一种跌落测试方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种跌落测试方法及装置。该方法包括：将应变片黏贴于待测试物上，并将所述黏贴了所述应变片的待测试物置放于承载物中，确定所述承载物的跌落高度；确定至少一种跌落状态；针对于每一种所述跌落状态，均执行采集置放了所述待测试物的所述承载物以所述跌落状态从所述跌落高度跌落至冲击平面时，所述应变片的参数变化值；根据所述参数变化值确定应变值；根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定所述待测试物是否存在风险。本发明专利技术提供的方案可以预先判断服务器产品在运输过程中是否存在损伤的风险。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试
，特别涉及一种跌落测试方法及装置。
技术介绍
服务器产品作为提供数据计算和存储的设备被广泛的应用在各个企业中，而固态硬盘作为服务器产品中重要的存储部件，直接影响着服务器数据计算和存储的性能。目前，当服务器产品生成完毕后，直接就包装运输到各个企业进行应用。但是在服务器产品的运输过程中会存在服务器产品从不同高度跌落的风险，一旦服务器产品跌落，可能会造成固态硬盘的损伤。当固态硬盘损伤后将直接影响着服务器数据计算和存储的性能。可见，现有的方式，在服务器产品运输前并未对服务器产品进行跌落测试，因此，无法预先判断服务器产品在运输过程中是否存在风险。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种跌落测试方法及装置，可以预先判断服务器产品在运输过程中是否存在损伤的风险。第一方面，本专利技术实施例提供了一种跌落测试方法，该方法可以包括：将应变片黏贴于待测试物上，并将所述黏贴了所述应变片的待测试物置放于承载物中；确定所述承载物的跌落高度；确定至少一种跌落状态；针对于每一种所述跌落状态，均执行A1至A2：A1：采集置放了所述待测试物的所述承载物以所述跌落状态从所述跌落高度跌落至参考平面时，所述应变片的参数变化值；A2：根据所述参数变化值确定应变值；根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定所述待测试物是否存在风险。优选地，所述确定所述承载物的跌落高度，包括：确定置放了所述待测试物的承载物的重量参数；根据所述重量参数确定跌落高度。优选地，还包括：预先设置高度选取表格；其中，所述高度选取表格存储有至少一个重量参数与至少一个跌落高度之间的对应关系；所述根据所述重量参数确定跌落高度，包括：根据所述重量参数查询所述高度选取表格，以确定对应所述重量参数的跌落高度。优选地，所述参数变化值，包括：电阻变化值；所述根据所述参数变化值确定应变值，包括：根据下述公式(1)，根据所述电阻变化值确定所述应变值；ϵ=ΔRkR---(1)]]>其中，所述ε表征所述应变值；所述ΔR表征所述应变片伸长或压缩所引起的电阻变化值；所述R表征所述应变片原电阻值；所述k表征应变常数。优选地，根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定所述待测试物是否存在风险，包括：当存在至少一种所述跌落状态对应的所述应变值达到预先设定的阈值时，则确定所述待测试物存在风险。第二方面，本专利技术实施例提供了一种跌落测试装置，该装置包括：第一确定单元、第二确定单元、应变片、处理单元和风险确定单元；其中，所述应变片，用于黏贴于待测试物上；所述第一确定单元，用于确定承载物的跌落高度，其中，黏贴了所述应变片的待测试物置放在所述承载物中；所述第二确定单元，用于确定至少一种跌落状态；所述处理单元，用于针对于所述第一确定单元确定的每一种所述跌落状态，采集所述承载物以所述第二确定单元确定的所述跌落状态从所述跌落高度跌落至参考平面时，所述应变片的参数变化值；根据所述参数变化值确定应变值；所述风险确定单元，用于根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定所述待测试物是否存在风险。优选地，所述第一确定单元，用于确定置放了所述待测试物的承载物的重量参数；根据所述重量参数确定跌落高度。优选地，还包括：设定单元；其中，所述设定单元，用于预先设置高度选取表格；其中，所述高度选取表格存储有至少一个重量参数与至少一个跌落高度之间的对应关系；所述第一确定单元，，用于根据所述重量参数查询所述高度选取表格，以确定对应所述重量参数的跌落高度。优选地，所述参数变化值，包括：电阻变化值；所述处理单元，用于根据下述公式(1)，根据所述电阻变化值确定所述应变值；ϵ=ΔRkR---(1)]]>其中，所述ε表征所述应变值；所述ΔR表征所述应变片伸长或压缩所引起的电阻变化值；所述R表征所述应变片原电阻值；所述k表征应变常数。优选地，所述风险确定单元，用于当存在至少一种所述跌落状态对应的所述应变值达到预先设定的阈值时，则确定所述待测试物存在风险。可见，本专利技术实施例提供了一种跌落测试方法及装置，通过将应变片黏贴于待测试物上，并将黏贴了应变片的待测试物置放于承载物中，确定置放了待测试物的承载物的跌落高度和至少一种跌落状态。针对于每一种跌落状态，均执行采集置放了待测试物的承载物以确定的跌落状态从确定的跌落高度跌落至冲击平面时，应变片的参数变化值，根据参数变化值确定应变值。