一种干式空心电抗器低温性能检测方法技术

本发明专利技术公开了一种干式空心电抗器的低温性能检测方法，干式空心电抗器试品包括至少一个绕组包封，绕组包封包括：绕制的导线，在导线外部绕制的绝缘材料，以及在导线与绝缘材料之间布置的应力片。检测方法包括：建立用于对干式空心电抗器试品进行低温性能检测的连通回路，包括：调压器、试验变压器、高压开关、补偿电容器、干式空心电抗器试品以及低温试验箱，调压器与试验变压器相连，高压开关与试验变压器、补偿电容器以及干式空心电抗器试品组成检测回路，通过高压开关的闭合或断开控制检测回路的导通或截止。本发明专利技术采用新的干式空心电抗器进行低温性能试验，可实现在现场环境温度和运行状况相近条件下进行干式空心电抗器低温性能试验。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及检测领域，更具体地，涉及一种干式空心电抗器低温性能检测方法及系统。
技术介绍
电抗器在输变电
应用广泛，其中干式空心电抗器是电力系统中一种重要的无功补偿设备，现有技术生产干式空心电抗器，因其设计容量大，抗短路冲击性能优良，绝缘裕度高，现场维护简单等优点而得到迅速发展，现已涵盖10kV～66kV以及特高压交流工程用110kV电压等级系统，最大单台容量达40Mvar。干式空心电抗器投运时流过的电流很大，通常达到数百至一千多安培，为满足此运行条件，干式空心电抗器采用多个绝缘包封并联结构，每个包封由单丝绝缘绕包导线或绝缘换位绞线绕制空心线圈外部包绕绝缘材料后固化而成。多年对干式电抗器运行统计结果显示，在东北地区冬季干式电抗器的故障发生率较高，并且着火等恶性事故频繁发生。但这些故障电抗器均为出厂试验合格的产品，这表明现有的干式空心电抗器试验方法对其运行在低温下的性能考核存在不足。常规的干式空心电抗器的试验是在常温下进行，主要以电气性能考核为主，但以往研究表明，干式电抗器绝缘材料在低温下的电气性能与常温状态相比并无明显变化，可见仅靠常规试验是难以找出干式空心电抗器低温下故障率高的真实原因的，因此有必要在现有试验方法的基础上，针对干式电抗器的特点，提出低温条件下的机械性能的试验方法开展研究，对保证产品质量，提高低温环境下干式电抗器的运行可靠性具有重要意义。现有技术没有针对干式空心电抗器低温性能进行检测方面的研究。
技术实现思路
为了解决上述问题，本专利技术提供了一种方法，一种干式空心电抗器的低温性能检测方法，所述干式空心电抗器试品包括至少一个绕组包封，所述绕组包封包括：绕制的导线，在所述导线外部绕制的绝缘材料，以及在所述导线与所述绝缘材料之间布置的应力片，其中所述应力片用于测量所述包封内的应力变化，所述方法包括：建立用于对干式空心电抗器试品进行低温性能检测的连通回路，其中所述连通回路：调压器、试验变压器、高压开关、补偿电容器、干式空心电抗器试品以及低温试验箱，所述调压器与所述试验变压器相连，所述高压开关与所述试验变压器、所述补偿电容器以及所述干式空心电抗器试品组成检测回路，通过高压开关的闭合或断开控制所述检测回路的导通或截止；闭合所述高压开关，通过调整调压器来升高电压，使所述干式空心电抗器试品的电流达到进行低温性能检测所需的电流值；断开所述高压开关，开启并调整所述低温试验箱温度至进行低温性能检测所需的温度值，保持所述干式空心电抗器试品温度恒定；闭合所述高压开关，测量所述干式空心电抗器试品的绕组包封内应力片的变化；以及断开所述高压开关，所述调压器降压回零，并且关闭所述低温试验箱。优选地，其中所述干式空心电抗器试品与干式空心电抗器成品导线和绝缘材料相同。优选地，其中所述应力片在所述导线和所述绝缘材料之间均匀布置。优选地，其中所述干式空心电抗器试品的电流与干式空心电抗器成品电流一致。