采用单高压源的高压参数测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种采用单高压源的高压参数测试装置，包括上位机，高压源和m个低压源m≥2；上位机分别与高压源和各个低压源电连接，高压源分别与m个被测器件电连接；本实用新型专利技术具有可实现高压参数的多工位并行测试，提高了测试效率，降低了设备成本，减少了高压干扰，降低了设备故障率，提高了生产效率的特点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及分立器件测试
，尤其是指一种可实现高压参数并行测试，测试效率高、稳定性好、故障率低的采用单高压源的高压参数测试装置。
技术介绍
目前分立器件测试领域，高压参数的测试主要包括耐压参数测试和高压漏电参数测试两类。市场上的分立器件测试机，大多只支持单工位测试，配备一套高压模块和一套低压模块，测试效率低下，已难以满足分立器件测试领域对高速测试的需求。支持多工位并行测试的分立器件测试机，模块组成大多为将单工位测试机的模块数量翻倍，如需实现4工位并测，则需配备4套高压模块和4套低压大电流模块，由于高压模块的数量增多，模块相互之间的高压干扰，导致高压参数测试不稳定，同时增高了测试机故障率，降低了实际生产中的测试效率。基于以上现状，目前分立器件测试领域急需一种用单高压模块实现高压参数多工位并行测试的测试解决方案。中国专利授权公开号：CN202025077U，授权公开日2011年11月2日，公开了一种三相电能表耐压测试装置，包括设有耐压测试控制模块的计算机、用于输出高电压的程控耐压仪、与电能表连接用于控制电能表高压输入的高压继电器板、用于对漏电流自动测试并控制高压继电器板高压输出的漏电流测试单元；所述的程控耐压仪与漏电流测试单元相连以进行高压输出和测试；计算机与程控耐压仪通讯连接以控制程控耐压仪的输出；计算机与漏电流测试单元通讯连接以控制漏电流测试单元并读取测试结果；漏电流测试单元与高压继电器板连接以将高压通过高压继电器控制输出给被测电能表。该专利技术的不足之处是，功能单一，不能用于对分立器件进行耐压测试。专利
技术实现思路
本技术的专利技术目的是为了克服现有技术中的分立器件测试机，单工位测试效率低下；多工位测试不稳定的不足，提供了一种可实现高压参数并行测试，测试效率高、稳定性好、故障率低的采用单高压源的高压参数测试装置。为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种采用单高压源的高压参数检测装置，包括上位机，高压源和m个低压源，m≥2；上位机分别与高压源和各个低压源电连接，高压源分别与m个被测器件电连接；每个低压源均包块数模转换电路、积分电路、功放电路、测量电路、钳位电路和模数转换电路；数模转换电路、积分电路、功放电路、测量电路和模数转换电路依次电连接，钳位电路分别与测量电路和积分电路电连接，测量电路与积分电路电连接；m个低压源的功放电路的输出端分别与m个被测器件电连接。上位机负责控制高压源及各个低压源的输出方式和具体输出值，并对高压源及各个低压源检测到的参数值进行分析判断；高压源模块为电流电压源，输出能力为±1000V/50mA，受上位机控制，既可用来产生指定电压，同时测试输出电流，也可产生指定电流，同时测试输出电压，并具备电压电流输出的钳位功能；各个低压源为电流电压源，输出能力为±50V/10A，其它功能与高压源相同；对于耐压参数测试，上位机控制高压源选择加压测压模式，各个低压源选择加流测压模式，高压源在加压测压模式下，输出测试电压VH；各个低压源在加流测压模式下，分别输出测试电流I，各个低压源模块在加流测压模式下，分别测得被测电压V1、V2、V3、Vm，上位机对V1、V2、V3、Vm分别进行处理，得到被测器件的耐压值VH-V1、VH-V2、VH-V3、VH-Vm。对于高压漏电参数测试，上位机控制高压源选择加压测压模式，各个低压源选择加压测流模式，高压源在加压测压模式下，输出测试电压VH；四个低压源在加压测流模式下，分别输出0V电压，各个低压源在加压测流模式下，分别测得被测电流I1、I2、I3、Im，上位机中设有漏电流阈值，上位机将I1、I2、I3、Im与漏电流阈值进行比较，当I1、I2、I3、Im中任意一个或多个Ii大于漏电流阈值，则上位机做出Ii对应的被测器件高压漏电参数不合格的判断。因此，本技术具有可实现高压参数的多工位并行测试，提高了测试效率，降低了设备成本，减少了高压干扰，降低了设备故障率，提高了生产效率的特点。作为优选，所述积分电路包括放大器U1，电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R5和电阻R6，电容C2；电阻R1、电阻R2、电阻R3一端均与放大器U1的反相输入端电连接，电阻R1、电阻R2、电阻R3另一端均与数模转换电路的输出端电连接；电阻R5一端与放大器U1的同相输入端电连接，电阻R5另一端接地，电阻R6一端与放大器U1的输出端电连接，电阻R6另一端与功放电路的输入端电连接，电容C2两端分别与放大器U1的反相输入端和输出端电连接。