根据每一种跌落状态分别对应的应变值，确定待测试物是否存在风险。通过上述过程可知，本方案可以根据置放了待测试物的承载物以确定的跌落状态从确定的跌落高度跌落至冲击平面时，应变片的参数变化值确定应变值，根据应变值的大小来确定待测试物是否存在风险。根据确定的风险，改变承载物的包装方式或改变待测试物与承载物间的固定方式，从而降低风险。因此，本专利技术提供的方案可以预先判断服务器产品在运输过程中是否存在损伤的风险。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术一个实施例提供的一种跌落测试方法的流程图；图2是本专利技术另一个实施例提供的一种跌落测试方法的流程图；图3是本专利技术一个实施例提供的高度选取表格；图4是本专利技术一个实施例提供的置放了服务器的包装盒各种跌落状态对应的应变值表格；图5是本专利技术一个实施例提供的置放了服务器的包装盒底面跌落状态对应的应变值波形图；图6是本专利技术一个实施例提供的一种跌落测试装置的示意图；图7是本专利技术另一个实施例提供的一种跌落测试装置的示意图。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，本专利技术实施例提供了一种跌落测试方法，该方法可以包括以下步骤：步骤101：将应变片黏贴于待测试物上，并将所述黏贴了所述应变片的待测试物置放于承载物中；步骤102：确定所述承载物的跌落高度；步骤103：确定至少一种跌落状态；步骤104：依次从每一个跌落状态中，选择一个跌落状态；步骤105：采集置放了所述待测试物的所述承载物以所述跌落状态从所述跌落高度跌落至参考平面时，所述应变片的参数变化值；步骤106：根据所述参数变化值确定应变值；步骤107：根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定所述待测试物是否存在风险；步骤108，判断选择的所述跌落状态是否为最后一个跌落状态，如果是，则结束当前流程；否则，执行步骤104。根据图1所示的实施例，通过将应变片黏贴于待测试物上，并将黏贴了应变片的待测试物置放于承载物中，确定置放了待测试物的承载物的跌落高度和至少一种跌落状态。针对于每一种跌落状态，均执行采集置放了待测试物的承载物以确定的跌落状态从确定的跌落高度跌落至冲击平面时，应变片的参数变化值，根据参数变化值确定应变值。根据每一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种跌落测试方法，其特征在于，将应变片黏贴于待测试物上，并将所述黏贴了所述应变片的待测试物置放于承载物中，还包括：确定所述承载物的跌落高度；确定至少一种跌落状态；针对于每一种所述跌落状态，均执行A1至A2：A1：采集置放了所述待测试物的所述承载物以所述跌落状态从所述跌落高度跌落至参考平面时，所述应变片的参数变化值；A2：根据所述参数变化值确定应变值；根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定所述待测试物是否存在风险。

【技术特征摘要】
1.一种跌落测试方法，其特征在于，将应变片黏贴于待测试物上，并将所述黏贴了所述应变片的待测试物置放于承载物中，还包括：确定所述承载物的跌落高度；确定至少一种跌落状态；针对于每一种所述跌落状态，均执行A1至A2：A1：采集置放了所述待测试物的所述承载物以所述跌落状态从所述跌落高度跌落至参考平面时，所述应变片的参数变化值；A2：根据所述参数变化值确定应变值；根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定所述待测试物是否存在风险。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述承载物的跌落高度，包括：确定置放了所述待测试物的承载物的重量参数；根据所述重量参数确定跌落高度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：预先设置高度选取表格；其中，所述高度选取表格存储有至少一个重量参数与至少一个跌落高度之间的对应关系；所述根据所述重量参数确定跌落高度，包括：根据所述重量参数查询所述高度选取表格，以确定对应所述重量参数的跌落高度。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述参数变化值，包括：电阻变化值；所述根据所述参数变化值确定应变值，包括：根据下述第一公式，根据所述电阻变化值确定所述应变值；所述第一公式包括：ϵ=ΔRkR]]>其中，所述ε表征所述应变值；所述ΔR表征所述应变片伸长或压缩所引起的电阻变化值；所述R表征所述应变片原电阻值；所述k表征应变常数。5.根据权利要求1至4中任一所述的方法，其特征在于，根据每一种所述跌落状态分别对应的所述应变值，确定是否存在风险，包括：当存在至少一种所述跌落状态对应的所述应变值达到预先设定的阈值时，则确定所述待测试物存在风险。6.一种跌落测试装置，其特征在于，包...

【专利技术属性】
技术研发人员：李彬，
申请(专利权)人：郑州云海信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：河南;41