一种位翻转检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种位翻转检测方法及装置。该方法包括：确定闪存分区的工作状态为空闲态，所述闪存设备包括至少一个闪存分区；对所述闪存分区进行分块扫描操作，用以确定所述闪存分区是否存在位翻转。实现了及时对闪存中位翻转区域的检测，从而提高了闪存的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储管理领域，尤指一种位翻转检测方法及装置。
技术介绍
Nand-flash是闪存(flash)的一种，其中，Nand-flash作为一种存储设备，具有容量大、改写速度快、适用于存储大量数据等优点，因而在业界得到了越来越广泛的应用。在使用Nand-flash内存的过程中，通常通过在系统对该Nand-flash内存的存储区域进行读操作的过程中，可以发现位翻转现象，也就是说，在读到发生位翻转区域时可以发现位翻转，接着可以通过错误检查和纠正(ErrorCorrectingCode，简称ECC)算法对位翻转区域进行修复，其中，位翻转是指一个比特bit发生翻转或被报告翻转了。上述现有技术是通过读操作来发现位翻转区域，然而，本领域技术人员在实现上述现有技术的过程中发现，若位翻转区域未及时发现，位翻转的位数超过一限值后，ECC算法将无法对该位翻转区域进行修复，从而导致闪存的可靠性较低。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种位翻转检测方法及装置，用以解决及时发现位翻转区域的问题。为了达到本专利技术目的，本专利技术提供了一种位翻转检测方法，包括：确定闪存分区的工作状态为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位翻转检测方法，其特征在于，包括：确定闪存分区的工作状态为空闲态，闪存设备包括至少一个闪存分区；对所述闪存分区进行分块扫描操作，用以确定所述闪存分区是否存在位翻转。

【技术特征摘要】
1.一种位翻转检测方法，其特征在于，包括：确定闪存分区的工作状态为空闲态，闪存设备包括至少一个闪存分区；对所述闪存分区进行分块扫描操作，用以确定所述闪存分区是否存在位翻转。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定闪存分区的工作状态为空闲态，包括以下任意一组或其组合:确定所述闪存分区当前无用户访问；确定当前中央处理器CPU的第一使用率小于第一门限值，所述CPU与所述闪存设备连接，用于对所述闪存设备进行控制操作；确定当前内存的第二使用率小于第二门限值，所述内存与所述CPU连接。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一门限值为20％；所述第二门限值为50％。4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述存闪存分区进行分块扫描操作，包括：向所述闪存设备发送分块读nanddump指令，所述分块读指令包括读取所述闪存分区的数据，用以确定所述闪存分区是否存在位翻转。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述闪存分区进行分块扫描操作之后，还包括:确定所述闪存分区存在位翻转区域；将所述位翻转区域进...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈晓伟，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44