电子器具的功能及寿命的测试设备制造技术

一种电子器具的功能及寿命的测试设备，包括安装机柜、按键功能测试模组、按键寿命测试模组及控制系统，按键功能测试模组包括功能测试治具、功能测试按压装置、功能测试移动系统及功能测试分析装置；按键寿命测试模组包括寿命测试治具、压紧机构、寿命测试按压装置、寿命测试移动系统及寿命测试分析装置；控制系统分别与按键功能测试模组、按键寿命测试模组电连接。当进行电子器具的功能和寿命测试时，只要将电子器具置于对应的功能测试治具、寿命测试治具上即可，便可进行相应的自动化测试，有效避免采用人工手压按压测试带来的按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试设备的
，尤其涉及一种适于上身乏力的体弱人士的电子器具的功能及寿命的测试设备。
技术介绍
目前，对于电子器具的测试，如遥控器的功能和寿命测试，其大多采用的是人工手压按压测试。但是，采用手工按压测试存在以下问题：按压力度无法掌控、按压的数据不准，员工劳动强度过大。而且，采用此种测试，容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生。因此，有必要提供一种技术手段以解决上述缺陷。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术之缺陷，提供电子器具的功能及寿命的测试设备，以解决现有技术中采用人工手压按压测试以检测电子器具的功能和寿命合格与否而存在按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生的问题。本技术是这样实现的，一种电子器具的功能及寿命的测试设备，所述电子器具包括一壳体及设于所述壳体上的若干个按键，所述测试设备包括：安装机柜，所述安装机柜包括柜台、及设于所述柜台上以供位于所述柜台上方的部件安装设置的支撑框架；按键功能测试模组，所述按键功能测试模组包括位于所述柜台的一侧端上以供所述电子器具放置的功能测试治具、可移动靠向所述功能测试治具以按压置于所述功能测试治具上的所述电子器具的按键的功能测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述功能测试按压装置连接以驱使所述功能测试按压装置移动的功能测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数与若干个所述按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的功能是否通过的功能测试分析装置；按键寿命测试模组，所述按键寿命测试模组包括位于所述柜台的另一侧端上以供所述电子器具放置的寿命测试治具、设于所述柜台的另一侧端上并靠近所述寿命测试治具以将置于所述寿命测试治具上的所述电子器具压紧固定的压紧机构、可移动靠向所述寿命测试治具以按压置于所述寿命测试治具上的所述电子器具的按键的寿命测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述寿命测试按压装置连接以驱使所述寿命测试按压装置移动的寿命测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量关键的所述按键被所述寿命测试按压装置按压的次数与关键的所述按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的寿命是否通过的寿命测试分析装置；控制系统，所述控制系统设置于安装机柜上，并分别与所述按键功能测试模组、所述按键寿命测试模组电连接。具体地，所述柜台的上端面上定义有X轴方向、与所述X轴方向垂直的Y轴方向、及竖直于所述X轴方向和所述Y轴方向的Z轴方向；所述功能测试移动系统包括可沿所述X轴方向移动设于所述柜台的一侧端上的X轴移动平台、设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Y轴方向移动的Y轴移动装置、及设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Z轴方向移动的Z轴移动装置，所述功能测试治具设于所述X轴移动平台上。进一步地，所述Y轴移动装置包括可沿所述Y轴方向移动设于所述支撑框架上的Y轴移动架、设于所述支撑框架上以用于驱动所述Y轴移动架移动的Y轴驱动源、及一端与所述Y轴移动架而另一端与所述Y轴驱动源连接以将所述Y轴驱动源产生的动力传至所述Y轴移动架的Y轴传动机构；所述Z轴移动装置包括可沿所述Z轴方向移动设于所述Y轴移动架上的Z轴移动架、设于所述Y轴移动架上并与所述Z轴移动架连接以用于驱动所述Z轴移动架移动的Z轴驱动源，所述功能测试按压装置设于所述Z轴移动架上。较佳地，所述功能测试移动系统还包括设于所述柜台内并与所述X轴移动平台连接以驱动所述X轴移动平台移动的X轴驱动源、及一端与所述X轴移动平台而另一端与所述X轴驱动源连接以将所述X轴驱动源产生的动力传至所述X轴移动平台的X轴传动机构。具体地，所述寿命测试移动系统包括可沿所述Z轴方向移动设于所述柜台的另一侧端上的寿命测试移动杆、设于所述寿命测试移动杆上并朝所述寿命测试移动杆的径向方向延伸且与所述寿命测试治具相对设置的寿命测试安装板、及设于所述柜台内以用于驱动所述寿命测试移动杆移动的寿命测试驱动源、及一端与所述寿命测试移动杆而另一端与所述寿命测试驱动源连接以将所述寿命测试驱动源产生的动力传至所述寿命测试移动杆的寿命测试传动机构，所述寿命测试按压装置设于所述寿命测试安装板上。