一种内嵌式触控测试电路制造技术

本发明专利技术提供一种内嵌式触控测试电路，其包括：阵列排布的触控电极，每一行有n个触控电极，每一列有m个触控电极；电容耦合模块，其与触控电极耦合连接；第一开关模块，其包括一个第一输入端、a个第一控制端和n个第一输出端；第二开关模块，其包括m个第二输入端，b个第二控制端和一个第二输出端；其中，n、m、a和b为正整数，n小于等于2^a，m小于等于2^b。本发明专利技术的内嵌式触控测试电路通过电容耦合模块触发触控电极生成触控信号，并通过第一开关模块和第二开关模块逐个采集每个触控电极生成的触控信号，将采集到的触控信号进行对比，从而完成触摸屏的出品功能测试，进而不会造成芯片和排线等物料的浪费，并且提高了生产效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触控
，尤其涉及一种内嵌式触控测试电路。
技术介绍
相对于传统的将触摸面板设置在液晶面板上的技术，将触摸面板功能和液晶面板一体化的研究日渐盛行，于是，出现了内嵌式触摸屏。内嵌式触摸屏技术包括in-cell和on-cell两种。In-cell触摸屏技术是指将触摸面板功能嵌入到液晶像素中，而on-cell触摸屏技术是指将触摸面板功能嵌入到彩色滤光片基板和偏光片之间。与on-cell触摸屏相比，in-cell触摸屏能够实现面板的二更轻薄化。在in-cell触摸屏技术中，在cell(组立制程)阶段，一般只对触摸屏的显示功能进行测试，而没有对触摸屏的触控功能进行测试。触控功能需要等到绑定芯片和排线后再进行测试，这样使得触控不良的触摸屏在cell阶段不能筛选出来，进而造成芯片和排线等物料的浪费，降低生产效率。故，有必要提供一种内嵌式触控测试电路，以解决现有技术所存在的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种内嵌式触控测试电路，以解决现有的触摸屏在cell阶段不能进行触摸功能测试，需要绑定芯片和排线等物料后才能进行测试，进而造成物料浪费，生产效率降低的技术问题。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：本专利技术实施例提供一种内嵌式触控测试电路，其包括：阵列排布的触控电极，每个触控电极都与相应的第一薄膜晶体管的源极连接，其中，每一行有n个触控电极，每一列有m个触控电极；电容耦合模块，其与触控电极耦合连接，用于触发触控电极生成触控信号；第一开关模块，其包括一个第一输入端、a个第一控制端和n个第一输出端，第一控制端与相应的第一控制信号源连接，第一输入端与恒压高电平源连接，第一输出端与相应的第一薄膜晶体管的栅极连接，用于受第一控制信号源提供的第一控制信号的控制将恒压高电平源提供的恒压高电平传输至第一薄膜晶体管的栅极，将其中一列触控电极生成的触控信号传输到相应的第一薄膜晶体管的漏极；第二开关模块，其包括m个第二输入端，b个第二控制端和一个第二输出端，第二输入端与相应的第一薄膜晶体管的漏极连接，第二控制端与相应的第二控制信号源连接，第二输出端与触控信号采集端子连接，用于受第二控制信号源提供的第二控制信号的控制将其中一列触控电极生成的触控信号逐个输出至触控信号采集端子上；其中，n、m、a和b为正整数，n小于等于2^a，m小于等于2^b。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，电容耦合模块包括：恒压电源，用于提供恒压电平；扫描线输入信号源，用于提供扫描线输入信号；扫描线控制信号源，用于提供扫描线控制信号；以及，控制单元，用于接收扫描线输入信号，并受扫描线控制信号的控制输出扫描线输入信号；其中，恒压电源与数据线连接，扫描线输入信号源与控制单元的输入端连接，扫描线控制信号源与控制单元的控制端连接，控制单元的输出端与扫描线连接。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，控制单元包括多个第二薄膜晶体管，每个第二薄膜晶体管的栅极与扫描线控制信号源连接，每个第二薄膜晶体管的源极与扫描线输入信号源连接，每个第二薄膜晶体管的漏极与相应的扫描线连接。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，第一开关模块包括多个第三薄膜晶体管，每个第一薄膜晶体管的栅极与a个串联的第三薄膜晶体管连接。