气体分析装置和用于进行气体分析的方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种气体分析装置(1)，其至少具有离子迁移谱测定仪(2)，其特征在于，气体分析装置(1)具有对离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)产生作用的能量馈送装置(50)，其被配置用于通过能量馈送操控反应室(5)中的自由反应离子的密度。本发明专利技术还涉及借助气体分析装置根据离子迁移谱测定法进行气体分析的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及根据权利要求1所述的气体分析装置，其具有至少一个离子迁移谱测定仪。本专利技术还涉及根据权利要求8所述的借助气体分析装置按照离子迁移谱测定法进行气体分析的方法。
技术介绍
本专利技术主要涉及气态物质分析领域，其中，术语气态物质应当以最宽的意义理解，特别是还包括任意混合物。要在这些气态物质中定性和/或定量地检测其中包含的特定物质。因此，在例如用于呼吸分析的医疗技术、安全技术或者对化学处理的监视和控制/调节中，存在对成本低廉、结构紧凑、快速并且灵敏的气体分析装置的迫切需要，用于对那里出现的复杂的气体混合物进行分析。在安全
，例如要利用便携式测量系统对环境中的各种有害物质、例如甲苯和致癌的苯的密度进行连续监视。所提及的物质甲苯和苯经常共同出现。由于毒性不同，苯的极限值明显小于甲苯。直到现在，利用已有的便携式测量系统、例如离子迁移谱测定仪不能在存在甲苯或者水的情况下对苯进行快速检测。离子迁移谱测定仪(IMS，)具有如下优点：其是相对小的系统，其还能够成功地用于对复杂的气体混合物进行非常快速的分析，并且对于一系列物质具有需要的低检定极限。例如在US 4,777,363中描述本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种气体分析装置(1)，其至少具有以下部件：a)离子迁移谱测定仪(2)，b)对离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)产生作用的能量馈送装置，其被配置用于通过能量馈送操控反应室(5)中的自由反应离子的密度，c)作为能量馈送装置的第一场产生装置(50,51,52,53)，其被配置用于在反应室(5)中产生电场，d)与离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)耦合的负压产生装置(11)，其被配置用于至少在反应室(5)中相对于大气压产生负压，e)其中，通过负压产生装置(11)在反应室(5)中产生2毫巴至100毫巴绝对压力范围内的负压，以及f)其中，通过第一场产生装置(50,51,52,53)在反应室(5)中产生...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.12.19 DE 102013114421.71.一种气体分析装置(1)，其至少具有以下部件：a)离子迁移谱测定仪(2)，b)对离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)产生作用的能量馈送装置，其被配置用于通过能量馈送操控反应室(5)中的自由反应离子的密度，c)作为能量馈送装置的第一场产生装置(50,51,52,53)，其被配置用于在反应室(5)中产生电场，d)与离子迁移谱测定仪(2)的反应室(5)耦合的负压产生装置(11)，其被配置用于至少在反应室(5)中相对于大气压产生负压，e)其中，通过负压产生装置(11)在反应室(5)中产生2毫巴至100毫巴绝对压力范围内的负压，以及f)其中，通过第一场产生装置(50,51,52,53)在反应室(5)中产生电场的场强，在该场强下在给定的负压下由于由此减小的粒子密度，反应室中的粒子由于电场进行的能量馈送而在两次撞击之间加速，使得从其不希望的键合对象释放希望的自由反应离子，和/或完全或者部分地抑制希望的反应离子与不希望的键合对象的键合，g)其中，自由反应离子从与其键合的水分子或者其它不期望的键合对象释放。2.根据上述权利要求所述的气体分析装置，其中，气体分析装置(1)、特别是其离子迁移谱测定仪(2)至少具有以下部件：a)具有电离源(40,41,42,43)的电离源区域(4)，b)与电离源区域(4)耦合的反应室(5)，c)具有漂移气体馈送接头(74)的漂移室(7)，漂移气体馈送接头(74)连接到气体馈送管线(75)，用于向漂移室中馈送漂移气体，d)在反应室(5)和漂移室(7)之间的能开关的离子门(6)，e)处于漂移室(7)的背离离子门(6)的一端的离子检测器(8)，f)第二场产生装置(70,71,72,73)，其被配置用于在漂移室(7)中产生电场。3.根据权利要求2所述的气体分析装置，其特征在于，所述离子门(6)具有在从反应室(5)到漂移室(7)的方向上依次布置的至少3个电极(60,
\t61,62)。4.根据权利要求3所述的气体分析装置，其特征在于，能够借助气体分析装置(1)的电(66)开关装置对离子门(6)的中间电极(60,61,62...

【专利技术属性】
技术研发人员：S齐默尔曼，P科切姆斯，J兰格于尔根，A柯克，
申请(专利权)人：汉诺威戈特弗里德威廉莱布尼茨大学，
类型：发明
国别省市：德国;DE