以以下列公式表达：t1＝t01+t02＝(2*dair/Vair)+(2*dm/Vm)以下内容将详细叙述上述的步骤S06本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种物料的介电系数的量测方法，应用于一料位感测器、一桶槽及一物料，该料位感测器包含一料位感测电路及一探棒，该桶槽由上至下具有一未填充区以及充满该物料的一填充区，其特征在于，该物料的介电系数的量测方法包含：a.将该料位感测器的该探棒插入该桶槽内，使得该料位感测器的该探棒的一部分设置位于该桶槽的该未填充区内，且该料位感测器的该探棒的另一部分设置于该桶槽的该填充区内，且该料位感测器位于一第一位置；b.在该料位感测器位于该第一位置之后，该料位感测器进行该物料的料位量测以得到一第一特征值；c.在得到该第一特征值之后，将该料位感测器垂直移动一垂直距离，使得该料位感测器的该探棒未完全地离开该桶槽的该填充区，且该料位感测器位于一第二位置；d.在该料位感测器位于该第二位置之后，该料位感测器进行该物料的料位量测以得到一第二特征值；e.该料位感测电路将该第一特征值减去该第二特征值以得到一特征值变化量；及f.该料位感测电路计算该特征值变化量以得到该物料的介电系数。

【技术特征摘要】
1.一种物料的介电系数的量测方法，应用于一料位感测器、一桶槽及一物料，该料位感测器包含一料位感测电路及一探棒，该桶槽由上至下具有一未填充区以及充满该物料的一填充区，其特征在于，该物料的介电系数的量测方法包含：a.将该料位感测器的该探棒插入该桶槽内，使得该料位感测器的该探棒的一部分设置位于该桶槽的该未填充区内，且该料位感测器的该探棒的另一部分设置于该桶槽的该填充区内，且该料位感测器位于一第一位置；b.在该料位感测器位于该第一位置之后，该料位感测器进行该物料的料位量测以得到一第一特征值；c.在得到该第一特征值之后，将该料位感测器垂直移动一垂直距离，使得该料位感测器的该探棒未完全地离开该桶槽的该填充区，且该料位感测器位于一第二位置；d.在该料位感测器位于该第二位置之后，该料位感测器进行该物料的料位量测以得到一第二特征值；e.该料位感测电路将该第一特征值减去该第二特征值以得到一特征值变化量；及f.该料位感测电路计算该特征值变化量以得到该物料的介电系数。2.根据权利要求1所述的物料的介电系数的量测方法，其特征在于，该料位感测器为一时域反射雷达感测器。3.根据权利要求2所述的物料的介电系数的量测方法，其特征在于，该第一特征值为一第一走时差值。4.根据权利要求3所述的物料的介电系数的量测方法，其特征在于，该第二特征值为一第二走...

【专利技术属性】
技术研发人员：锺世忠，林益助，张良琪，郑兆凱，侯宜良，
申请(专利权)人：桓达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71