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，第二开关模块包括多个第四薄膜晶体管，每个第一薄膜晶体管的漏极与b个串联的第四薄膜晶体管连接。本专利技术还提供一种内嵌式触控测试电路，其包括：阵列排布的触控电极，每个触控电极都与相应的第一薄膜晶体管的源极连接，其中，每一行有n个触控电极，每一列有m个触控电极；电容耦合模块，其与触控电极耦合连接，用于触发触控电极生成触控信号；第一开关模块，其包括一个第一输入端、a个第一控制端和n个第一输出端，第一控制端与相应的第一控制信号源连接，第一输入端与恒压高电平源连接，第一输出端与相应的第一薄膜晶体管的栅极连接，用于受第一控制信号源提供的第一控制信号的控制将恒压高电平源提供的恒压高电平传输至第一薄膜晶体管的栅极，将其中一列触控电极生成的触控信号传输到相应的第一薄膜晶体管的漏极；第二开关模块，其包括m个第二输入端，b个第二控制端和一个第二输出端，第二输入端与相应的第一薄膜晶体管的漏极连接，第二控制端与相应的第二控制信号源连接，第二输出端与触控信号采集端子连接，用于受第二控制信号源提供的第二控制信号的控制将其中一列触控电极生成的触控信号逐个输出至触控信号采集端子上；其中，n、m、a和b为正整数，n小于等于2^a，m小于等于2^(b+1)。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，电容耦合模块包括：恒压电源，用于提供恒压电平；扫描线输入信号源，用于提供扫描线输入信号；扫描线控制信号源，用于提供扫描线控制信号；以及，控制单元，用于接收扫描线输入信号，并受扫描线控制信号的控制输出扫描线输入信号；其中，恒压电源与数据线连接，扫描线输入信号源与控制单元的输入端连接，扫描线控制信号源与控制单元的控制端连接，控制单元的输出端与扫描线连接。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，控制单元包括多个第二薄膜晶体管，每个第二薄膜晶体管的栅极与扫描线控制信号源连接，每个第二薄膜晶体管的源极与扫描线输入信号源连接，每个第二薄膜晶体管的漏极与相应的扫描线连接。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，第一开关模块包括多个第三薄膜晶体管，每个第一薄膜晶体管的栅极与a个串联的第三薄膜晶体管连接。在本专利技术的内嵌式触控测试电路中，第二开关模块包括多个第四薄膜晶体管，每个第一薄膜晶体管的漏极与b个串联的第四薄膜晶体管连接。本专利技术的内嵌式触控测试电路通过电容耦合模块触发触控电极生成触控信号，并通过第一开关模块和第二开关模块逐个采集每个触控电极生成的触控信号，将采集到的触控信号进行对比，从而完成触摸屏的出品功能测试；解决了现有的触摸屏的触控功能需要等到绑定芯片和排线后再进行测试，使得触控不良的触摸屏在cell阶段不能筛选出来，进而造成芯片和排线等物料的浪费，降低生产效率的技术问题。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：附图说明下面结合附图，通过对本专利技术的具体实施方式详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果显而易见。图1为本专利技术的内嵌式触控测试电路的第一优选实施例的结构示意图；图2为本专利技术的内嵌式触控测试电路的第一优选实施例的电容耦合模块的电路原理图；图3为本专利技术的内嵌式触控测试电路的第一优选实施例的第一开关模块和第二开关模块的电路原理图；图4为本专利技术的内嵌式触控测试电路的第二优选实施例的结构示意图；图5为本专利技术的内嵌式触控测试电路的第二优选实施例的电容耦合模块的电路原理图；图6为本专利技术的内嵌式触控测试电路的第二优选实施例的第一开关模块和第二开关模块的电路原理图。具体实施方式为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果，以下结合本专利技术的优选实施例及其附图进行详细描述。