一种轴类检测工具的灵敏度校准平台制造技术

本实用新型专利技术提供了一种轴类检测工具的灵敏度校准平台，用于承载被检测的试块，包括支架和横向设置在支架上的圆筒，圆筒与支架铰接，圆筒外壁上设有至少一个能容纳试块的容置部，容置部的深度等于试块的厚度，圆筒的外壁与试块的外表面具有相同的曲率。本实用新型专利技术通过将试块设置在能转动的圆筒上，可以将轴类检测工具的扫查装置装卡于圆筒上方，并转动圆筒使圆筒的各个位置分别与安装于扫查装置上的探头相对，从而使探头能对圆筒进行全面的扫查，使用时不需要工作人员手持探头，降低人为因素对探头灵敏度校准的影响，同时使用时也不需要将探头移动至圆筒的各个方向，减少轴类检测工具在移动至圆筒的不同位置时重力因素对探头灵敏度校准的不良影响。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及轴类检测辅助装置，尤其是指一种轴类检测工具的灵敏度校准平台。
技术介绍
在许多领域中应用到的轴类工件在加工完成后都需要采用轴类检测工具对轴类工件进行超声波检测。现有的轴类检测工具包括扫查装置和探头，其中扫查装置为通用仪器，而探头则是根据不同的轴类工件的工况选用对应的探头，并将选定的探头安装于扫查装置上，来对轴类工件进行扫查检测。通常在对轴类工件进行超声波检测之前，都需要对轴类检测工具进行灵敏度校准，通过校准设定使轴类检测工具达到检测要求的灵敏度。目前，轴类检测工具的灵敏度校准通常是将试块放置在工作台上，工作人员手持探头在试块上移动扫查，来检测探头的灵敏度并进行灵敏度的校准。但是，在手持探头进行标定灵敏度的过程中，由于手持探头进行扫查时对探头施加的压力与扫查装置扫查过程中对探头施加的压力会有偏差，而压力不同则耦合状况不同，导致灵敏度会有所变化；另外扫查装置在轴类工件的正上方、侧面、正下方等位置时由于自身重力的影响导致对轴类工件施加的压力也有所不同，如果仅仅是使用手动的方法进行灵敏度校准，那么在使用扫查装置时，实际检测灵敏度会有较大的起伏。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种能降低人为因素及轴类检测工具本身的重力对探头的灵敏度校准造成影响的轴类检测工具的灵敏度校准平台。为达到上述目的，本技术提供了一种轴类检测工具的灵敏度校准平台，用于承载被检测的试块，其特征在于，所述轴类检测工具的灵敏度校准平台包括支架和横向设置在所述支架上的圆筒，所述圆筒与所述支架铰接，所述圆筒的外壁上设有至少一个能容纳所述试块的容置部，所述容置部的深度等于所述试块的厚度，所述圆筒的外壁与所述试块的外表面具有相同的曲率。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述支架包括横向设置的呈矩形的底部框架和分别从所述底部框架的两端向上延伸设置的两纵向框架，所述圆筒安装于两所述纵向框架之间，所述圆筒的两端分别与两所述纵向框架转动连接。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述底部框架由两根相互平行的侧边横杆和与两根所述侧边横杆垂直的两根端部横杆围合而成，所述纵向框架包括两纵杆及一顶部横杆，每个所述纵向框架中，两所述纵杆的下端分别连接于对应的所述端部横杆的两端，且两所述纵杆的上端通过所述顶部横杆连接，每个所述纵向框架的两所述纵杆之间的距离由下至上逐渐变小。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述圆筒的两端与对应的所述纵向框架之间均通过圆筒端头连接，所述圆筒端头包括能拆装的连接于所述圆筒的端部的圆盘部、以及由所述圆盘部的圆心处朝向对应的所述纵向框架延伸形成的连接轴，所述圆筒通过两所述连接轴与两所述纵向框架转动连接。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，两所述顶部横杆上设有能分别拆装的轴承座，两所述轴承座分别位于对应的所述顶部横杆的中央，且两所述轴承座的轴线与所述圆筒的轴线以及两所述连接轴的轴线重合，两所述连接轴能转动的插入对应的所述轴承座中，并且两所述连接轴上均旋接有能阻止所述圆筒转动的紧固螺母。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，两所述顶部横杆上分别设有供对应的所述连接轴贯穿的通孔，两所述通孔分别位于对应的所述顶部横杆的两端中间，且两所述通孔的轴线与所述圆筒的轴线以及两所述连接轴的轴线重合，两所述连接轴能转动的插入对应的所述通孔中，并且两所述连接轴上均旋接有能阻止所述圆筒转动的紧固螺母。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述底部框架的下方能拆装的设有多个滚轮，多个所述滚轮均匀分布在所述底部框架的下方。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述滚轮上设有能阻止所述滚轮转动的定位结构。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述试块通过螺钉能拆装的固定在所述圆筒上。如上所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其中，所述试块上凹设有模拟缺陷结构，所述模拟缺陷结构呈圆孔状、条形状或环形状。