进一步地，所述寿命测试驱动源为一电机，所述寿命测试传动机构包括套设于所述电机上的偏心轮、一端连接于所述偏心轮而另一端连接于所述寿命测试移动杆的连杆。具体地，所述功能测试按压装置包括一功能测试按压砝码。具体地，所述寿命测试按压装置包括一寿命测试按压砝码。具体地，所述功能测试分析装置包括设于所述安装机柜上以设定所述功能测试按压装置分别按压若干个所述按键的次数的触摸屏、设于所述柜台内以计算若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数的PLC计算模块、及设于所述柜台的一侧端上以接收由若干个所述按键被按压后发出的执行信号的功能测试信号接收器，所述触摸屏、所述PLC计算模块和所述功能测试信号接收器均与所述控制系统电连接。具体地，所述寿命测试分析装置包括设于所述柜台上以设置所述寿命测试按压装置按压关键的所述按键的次数的寿命测试定量器、设于所述柜台上以计算关键的所述按键被所述功能测试按压装置按压的次数的寿命测试计数器、及设于所述柜台的一侧端上以接收由关键的所述按键被按压后发出的执行信号的寿命测试信号接收器，所述寿命测试定量器、所述寿命测试计数器和所述寿命测试信号接收器均与所述控制系统电连接。。本技术的电子器具的功能及寿命的测试设备的技术效果为：当进行电子器具的功能测试时，将电子器具置于功能测试治具上，然后通过控制功能测试移动系统以使功能测试按压装置按压电子器具上的所有按键，接着，借由功能测试分析装置分析得出相应结果，其具体为，通过计量所有按键分别被功能测试按压装置按压的次数与所有按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断电子器具的功能是否通过；而当进行电子器具的寿命测试时，将电子器具置于寿命测试治具上，并借由压紧机构以将电子器具紧致压紧，然后通过控制寿命测试移动系统以使寿命测试按压装置按压电子器具上的关键按键，接着，借由寿命测试分析装置分析得出相应结果，其具体为，通过计量关键按键被寿命测试按压装置按压的次数与关键按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断电子器具的寿命是否通过。整个电子器具的功能测试和寿命测试均为自动化测试，有效避免采用人工手压按压测试带来的按压力度无法掌控、按压的数据不准、员工劳动强度过大、以及容易因人工操作不到位而导致不良流程的发生问题。另外，一个测试设备上可以同时实施电子器具的功能测试和寿命测试，一设备多功能、多应用，既便于用户的使用，也有利于降低测试使用者的购买成本。附图说明图1为本技术的电子器具的功能及寿命的测试设备的立体图；图2为本技术的电子器具的功能及寿命的测试设备去掉部分安装机柜的部件的示意图，以展示测试设备的内部结构；图3为图2的电子器具的功能及寿命的测试设备去掉部分安装机柜的部件的另一角度的示意图；图4为本技术的电子器具的功能及寿命的测试设备去掉部分安装机柜的部件的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子器具的功能及寿命的测试设备，所述电子器具包括一壳体及设于所述壳体上的若干个按键，其特征在于，所述测试设备包括：安装机柜，所述安装机柜包括柜台、及设于所述柜台上以供位于所述柜台上方的部件安装设置的支撑框架；按键功能测试模组，所述按键功能测试模组包括位于所述柜台的一侧端上以供所述电子器具放置的功能测试治具、可移动靠向所述功能测试治具以按压置于所述功能测试治具上的所述电子器具的按键的功能测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述功能测试按压装置连接以驱使所述功能测试按压装置移动的功能测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数与若干个所述按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的功能是否通过的功能测试分析装置；按键寿命测试模组，所述按键寿命测试模组包括位于所述柜台的另一侧端上以供所述电子器具放置的寿命测试治具、设于所述柜台的另一侧端上并靠近所述寿命测试治具以将置于所述寿命测试治具上的所述电子器具压紧固定的压紧机构、可移动靠向所述寿命测试治具以按压置于所述寿命测试治具上的所述电子器具的按键的寿命测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述寿命测试按压装置连接以驱使所述寿命测试按压装置移动的寿命测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量关键的所述按键被所述寿命测试按压装置按压的次数与关键的所述按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的寿命是否通过的寿命测试分析装置；控制系统，所述控制系统设置于安装机柜上，并分别与所述按键功能测试模组、所述按键寿命测试模组电连接。...

