一种天馈线测试和频谱分析装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种天馈线测试和频谱分析装置。该装置包括：射频信号源，用于提供射频信号；分支器，分支器的第一端与射频信号源连接，分支器的第二端与定向耦合器的第二端连接；射频衰减器，与分支器的分支端连接；定向耦合器，定向耦合器的第二端与分支器的第二端连接，定向耦合器的第一端与待测试终端相连；混频电路，与射频衰减器和定向耦合器的耦合端连接；信号处理模块，与所述混频电路连接。本发明专利技术的技术方案同时支持天馈线测试和频谱分析功能，解决了用户若同时需要天馈线测试和频谱分析两个功能需要购买两个相应模块的问题，实现了天馈线测试和频谱分析的一体化，极大的降低了成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及无线通信网络技术，尤其涉及一种天馈线测试和频谱分析装置。
技术介绍
随着科学技术的不断提高，无线通信网络技术快速发展。无线网络的建设、升级及维护是无线网络工程中的重点，无线传输网络的质量保障是重中之重。天馈线测试仪和频谱分析仪是无线网络维护中常用的仪表。射频网络的发射和接收信号都是通过天馈线系统来完成，天馈线系统的安装质量和运行情况的好坏将直接影响到射频信号的质量、覆盖范围和发射机的工作状态，天馈线测试仪能够测试基站天线和馈线的驻波比、回波损耗和长距离故障定位等，快速评估传输线和天线系统的状况。频谱仪可用于射频和微波信号的频域分析，包括测量信号的功率，频率等，能够测试不同频段的射频信号和微波信号的信号特征。目前，天馈线测试仪和频谱测试仪可以采用模块的形式集成在一块仪表上供用户使用。然而，通过模块的形式集成在一块仪表上，导致如果用户需要仪表同时支持天馈线测试和频谱测试两个功能，则需要同时购买两个相应的模块，价格昂贵，成本较高。
技术实现思路
本专利技术提供一种天馈线测试和频谱分析装置，以实现同时支持天馈线测试和频谱分析功能，降低成本。本专利技术实施例提供了一种天馈线测试和频谱分析装置，该装置包括：射频信号源，用于提供射频信号；分支器，所述分支器的第一端与所述射频信号源连接，所述分支器的第二端与定向耦合器的第二端连接；所述分支器用于在天馈线测试模式下将所述分支器的第一端获取的射频信号进行分支，分别从所述分支器的分支端和所述分支器的第二端输出，且用于在频谱分析模式下从所述分支器的第二端获取待测试信号进行分支，从所述分支器的分支端输出；射频衰减器，与所述分支器的分支端连接，用于将所述分支信号进行衰减；定向耦合器，所述定向耦合器的第二端与所述分支器的第二端连接，所述定向耦合器的第一端与待测试终端相连；所述定向耦合器用于在天馈线测试模式下将所述定向耦合器的第二端获取的信号输出给待测试终端，并从所述待测试终端获取反射信号，进行耦合衰减后从所述定向耦合器的耦合端输出反射耦合信号，且所述定向耦合器还用于在频谱分析模式下从所述定向耦合器的第一端获取待测试信号从第二端输出给所述分支器；混频电路，与所述射频衰减器和所述定向耦合器的耦合端连接，用于在天馈线测试模式下将所述射频衰减器的输出信号和所述反射耦合信号与本振信号混频，输出混频信号，且用于在频谱分析模式下将射频衰减器的输出信号与本振信号混频，输出混频信号；信号处理模块，与所述混频电路连接，用于对所述混频信号进行处理分析得到测试指标数据。上述方案中，可选的是，还包括：信号切换电路，与所述混频电路连接，用于在天馈线测试模式下切换地与射频衰减器和定向耦合器的耦合端连接，且用于在频谱分析模式下与所述射频衰减器连接。上述方案中，可选的是，还包括：射频开关电路，与所述射频信号源连接，用于在天馈线测试模式下接通与所述射频信号源的连接，且在频谱分析模式下断开与所述射频信号源的连接。