测量装置及其测量方法制造方法及图纸

一种测量装置(10),用于测量到具有波动反射性的表面(14)的距离，所述测量装置(10)包括：测量光源及传感器单元(16)，所述测量光源及传感器单元(16)定位在垂直于所述表面(16)的角度上，以使光被反射至位于已知位置处的漫反射目标表面；以及处理器单元，所述处理器单元用于收集和分析来自测量光源及传感器单元(16)的数据，并对所述测量光源及传感器单元(16)的读数是直接读数还是反射读数进行分类。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种测量装置及其测量方法。特别地，本专利技术的所述装置及相关方法用于测量到具有波动反射性的表面的距离。更优选地，本专利技术的所述装置是为了在连续涂覆工艺中具有特定应用。
技术介绍
以下对
技术介绍
的讨论仅仅用于方便本专利技术的理解。该讨论并不是承认或认可任何涉及的材料为本申请的优先权日时的公知常识的一部分。激光测距仪的使用在各种行业中是公知的。这些装置采用激光束确定到漫射对象(diffuse object)的距离(也称为“飞行时间”测量)。激光二极管发出约35-45纳秒的光脉冲，其击中目标且少量通过漫散射反射离开该目标。该少量的光在光学上由传感器检测并充分地放大到自动记录在多个电路中，所述电路包括高速精密计时器(chronometer)，所述高速精密计时器测量所述光从所述目标返回所花费的时间。然后被翻译成距离以得到距离测量。飞行时间测量的替代方案涉及使用三角测量计算法。三角激光器发出激光照射在对象上并利用照相机寻找激光点的位置。照相机和激光发射器之间的距离是已知的。激光发射器角落的角度也是已知的。照相机角落(camera corner)的角度可通过查看照相机视场中的激光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量装置，用于测量到具有波动反射性的表面的距离，所述测量装置包括：测量光源及传感器单元，定位在垂直于所述表面的角度上，以使光被反射至位于已知位置处的漫反射目标表面；以及处理器单元；其中，所述处理器单元用于收集和分析来自测量光源的数据，并对所述测量光源及传感器单元的读数是直接读数还是反射读数进行分类。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.12.09 AU 20139047861.一种测量装置，用于测量到具有波动反射性的表面的距离，所述测量装置包括：测量光源及传感器单元，定位在垂直于所述表面的角度上，以使光被反射至位于已知位置处的漫反射目标表面；以及处理器单元；其中，所述处理器单元用于收集和分析来自测量光源的数据，并对所述测量光源及传感器单元的读数是直接读数还是反射读数进行分类。2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括：参考光源及传感器单元，所述参考光源及传感器单元位于离开所述表面的位置且指向位于已知位置处的参考目标，其中，所述处理器单元还用于收集和分析来自所述参考光源及传感器单元的数据，从而对所述测量光源及传感器单元的读数为直接读数还是反射读数进行分类。3.根据权利要求1或2所述的测量装置，其特征在于，每个光源及传感器单元采用激光、红外线或LED光源。4.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其特征在于，每个所述光源及传感器单元采用激光光源。5.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其特征在于，所述装置采用两个或多个所述测量光源及传感器单元，它们在平面方位沿所述表面的宽度方向间隔排列。6.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其特征在于，所述装置采用两
\t个参考光源及传感器单元，它们位于所述表面的每一侧。7.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其特征在于，所所述处理器单元为任何能计算的处理器单元。8.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其特征在于，所述处理器单元是可编程逻辑控制器或可编程控制器。9.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其特征在于，每个所述光源和传感器单元设置在单个保护壳体中。10.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其特征在于，每个所述光源和传感器单元设置在防护罩的后面。11.根据权利要求10所述的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：欧文·皮尔斯，
申请(专利权)人：赫氏公司，
类型：发明
国别省市：澳大利亚;AU