与现有技术相比，本技术的优点如下：本技术通过将试块设置在能转动的圆筒上，可以将轴类检测工具的扫查装置装卡于圆筒的上方，并转动圆筒使圆筒的各个位置分别与安装于扫查装置上的探头相对，从而使探头能对圆筒进行全面的扫查，并根据探头反馈的缺陷信号回波的变化量对探头进行灵敏度校准；使用过程中不需要工作人员手持探头，降低了人为因素对探头灵敏度校准的影响，同时使用过程中也不需要将探头移动至圆筒的各个方向，减少了轴类检测工具在移动至圆筒的不同位置时重力因素对探头灵敏度校准的不良影响。附图说明以下附图仅旨在于对本技术做示意性说明和解释，并不限定本技术的范围。其中：图1是本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台的立体结构示意图；图2A是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第一种试块的立体结构示意图；图2B是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第一种试块的主视图；图2C是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第一种试块的侧视图；图2D是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第一种试块的仰视图；图3A是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第二种试块的立体结构示意图；图3B是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第二种试块的主视图；图3C是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第二种试块的侧视图；图3D是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第一种试块的仰视图；图4A是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第三种试块的立体结构示意图；图4B是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第三种试块的主视图；图4C是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第三种试块的侧视图；图4D是安装于本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台上的第三种试块的俯视图；图5是本技术轴类检测工具的灵敏度校准平台的使用状态示意图。附图标号说明：1支架11底部框架111侧边横杆112端部横杆12纵向框架121纵杆122顶部横杆1221轴承座1222紧固螺母13滚轮2圆筒21圆筒端头211圆盘部212连接轴3试块31模拟缺陷结构4轴类本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种轴类检测工具的灵敏度校准平台，用于承载被检测的试块，其特征在于，所述轴类检测工具的灵敏度校准平台包括支架和横向设置在所述支架上的圆筒，所述圆筒与所述支架铰接，所述圆筒的外壁上设有至少一个能容纳所述试块的容置部，所述容置部的深度等于所述试块的厚度，所述圆筒的外壁与所述试块的外表面具有相同的曲率。

【技术特征摘要】
1.一种轴类检测工具的灵敏度校准平台，用于承载被检测的试块，其特征在于，
所述轴类检测工具的灵敏度校准平台包括支架和横向设置在所述支架上的圆筒，所述
圆筒与所述支架铰接，所述圆筒的外壁上设有至少一个能容纳所述试块的容置部，所
述容置部的深度等于所述试块的厚度，所述圆筒的外壁与所述试块的外表面具有相同
的曲率。
2.根据权利要求1所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其特征在于，所述
支架包括横向设置的呈矩形的底部框架和分别从所述底部框架的两端向上延伸设置
的两纵向框架，所述圆筒安装于两所述纵向框架之间，所述圆筒的两端分别与两所述
纵向框架转动连接。
3.根据权利要求2所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其特征在于，所述
底部框架由两根相互平行的侧边横杆和与两根所述侧边横杆垂直的两根端部横杆围
合而成，所述纵向框架包括两纵杆及一顶部横杆，每个所述纵向框架中，两所述纵杆
的下端分别连接于对应的所述端部横杆的两端，且两所述纵杆的上端通过所述顶部横
杆连接，每个所述纵向框架的两所述纵杆之间的距离由下至上逐渐变小。
4.根据权利要求3所述的轴类检测工具的灵敏度校准平台，其特征在于，所述
圆筒的两端与对应的所述纵向框架之间均通过圆筒端头连接，所述圆筒端头包括能拆
装的连接于所述圆筒的端部的圆盘部、以及由所述圆盘部的圆心处朝向对应的所述纵
向框架延伸形成的连接轴，所述圆筒通过两所述连接轴与两所述纵向框架转动连接。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：季昌国，刘建屏，王佳宇，崔孟，纪建军，边晋发，程云强，马延会，相怡，郭德瑞，刘永超，韩腾，王春水，
申请(专利权)人：华北电力科学研究院有限责任公司，国家电网公司，山西大唐国际新能源有限公司，华正清圆天津科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11