上述方案中，可选的是，所述混频电路包括：第一混频器，与所述射频衰减器和所述定向耦合器的耦合端连接，用于将所述射频衰减器的输出信号或所述反射耦合信号，与第一本振的信号混频输出第一混频信号；第一滤波电路，与所述第一混频器连接，用于对所述第一混频信号进行设定带宽的滤波；第一增益调整电路，与所述第一滤波电路连接，用于调整所述第一滤波电路输出信号的信号幅度；第二混频器，与所述第一增益调整电路连接，用于将所述第一增益调整电路的输出信号与第二本振的信号混频输出第二混频信号；第二滤波电路，与所述第二混频器连接，用于对所述第二混频信号进行设定带宽的滤波；第二增益调整电路，与所述第二滤波电路连接，用于调整所述第二滤波电路输出信号的信号幅度。上述方案中，可选的是，还包括模数转换电路，与混频电路连接，用于将所述混频信号转换为数字信号；所述信号处理模块为数字信号处理模块，与所述模数转换电路连接，用于对所述数字信号进行处理分析得到测试指标数据。上述方案中，所述第二滤波电路，包括：第一低频滤波电路，用于在天馈线测试模式时，通过第一设定带宽的所述第二混频信号；第二低频滤波电路，用于在频谱分析模式时，通过第二设定带宽的所述第二混频信号；其中，所述第一设定带宽小于所述第二设定带宽。上述方案中，可选的是，在频谱分析模式时，所述第一本振信号的频率按照预设切换间隔分别切换为高本振和低本振。上述方案中，可选的是，还包括：人机交互模块，与所述信号处理模块连接，用于显示所述测试指标数据和传递用户操作指令。上述方案中，可选的是，所述人机交互模块具体用于：在频谱分析模式时，接收预设的所述射频衰减器的衰减值的输入，并提供给所述射频衰减器。上述方案中，可选的是，所述用户操作指令包括：控制测试频率范围与测试频率点数的操作指令。上述方案中，可选的是，所述第二本振的信号根据工作模式自动匹配相应的信号频率，其中，所述工作模式为天馈线测试和频谱分析两种模式。上述方案中，可选的是，所述定向耦合器为单端定向耦合器。上述方案中，可选的是，还包括，数据存储模块，与所述信号处理模块连接，用于存储所述测试指标数据。本专利技术实施例提供的天馈线测试和频谱分析装置，通过包括提供射频信号的射频信号源；分支器，分支器的第一端与射频信号源连接，分支器的第二端与定向耦合器的第二端连接；射频衰减器，与分支器的分支端连接；定向耦合器，定向耦合器的第二端与分支器的第二端连接，定向耦合器的第一端与待测试终端相连；混频电路，与射频衰减器和定向耦合器的耦合端连接；信号处理模块，与混频电路连接。从而同时支持天馈线测试和频谱分析功能，解决了用户若同时需要天馈线测试和频谱分析两个功能需要购买两个相应模块的问题，实现了天馈线测试和频谱分析的一体化，极大的降低了成本。附图说明图1为本专利技术实施例一中的一种天馈线测试和频谱分析装置的结构示意图；图2为本专利技术实施例二中的一种天馈线测试和频谱分析装置的结构示意图；图3是本专利技术实施例三中的天馈线测试和频谱分析装置中第二滤波电路的结构示意图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。实施例一图1为本专利技术实施例一提供的一种天馈线测试和频谱分析装置的结构示意图，该装置可由软件和/或硬件实现。该装置可实现天馈线测试和频谱分析两种功能。如图1所示，该装置具体包括：射频信号源110，用于提供射频信号；分支器120，分支器120的第一端与射频信号源连接，分支器120的第二端与定向耦合器140的第二端连接；分支器120用于在天馈线测试模式下将分支器120的第一端获取的射频信号进行分支，分别从分支器120的分支端和分支器120的第二端输出，且用于在频谱分析模式下从分支器120的第二端获取待测试信号进行分支，从分支器120的分支端输出；射频衰减器130，与分支器120的分支端连接，用于将分支器120的分支端输出信号进行衰减；定向耦合器140，定向耦合器140的第二端与分支器130的第二端连接，定向耦合器140的第一端与待测试终端相连；定向耦合器140用于在天馈线测试模式下将定向耦合器140的第二端获取的信号输出给本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种天馈线测