基于本专利技术的又一实施方式，本专利技术提供一种干式空心电抗器的低温性能检测系统，所述系统包括：干式空心电抗器试品以及干式空心电抗器试品的低温性能检测系统连通回路；所述干式空心电抗器试品包括：至少一个绕组包封，所述绕组包封包括：绕制的导线，在所述导线外部绕制的绝缘材料，以及在所述导线与所述绝缘材料之间布置的应力片，其中所述应力片用于测量所述包封内的应力变化；所述干式空心电抗器试品低温性能检测系统连通回路包括：调压器、试验变压器、高压开关、补偿电容器、干式空心电抗器试品以及低温试验箱，所述调压器与所述试验变压器相连，所述高压开关与所述试验变压器、所述补偿电容器以及所述干式空心电抗器试品组成检测回路，通过高压开关的闭合或断开控制所述检测回路的导通或截止；所述干式空心电抗器试品低温性能检测系统用于：闭合所述高压开关，通过调整调压器来升高电压，使所述干式空心电抗器试品的电流达到进行低温性能检测所需的电流值；断开所述高压开关，开启并调整所述低温试验箱温度至进行低温性能检测所需的温度值，保持所述干式空心电抗器试品温度恒定；闭合所述高压开关，测量所述干式空心电抗器试品的绕组包封内应力片的变化；以及断开所述高压开关，所述调压器降压回零，并且关闭所述低温试验箱。优选地，其中所述干式空心电抗器试品与干式空心电抗器成品导线和绝缘材料相同。优选地，其中所述应力片在所述导线和所述绝缘材料之间均匀布置。优选地，其中所述干式空心电抗器试品的电流与干式空心电抗器成品电流一致。本专利技术所提出的技术方案，采用新的干式空心电抗器进行低温性能试验，可实现在现场环境温度和运行状况相近条件下进行干式空心电抗器低温性能试验。专利技术设计一种干式空心电抗器试品，以解决现有干式空心电抗器体积大，无法进行整机的低温试验的问题。本专利技术的技术方案使用应力测试装置测量干式空心电抗器试品的低温机械特性，获取真实低温条件下的干式空心电抗器机械特性。附图说明通过参考下面的附图，可以更为完整地理解本专利技术的示例性实施方式：图1为根据本专利技术一实施方式的一种干式空心电抗器低温性能检测方法流程图；图2为根据本专利技术一实施方式的一种干式空心电抗器试品绕组包封结构图；以及图3为根据本专利技术一实施方式的一种干式空心电抗器低温性能检测系统结构。具体实施方式现在参考附图介绍本专利技术的示例性实施方式，然而，本专利技术可以用许多不同的形式来实施，并且不局限于此处描述的实施例，提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本专利技术，并且向所属
的技术人员充分传达本专利技术的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本专利技术的限定。在附图中，相同的单元/元件使用相同的附图标记。除非另有说明，此处使用的术语(包括科技术语)对所属
的技术人员具有通常的理解含义。另外，可以理解的是，以通常使用的词典限定的术语，应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义，而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。图1为根据本专利技术一实施方式的一种干式空心电抗器低温性能检测方法流程图100。根据本专利技术的实施方式，本专利技术设计一种干式空心电抗器试品，以解决现有干式空心电抗器成品体积大，无法进行整机的低温试验的问题。本专利技术提出的一种干式空心电抗器低温性能试验方法，使用应力测试装置测量干式空心电抗器试品的低温机械特性，获取真实低温条件下的干式空心电抗器机械特性。优选地，方法100包括，获取的干式空心电抗器试品包括至少一个绕组包封，绕组包封包括：绕制的导线，在导线外部绕制的绝缘材料，以及在导线与绝缘材料之间布置的应力片，其中应力片用于测量包封内的应力变化，方法包括：建立用于对干式空心电抗器试品进行低温性能检测的连通回路，其中连通回路：调压器、试验变压器、高压开关、补偿电容器、干式空心电抗器试品以及低温试验箱，调压器与试验变压器相连，高压开关与试验变压器、补偿电容器以及干式空心电抗器试品组成检测回路，通过高压开关的闭合或断开控制检测回路的导通或截止。