需要说明的是，本专利技术的内嵌式触控测试电路的实施例以4*4的矩阵触控电极为例,本领域技术人员根据以下教导和启示可以类推出触摸屏的所有触控电极的电路连接关系。参阅图1，图1为本专利技术的内嵌式触控测试电路的第一优选实施例的结构示意图；本优选实施例的内嵌式触控测试电路，包括：阵列排布的触控电极，每个触控电极都与相应的第一薄膜本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种内嵌式触控测试电路，其特征在于，包括：阵列排布的触控电极，每个所述触控电极都与相应的第一薄膜晶体管的源极连接，其中，每一行有n个所述触控电极，每一列有m个所述触控电极；电容耦合模块，其与所述触控电极耦合连接，用于触发所述触控电极生成触控信号；第一开关模块，其包括一个第一输入端、a个第一控制端和n个第一输出端，所述第一控制端与相应的第一控制信号源连接，所述第一输入端与恒压高电平源连接，所述第一输出端与相应的所述第一薄膜晶体管的栅极连接，用于受所述第一控制信号源提供的第一控制信号的控制将恒压高电平源提供的恒压高电平传输至所述第一薄膜晶体管的栅极，将其中一列所述触控电极生成的所述触控信号传输到相应的所述第一薄膜晶体管的漏极；第二开关模块，其包括m个第二输入端，b个第二控制端和一个第二输出端，所述第二输入端与相应的所述第一薄膜晶体管的漏极连接，所述第二控制端与相应的第二控制信号源连接，所述第二输出端与触控信号采集端子连接，用于受所述第二控制信号源提供的第二控制信号的控制将其中一列所述触控电极生成的所述触控信号逐个输出至触控信号采集端子上；其中，n、m、a和b为正整数，n小于等于2^a，m小于等于2^b。...

【技术特征摘要】
1.一种内嵌式触控测试电路，其特征在于，包括：阵列排布的触控电极，每个所述触控电极都与相应的第一薄膜晶体管的源极连接，其中，每一行有n个所述触控电极，每一列有m个所述触控电极；电容耦合模块，其与所述触控电极耦合连接，用于触发所述触控电极生成触控信号；第一开关模块，其包括一个第一输入端、a个第一控制端和n个第一输出端，所述第一控制端与相应的第一控制信号源连接，所述第一输入端与恒压高电平源连接，所述第一输出端与相应的所述第一薄膜晶体管的栅极连接，用于受所述第一控制信号源提供的第一控制信号的控制将恒压高电平源提供的恒压高电平传输至所述第一薄膜晶体管的栅极，将其中一列所述触控电极生成的所述触控信号传输到相应的所述第一薄膜晶体管的漏极；第二开关模块，其包括m个第二输入端，b个第二控制端和一个第二输出端，所述第二输入端与相应的所述第一薄膜晶体管的漏极连接，所述第二控制端与相应的第二控制信号源连接，所述第二输出端与触控信号采集端子连接，用于受所述第二控制信号源提供的第二控制信号的控制将其中一列所述触控电极生成的所述触控信号逐个输出至触控信号采集端子上；其中，n、m、a和b为正整数，n小于等于2^a，m小于等于2^b。2.根据权利要求1所述的内嵌式触控测试电路，其特征在于，所述电容耦合模块包括：恒压电源，用于提供恒压电平；扫描线输入信号源，用于提供扫描线输入信号；扫描线控制信号源，用于提供扫描线控制信号；以及，控制单元，用于接收所述扫描线输入信号，并受所述扫描线控制信号的控制输出所述扫描线输入信号；其中，所述恒压电源与数据线连接，所述扫描线输入信号源与所述控制单元的输入端连接，所述扫描线控制信号源与所述控制单元的控制端连接，所述控制单元的输出端与扫描线连接。3.根据权利要求2所述的内嵌式触控测试电路，其特征在于，所述控制单元包括多个第二薄膜晶体管，每个所述第二薄膜晶体管的栅极与所述扫描线控制信号源连接，每个所述第二薄膜晶体管的源极与所述扫描线输入信号源连接，每个所述第二薄膜晶体管的漏极与相应的所述扫描线连接。4.根据权利要求1所述的内嵌式触控测试电路，其特征在于，所述第一开关模块包括多个第三薄膜晶体管，每个所述第一薄膜晶体管的栅极与a个串联的所述第三薄膜晶体管连接。5.根据权利要求1所述的内嵌式触控测试电路，其特征在于，所述第二开关模块包括多个第四薄膜晶体管，每个所述第一薄膜晶体管的漏极与b个串联的所述第四薄膜晶体管连接。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：黄耀立，贺兴龙，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42