试和频谱分析装置，其特征在于，包括：射频信号源，用于提供射频信号；分支器，所述分支器的第一端与所述射频信号源连接，所述分支器的第二端与定向耦合器的第二端连接；所述分支器用于在天馈线测试模式下将所述分支器的第一端获取的射频信号进行分支，分别从所述分支器的分支端和所述分支器的第二端输出，且用于在频谱分析模式下从所述分支器的第二端获取待测试信号进行分支，从所述分支器的分支端输出；射频衰减器，与所述分支器的分支端连接，用于将所述分支器的分支端输出信号进行衰减；定向耦合器，所述定向耦合器的第二端与所述分支器的第二端连接，所述定向耦合器的第一端与待测试终端相连；所述定向耦合器用于在天馈线测试模式下将所述定向耦合器的第二端获取的信号输出给待测试终端，并从所述待测试终端获取反射信号，进行耦合衰减后从所述定向耦合器的耦合端输出反射耦合信号，且所述定向耦合器还用于在频谱分析模式下从所述定向耦合器的第一端获取待测试信号从第二端输出给所述分支器；混频电路，与所述射频衰减器和所述定向耦合器的耦合端连接，用于在天馈线测试模式下将所述射频衰减器的输出信号和所述反射耦合信号与本振信号混频，输出混频信号，且用于在频谱分析模式下将射频衰减器的输出信号与本振信号混频，输出混频信号；信号处理模块，与所述混频电路连接，用于对所述混频信号进行处理分析得到测试指标数据。...

【技术特征摘要】
1.一种天馈线测试和频谱分析装置，其特征在于，包括：射频信号源，用于提供射频信号；分支器，所述分支器的第一端与所述射频信号源连接，所述分支器的第二端与定向耦合器的第二端连接；所述分支器用于在天馈线测试模式下将所述分支器的第一端获取的射频信号进行分支，分别从所述分支器的分支端和所述分支器的第二端输出，且用于在频谱分析模式下从所述分支器的第二端获取待测试信号进行分支，从所述分支器的分支端输出；射频衰减器，与所述分支器的分支端连接，用于将所述分支器的分支端输出信号进行衰减；定向耦合器，所述定向耦合器的第二端与所述分支器的第二端连接，所述定向耦合器的第一端与待测试终端相连；所述定向耦合器用于在天馈线测试模式下将所述定向耦合器的第二端获取的信号输出给待测试终端，并从所述待测试终端获取反射信号，进行耦合衰减后从所述定向耦合器的耦合端输出反射耦合信号，且所述定向耦合器还用于在频谱分析模式下从所述定向耦合器的第一端获取待测试信号从第二端输出给所述分支器；混频电路，与所述射频衰减器和所述定向耦合器的耦合端连接，用于在天馈线测试模式下将所述射频衰减器的输出信号和所述反射耦合信号与本振信号混频，输出混频信号，且用于在频谱分析模式下将射频衰减器的输出信号与本振信号混频，输出混频信号；信号处理模块，与所述混频电路连接，用于对所述混频信号进行处理分析得到测试指标数据。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：信号切换电路，与所述混频电路连接，用于在天馈线测试模式下切换地与所述射频衰减器和所述定向耦合器的耦合端连接，且用于在频谱分析模式下与所述射频衰减器连接。3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，还包括：射频开关电路，与所述射频信号源连接，用于在天馈线测试模式下接通与所述射频信号源的连接，且在频谱分析模式下断开与所述射频信号源的连接。4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述混频电路包括：第一混频器，与所述射频衰减器和所述定向耦合器的耦合端连接，用于将所述射频衰减器的输出信号或所述反射耦合信号，与第一本振的信号混频输出第一混频信号；第一滤波电路，与所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘云龙，王勇，俞隽，景洋，
申请(专利权)人：北京信维科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11