玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2 的X荧光测定法制造技术

本发明专利技术公开了一种玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法，属于玻璃制造领域中的检测方法，依次包括以下步骤：利用压片机压制标准样品片系列；将压制好的标准样品片于X荧光光谱仪上登记强度，建立标准曲线；用已知成分含量的验证标准片验证标准曲线的可靠性；依据建立的标准曲线检测待测样品的主含量。本发明专利技术的方法与传统碱熔融处理后络合返滴定相比，样品处理过程更简单、无损失，自动化，检测效率高，结果更可靠。本方法通过压片提供构建标准曲线的标准品，与现有技术采用铂黄坩埚高温熔融法提供标准品和样品的检测方法相比，更安全、节能、均匀、简单、同时，避免坩埚腐蚀，数据可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于玻璃材料检测领域，具体涉及一种主含量是氧化锡的玻璃澄清剂中SnO2的X荧光测定法。
技术介绍
玻璃生产过程中生成的气体存在多种形式，比如，可见气泡，溶解态气体，与玻璃组分成化学结合状态等等，有部分是不可见的，如后两者。玻璃液中含有的气体包括：CO2、CO、SO2、SO3、N2、O2等。可见气泡的产生是由于气体在玻璃溶体中的溶解度有一定的限度，当超出限度时便以可见气泡存在。玻璃液的澄清过程就是玻璃液中的气泡被吸收溶解或者排至玻璃液表面消除的过程，是玻璃制造，特别是液晶玻璃基板制造的重要环节。玻璃澄清剂根据作用原理不同被分为氧化还原型、高温分解型澄清剂、高温挥发型澄清剂等。其中，氧化还原型玻璃澄清剂在一定温度下分解放出氧，然后在玻璃液中扩散，渗入气泡中使气泡长大而排出；或者在一定温度下吸收或化合气泡中的气体，使气泡减小到临界泡径以下而消失。氧化锡是一种环保的氧化还原型玻璃澄清剂，在澄清剂中占有较广的使用领域。液晶玻璃基板行业使用的含氧化锡澄清剂对纯度要求非常高，一般要求氧化锡含量在98％以上，否则会严重影响产品的品质。现有方法对澄清剂氧化锡的含量测定通常采用熔融法，最为普遍的是钠碱熔融法，测定过程要用到浓酸或浓碱溶解，然后经EDTA络合，再通过醋酸铅反滴定分析法检测氧化锡的含量，这些方法一方面涉及强腐蚀性的试剂，安全性低，对仪器损耗大，另一方面仍然存在不能完全溶解的情况，造成样品损失，准确度低，而且滴定法对操作人员熟练程度要求较高。虽然X荧光光谱法用于金属元素的检测已经广为人知，但一直没有较好的检测含氧化锡澄清剂的方法，原因在于缺乏将含氧化锡澄清剂制备成适于X荧光光谱法检测的样品的方法，按照熔融法制备溶解态的样品虽然也可以用于检测，但是腐蚀性高，可行性差。制备成样片缺乏较好的制备工艺，制得样品易崩解。因此，液晶玻璃基板行业急需一种针对性强的可行性高检测含氧化锡澄清剂主含量的方法。
技术实现思路
为解决上述技术问题，本专利技术的目的在于提供一种玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法，该方法操作简便、安全，采用压片法制备稳定的样片进行检测，准确性高。本专利技术的上述目的是通过以下技术方案实现的：一种玻璃澄清剂主含量的X荧光测定法，包括以下步骤：I、标准样品及待测样品的压制：取SnO2含量在98％～100％的标准样品系列及待测样品，分别研磨至无颗粒感，然后分别取适量的标准样品及待测样品置于压片机的模具槽中心圈，再在模具槽中心圈外四周均匀加入重量为所取样品2.5-3.5倍的粘合固定剂，轻轻取出模具槽，并将加入的固定剂铺平，使之盖住样品槽中心圈内的样品，加上重力压头外盖，设定压片程序条件：压力15-20t，保压时间30-40s，启动压片机，程序结束后取出样片，得到标准样品片系列及待测样品片。II、标准曲线的建立：将压制好的标准样品片于X荧光光谱仪上登记强度及含量，建立标准曲线。III、方法验证：取一含量已知的玻璃澄清剂氧化锡标准样品按步骤I压片后用X荧光光谱仪检测，光谱仪软件自动根据步骤II建立的标准曲线计算主成分SnO2的含量，将计算的数值和已知数值进行比较，验证本方法的可靠性。IV、待测样品检测：取待测样品按步骤I压片后用X荧光光谱仪检测，光谱仪软件自动根据步骤II建立的标准曲线计算主成分SnO2的含量，即得检测数据。在本专利技术的一个实施例中，通过方法验证，用上述方法测得的主含量数据误差仅仅约为0.02％(以SnO2计)。步骤I的标准样品至少应准备1份，作为优选，标准样品准备2份或3份。本领域技术人员可知，当标准样品数为1时，建立的方法适于检测含量与标准样品含量近似的样品，当标准样品数大于1时，建立的方法可检测含量在两个端点值之间的样品。因此，标准样品数可根据实际需要设定。在本专利技术的方法中，步骤I的粘合固定剂优选为硼酸或者淀粉。粘合固定剂的量优选为玻璃澄清剂的3倍。粘合固定剂的选择和压片条件是决定制得样片质量的重要条件，本专利技术的方法制备的样片稳定，一旦制得可封存于干燥器中，用于定期校正曲线，而对比例的方法所得部分样片则易崩解，甚至还来不及测定。