进行干式空心电抗器试品低温性能检测时，将应力片测量线接入应力测量装置，将干式空心电抗器试品放置于低温试验箱内。闭合高压开关，通过调整调压器来升高电压，使干式空心电抗器试品的电流达到进行低温性能检测所需的电流值。断开高压开关，开启并调整低温试验箱温度至进行低温性能检测所需的温度值，保持干式空心电抗器试品温度恒定。闭合本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种干式空心电抗器的低温性能检测方法，所述干式空心电抗器试品包括至少一个绕组包封，所述绕组包封包括：绕制的导线，在所述导线外部绕制的绝缘材料，以及在所述导线与所述绝缘材料之间布置的应力片，其中所述应力片用于测量所述包封内的应力变化，所述方法包括：建立用于对干式空心电抗器试品进行低温性能检测的连通回路，其中所述连通回路：调压器、试验变压器、高压开关、补偿电容器、干式空心电抗器试品以及低温试验箱，所述调压器与所述试验变压器相连，所述高压开关与所述试验变压器、所述补偿电容器以及所述干式空心电抗器试品组成检测回路，通过高压开关的闭合或断开控制所述检测回路的导通或截止；闭合所述高压开关，通过调整调压器来升高电压，使所述干式空心电抗器试品的电流达到进行低温性能检测所需的电流值；断开所述高压开关，开启并调整所述低温试验箱温度至进行低温性能检测所需的温度值，保持所述干式空心电抗器试品温度恒定；闭合所述高压开关，测量所述干式空心电抗器试品的绕组包封内应力片的变化；以及断开所述高压开关，所述调压器降压回零，并且关闭所述低温试验箱。

【技术特征摘要】
1.一种干式空心电抗器的低温性能检测方法，所述干式空心电抗器试品包括至少一个绕组包封，所述绕组包封包括：绕制的导线，在所述导线外部绕制的绝缘材料，以及在所述导线与所述绝缘材料之间布置的应力片，其中所述应力片用于测量所述包封内的应力变化，所述方法包括：建立用于对干式空心电抗器试品进行低温性能检测的连通回路，其中所述连通回路：调压器、试验变压器、高压开关、补偿电容器、干式空心电抗器试品以及低温试验箱，所述调压器与所述试验变压器相连，所述高压开关与所述试验变压器、所述补偿电容器以及所述干式空心电抗器试品组成检测回路，通过高压开关的闭合或断开控制所述检测回路的导通或截止；闭合所述高压开关，通过调整调压器来升高电压，使所述干式空心电抗器试品的电流达到进行低温性能检测所需的电流值；断开所述高压开关，开启并调整所述低温试验箱温度至进行低温性能检测所需的温度值，保持所述干式空心电抗器试品温度恒定；闭合所述高压开关，测量所述干式空心电抗器试品的绕组包封内应力片的变化；以及断开所述高压开关，所述调压器降压回零，并且关闭所述低温试验箱。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述干式空心电抗器试品与干式空心电抗器成品导线和绝缘材料相同。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述应力片在所述导线和所述绝缘材料之间均匀布置。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述干式空心电抗器试品的电流与干式空心电抗器成品电流一致。5.一种干式空心电抗器的低温性能检测系统，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：林浩，倪学锋，姜胜宝，国江，张月华，郝文光，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院，国家电网公司，北京电力设备总厂有限公司，国网河北省电力公司经济技术研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11