一种键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的键盘进行测试，所述键盘具有键盘排线，所述键盘排线具有若干端子，所述键盘测试装置包括：电源，其具有正极及负极，所述负极接地；电阻，其一端连接所述电源的正极；若干第一LED，第一LED的正极并联连接于所述电阻的另一端，第一LED的负极分别一一对应连接所述键盘排线的端子；若干第二LED，第二LED的正极分别一一对应连接所述键盘排线的端子，第二LED的负极并联连接于电源的负极。该键盘测试装置测试简单，能直观的检测出按键的不良，且实际测试时间仅为30s,测试时间短，节约了测试时间，提高了工作效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种键盘测试装置，具体涉及一种笔记本电脑的键盘测试装置。
技术介绍
随着生活水平的提高，人们对笔记本电脑的质量要求越来越高。为了保证笔记本电脑的质量，在笔记本电脑出货前都会对笔记本电脑的按键进行测试，以保证笔记本电脑的按键在使用过程中保持良好的电性性能。现有技术在对笔记本电脑的按键进行测试时，是将笔记本电脑组装好后，在开机状态下进入DOS中进行程式按键类比测试，不仅测试不方便，且浪费时间，测试完成需要3分钟。有鉴于此，实有必要开发一种键盘测试装置，以解决上述测试不方便及浪费时间的缺陷。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种键盘测试装置，该键盘测试装置能够克服现有技术测试不方便及浪费时间的缺陷。为了达到上述目的，本专利技术的键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的键盘进行测试，所述键盘具有键盘排线，所述键盘排线具有若干端子，所述键盘测试装置包括：电源，其具有正极及负极，所述负极接地；电阻，其一端连接所述电源的正极；若干第一LED，第一LED的正极并联连接于所述电阻的另一端，第一LED的负极分别一一对应连接所述键盘排线的端子；若干第二LED，第二LED的正极分别一一对应连接所述键盘排线的端子，第二LED的负极并联连接于电源的负极。可选地，所述第一LED的数量为8个，所述第二LED的数量为16个。可选地，所述电源为19V，所述电阻的阻值为10KΩ。可选地，所述键盘测试装置还包括一复位按钮、另一个电源及另一个电阻，所述复位按钮一端连接所述键盘排线的多个端子并接地，所述复位按钮的另一端连接所述另一个电源的负极，所述另一个电源的正极连接所述另一个电阻的一端，所述另一个电阻的另一端连接键盘排线的一端子。可选地，所述另一个电源为19V，所述另一个电阻的阻值为2.2KΩ。相较于现有技术，本专利技术的键盘测试装置，通过测试员逐个按压按键，若按键所对应的第一LED和第二LED均导通发亮，电路构成一个回路，则说明按下的按键测试通过；若按键所对应的第一LED及第二LED均不亮，则说明该按键空焊，按键出现不良；若出现三个及三个以上的第一LED及第二LED发亮，则说明该按键连锡，按键出现不良。因此，该键盘测试装置测试简单，能直观的检测出按键的不良，且实际测试时间仅为30s,测试时间短，节约了测试时间，提高了工作效率。【附图说明】图1绘示本专利技术键盘测试装置于一较佳实施例中的电路示意图。图2绘示本专利技术键盘测试装置于另一较佳实施例中的电路示意图。【具体实施方式】请参阅图1所示，其绘示了本专利技术键盘测试装置于一较佳实施例中的电路示意图。于一较佳实施例中，本专利技术的键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的键盘进行测试，所述键盘具有键盘排线100，所述键盘排线100与按键分别电性连接，所述键盘排线100具有30个端子(第1端子至第30端子)，所述键盘测试装置包括：电源200，其具有正极及负极，所述负极接地；电阻300，其一端连接所述电源200的正极；若干第一LED400，第一LED400的正极并联连接于所述电阻300的另一端，第一LED400的负极分别一一对应连接所述键盘排线100的端子；若干第二LED500，第二LED500的正极分别一一对应连接所述键盘排线100的端子，第二LED500的负极并联连接于电源200的负极。其中，由于键盘的按键都是利用矩阵图控制而实现相应的功能，即由所述矩阵图中的行线及列线确定所述按键的坐标位，当该坐标位上的按键被下压时，内部电路会因接触而导通，为了对应于按键的矩阵，所述第一LED400的数量为8个，一一对应连接所述键盘排线100的第23端子至第30端子，所述第二LED500的数量为16个，一一对应连接所述键盘排线100的第7端子至第22端子。其中，所述电源200为19V，所述电阻300的阻值为10KΩ，所述电阻300为10KΩ的阻值能更好地分压保护所述第一LED400及第二LED500。在测试按键时，对电源200进行供电，通过测试员逐个按压按键，由于按键与键盘排线100电性连接，若按键所对应的第一LED400和第二LED500均导通发亮，则电路构成一个回路，则说明按下的按键测试通过；若按键所对应的第一LED400及第二LED500均不亮，则说明该按键空焊，电路无法构成回路，按键出现不良，判断为线路断路；若出现三个及三个以上的第一LED400及第二LED500发亮，则说明该按键连锡，电路出现两个或两个以上回路，按键出现不良，判断为短路。请参阅图2所示，图2绘示了本专利技术键盘测试装置于另一较佳实施例中的电路示意图。其中，为了测试键盘上的键盘灯是否全亮，键盘排线100的第1端子、第2端子、第3端子及第5端子与键盘灯电性连接，所述键盘测试装置还包括一复位按钮600、另一个电源700及另一个电阻800，所述复位按钮600一端连接所述键盘排线100的第1端子、第2端子、第3端子及第5端子并接地，所述复位按钮600的另一端连接所述另一个电源700的负极，所述另一个电源700的正极连接所述另一个电阻800的一端，所述另一个电阻800的另一端连接键盘排线100的第4端子。其中，所述另一个电源700为19V，所述另一个电阻800的阻值为2.2KΩ。在测试键盘灯时，对另一个电源700进行供电，按下复位按钮600，构成回路，由于键盘排线100的第1端子、第2端子、第3端子及第5端子与键盘灯电性连接，则可以测试键盘灯是否全亮。相较于现有技术，本专利技术的键盘测试装置，不仅使测试简单，能直观的检测出按键的不良，且实际测试时间仅为30s,测试时间短，节约了工作时间，提高了工作效率。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的按键进行测试，所述键盘具有键盘排线，所述键盘排线具有若干端子，其特征在于，所述键盘测试装置包括：电源，其具有正极及负极，所述负极接地；电阻，其一端连接所述电源的正极；若干第一LED，第一LED的正极并联连接于所述电阻的另一端，第一LED的负极分别一一对应连接所述键盘排线的端子；若干第二LED，第二LED的正极分别一一对应连接所述键盘排线的端子，第二LED的负极并联连接于电源的负极。
【技术特征摘要】
1.一种键盘测试装置，其用于对笔记本电脑的按键进行测试，所述键盘具有键盘排线，所述键盘排线具有若干端子，其特征在于，所述键盘测试装置包括：电源，其具有正极及负极，所述负极接地；电阻，其一端连接所述电源的正极；若干第一LED，第一LED的正极并联连接于所述电阻的另一端，第一LED的负极分别一一对应连接所述键盘排线的端子；若干第二LED，第二LED的正极分别一一对应连接所述键盘排线的端子，第二LED的负极并联连接于电源的负极。2.根据权利要求1所述的键盘测试装置，其特征在于，所述第一LED的数量为8个，所述第二L...
【专利技术属性】
技术研发人员：贺武，
申请(专利权)人：神讯电脑昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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