在本专利技术的一些实施例中，步骤I用作标准样品的玻璃澄清剂氧化锡，其SnO2含量为98％～100％，其Fe2O3含量为0.001％～0.003％，K2O含量为0.002％～0.006％，Na2O含量为0.003％～0.007％。上述方法中，X荧光光谱仪的检测条件为：40Kw,70MA。本专利技术的方法与传统碱熔融处理后络合返滴定相比，样品处理过程更简单、无损失，自动化，检测效率高，结果更可靠。本方法通过压片提供构建标准曲线的标准品，与现有技术采用铂黄坩埚高温熔融法提供标准品和样品的检测方法相比，更安全、节能、均匀、简单、数据可靠。具有以下优势：(1)样品处理过程简单，分析可实现全自动化，提高效率。(2)样品无损失，保留了样品的均匀性，避免了用铂金坩埚熔制腐蚀坩埚的风险，由于分析过程全自动化减小了人为误差，经实验验证，该方法能够保证数据的准确度。(3)不需每次都建立方法，曲线可以重复利用，只需定期使用保存的标准样品校正一下即可保证数据的可靠性。每次在检测待测氧化锡样品之前，只需将待测样品作压片处理即可以直接上机利用之前所建立的标准曲线进行检测。附图说明图1为实施例1的标准曲线图。具体实施方式以下通过具体实施方式，对本专利技术的上述内容做进一步的详细说明。但不应该将此理解为本专利技术上述主题的范围仅限于以下的实例。凡基于本专利技术上述内容所实现的技术均属于本专利技术的范围。实施例1(1)仪器：X荧光光谱仪岛津MXF-2400及压片机ZHY-601A。(2)标准样品的压制取3个标准样品，分别编号1#、2#、3#，其主要成分含量如表1所示表1标准系列参数①表1中的各个标准样品分别于研钵中研磨至无颗粒感，装袋编号，备用。②从研磨后的标准粉末样品中称取约2g标准样品置于压片机的模具槽中心圈，再在模具槽中心圈外四周均匀加入重量6g的粘合固定剂硼酸，轻轻取出模具槽，并将加入的固定剂铺平，使之盖住样品槽中心圈内的样品，加上重力压头外盖，设定压片程序条件：压力15-20t，保压时间30-40s，启动压片机，程序结束后取出样片。③将上述所得的标准样片标上记号，即得标准样品1#、2#、3#，备用。(3)标准曲线的建立将压制好的标准样品片于X荧光光谱仪上登记强度，建立标准曲线，参加附图1。(4)标准曲线及方法的验证取已知含量(含量见表2)的验证标准样品4#，按照前面(2)中标准样品的压制程序进行样品的压片处理。表2验证标准样品参数将所得的验证标准样品作为未知样用前面建立的标准曲线进行检测，所得结果如下：表3验证标准样实测数据以SnO2计，检测结果与真实值误差仅仅为0.02％，可以确认，所建立的方法可靠。(5)保存所建立的分析方法，将标准样品封存，储存于干燥器中。以备定期校正所建立的曲线。(6)待测原料氧化锡样品按照下表4中参数与标准样品进行相同的压制处理，然后于X荧光光谱仪上，依据上述标准曲线进行检测，检测结果见表5。表4样品压制参数氧化锡样品(g)2粘合固定剂(g)6压力(t)15-20保压时间(s)30-40表5待测样品实测数据参数含量SnO2(％)99.5Fe2O3(％)0.0010K2O0本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法，其特征在于，包括以下步骤：I、压制标准样品至少1份；II、在X荧光光谱仪上登记步骤I所得标准样品的SnO2含量及强度，并根据强度及含量数据建立标准曲线；III、在X荧光光谱仪上检测待测样品，根据步骤II的标准曲线获得待测样品的含量；其中，步骤I的标准样品和步骤III的待测样品按以下方法准备：取SnO2含量在98％～100％的氧化锡标准样品系列及待测样品，分别研磨至无颗粒感，然后取适量的标准样品及待测样品置于压片机的模具槽中心圈，再在模具槽中心圈的四周均匀加入重量为所取样品2.5‑3.5倍的粘合固定剂，轻轻取出模具槽，并将加入的固定剂铺平，使之盖住样品槽中心圈内的样品，加上重力压头，启动压片机压片，得到样品。

【技术特征摘要】
1.一种玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法，其特征在于，包括以下步骤：I、压制标准样品至少1份；II、在X荧光光谱仪上登记步骤I所得标准样品的SnO2含量及强度，并根据强度及含量数据建立标准曲线；III、在X荧光光谱仪上检测待测样品，根据步骤II的标准曲线获得待测样品的含量；其中，步骤I的标准样品和步骤III的待测样品按以下方法准备：取SnO2含量在98％～100％的氧化锡标准样品系列及待测样品，分别研磨至无颗粒感，然后取适量的标准样品及待测样品置于压片机的模具槽中心圈，再在模具槽中心圈的四周均匀加入重量为所取样品2.5-3.5倍的粘合固定剂，轻轻取出模具槽，并将加入的固定剂铺平，使之盖住样品槽中心圈内的样品，加上重力压头，启动压片机压片，得到样品。2.根据权利要求1所述的玻璃澄清剂材料氧化锡中主含量SnO2的X荧光测定法，其特征在于，所述压片的条件为：压力1...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭寿，谢军，王国全，易元，
申请(专利权)人：成都中光电科技有限公司，东旭集团有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51