【技术特征摘要】
1.一种电子器具的功能及寿命的测试设备，所述电子器具包括一壳体及设于所述壳体上的若干个按键，其特征在于，所述测试设备包括：安装机柜，所述安装机柜包括柜台、及设于所述柜台上以供位于所述柜台上方的部件安装设置的支撑框架；按键功能测试模组，所述按键功能测试模组包括位于所述柜台的一侧端上以供所述电子器具放置的功能测试治具、可移动靠向所述功能测试治具以按压置于所述功能测试治具上的所述电子器具的按键的功能测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述功能测试按压装置连接以驱使所述功能测试按压装置移动的功能测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量若干个所述按键分别被所述功能测试按压装置按压的次数与若干个所述按键分别被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的功能是否通过的功能测试分析装置；按键寿命测试模组，所述按键寿命测试模组包括位于所述柜台的另一侧端上以供所述电子器具放置的寿命测试治具、设于所述柜台的另一侧端上并靠近所述寿命测试治具以将置于所述寿命测试治具上的所述电子器具压紧固定的压紧机构、可移动靠向所述寿命测试治具以按压置于所述寿命测试治具上的所述电子器具的按键的寿命测试按压装置、设于所述安装机柜上并与所述寿命测试按压装置连接以驱使所述寿命测试按压装置移动的寿命测试移动系统、及设于所述安装机柜上以通过计量关键的所述按键被所述寿命测试按压装置按压的次数与关键的所述按键被按压后发出的执行信号的次数是否对应而分析判断所述电子器具的寿命是否通过的寿命测试分析装置；控制系统，所述控制系统设置于安装机柜上，并分别与所述按键功能测试模组、所述按键寿命测试模组电连接。2.如权利要求1所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述柜台的上端面上定义有X轴方向、与所述X轴方向垂直的Y轴方向、及竖直于所述X轴方向和所述Y轴方向的Z轴方向；所述功能测试移动系统包括可沿所述X轴方向移动设于所述柜台的一侧端上的X轴移动平台、设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Y轴方向移动的Y轴移动装置、及设于所述支撑框架上并与所述功能测试按压装置连接以驱动所述功能测试按压装置沿所述Z轴方向移动的Z轴移动装置，所述功能测试治具设于所述X轴移动平台上。3.如权利要求2所述的电子器具的功能及寿命的测试设备，其特征在于：所述Y轴移动装置包括可沿所述Y轴方向移动设于所述支撑框架上的Y轴移动架、设于所述支撑框架上以用于驱动所述Y轴移动架移动的Y轴驱动源、及一端与所述Y轴移动架而另一端与所述Y轴驱动源连接以将所述Y轴驱动源产生的动力传至所述Y轴移动架的Y轴传动机构；所述Z轴移动装置包括可沿所述Z轴方向移动设...

【专利技术属性】
技术研发人员：李文峰，刘露，
申请(专利权)人：深圳市共进电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44