作为优选，所述积分电路还包括电阻R4和电容C1，电阻R4一端与放大器U1的反相输入端电连接，电阻R4另一端与电容C1一端电连接，电容C1另一端与放大器U1的输出端电连接。作为优选，所述功放电路包括三极管Q1、三极管Q2、三极管Q3、三极管Q4、三极管Q5、三极管Q6和采样电阻R17；三极管Q1和三极管Q5的基极均与积分电路的输出端电连接，三极管Q1的集电极与三极管Q2的基极电连接，三极管Q2的集电极与三极管Q3的基极电连接；三极管Q5的集电极与三极管Q4的基极电连接，三极管Q4的集电极与三极管Q6的基极电连接；三极管Q3和三极管Q6的发射极均与采样电阻R7一端电连接，采样电阻R7另一端与测量电路的输入端电连接。作为优选，所述采样电阻R7两端分别与测量电路电连接。作为优选，上位机的偏执电压输出端、测量电路的反馈信号输出端和钳位电路的钳位反馈信号输出端均与积分电路的输入端电连接。因此，本技术具有如下有益效果：可实现高压参数的多工位并行测试，提高了测试效率，降低了设备成本，减少了高压干扰，降低了设备故障率，提高了生产效率。附图说明图1是本技术的一种原理框图；图2是本技术的低压源的一种原理框图；图3是本技术的积分电路的一种电路图；图4是本技术的功放电路的一种电路图。图中：上位机1、高压源2、低压源3、被测器件4、数模转换电路31、积分电路33、功放电路34、测量电路35、钳位电路36、模数转换电路32。具体实施方式下面结合附图和具体实施方式对本技术做进一步的描述。如图1所示的实施例是一种采用单高压源的高压参数检测装置，包括上位机1，高压源2和4个低压源3；上位机分别与高压源和各个低压源电连接，高压源分别与4个被测器件4电连接；如图2所示，每个低压源均包块数模转换电路31、积分电路33、功放电路34、测量电路35、钳位电路36和模数转换电路32；数模转换电路、积分电路、功放电路、测量电路和模数转换电路依次电连接，钳位电路分别与测量电路和积分电路电连接，测量电路与积分电路电连接；4个低压源的功放电路的输出端Output分别与4个被测器件电连接。如图3所示，积分电路包括放大器U1，电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R5和电阻R6，电容C2；电阻R1、电阻R2、电阻R3一端均与放大器U1的反相输入端电连接，电阻R1、电阻R2、电阻R3另一端均与数模转换本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种采用单高压源的高压参数测试装置，其特征是，包括上位机(1)，高压源(2)和m个低压源(3)，m≥2；上位机分别与高压源和各个低压源电连接，高压源分别与m个被测器件电连接；每个低压源均包块数模转换电路(31)、积分电路(33)、功放电路(34)、测量电路(35)、钳位电路(36)和模数转换电路(32)；数模转换电路、积分电路、功放电路、测量电路和模数转换电路依次电连接，钳位电路分别与测量电路和积分电路电连接，测量电路与积分电路电连接；m个低压源的功放电路的输出端分别与m个被测器件电连接。

【技术特征摘要】
1.一种采用单高压源的高压参数测试装置，其特征是，包括上位机(1)，高压源(2)和m个低压源(3)，m≥2；上位机分别与高压源和各个低压源电连接，高压源分别与m个被测器件电连接；
每个低压源均包块数模转换电路(31)、积分电路(33)、功放电路(34)、测量电路(35)、钳位电路(36)和模数转换电路(32)；数模转换电路、积分电路、功放电路、测量电路和模数转换电路依次电连接，钳位电路分别与测量电路和积分电路电连接，测量电路与积分电路电连接；m个低压源的功放电路的输出端分别与m个被测器件电连接。
2.根据权利要求1所述的采用单高压源的高压参数测试装置，其特征是，所述积分电路包括放大器U1，电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R5和电阻R6，电容C2；
电阻R1、电阻R2、电阻R3一端均与放大器U1的反相输入端电连接，电阻R1、电阻R2、电阻R3另一端均与数模转换电路的输出端电连接；电阻R5一端与放大器U1的同相输入端电连接，电阻R5另一端接地，电阻R6一端与放大器U1的输出端电连接，电阻R6另一端与功放电路的输入端电连接，电容C2两端分别与放大器U1的反相输入端和输出端电连接。
3.根据权利要求2所述的采用单高...

【专利技术属性】
技术研发人员：林艳华，钟锋浩，高亮，孙海洋，赵轶，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33