一种老化架的布线结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种老化架的布线结构，包括藏线槽，所述藏线槽设置在老化架支撑架的外圈上，所述藏线槽与支撑架可拆卸连接，所述藏线槽开口端设有盖板，所述盖板与所述藏线槽可拆卸连接，所述盖板上固定有电源端子和信号端子。本实用新型专利技术使得老化架包含动态测试功能和静态测试功能，并且合理的布线设计，全部电线不外露、放置于藏线槽内，以保障供电线路不会碰伤损坏。

Wiring structure of aging rack

The utility model discloses an aging rack wiring structure including Tibet line slot, the hidden slot is arranged on a supporting frame of the aging on the outer ring, the Tibet line groove and the supporting frame can be detachably connected, the Tibet line slot open end is provided with a cover plate, the cover plate and the Tibet line slot detachable connection, power supply terminals and the signal terminals are fixed on the cover plate. The utility model has the functions of dynamic testing and static testing, and reasonable wiring design, and the whole electric wires are not exposed and placed in a hidden wire groove, so as to ensure that the power supply circuit can not be damaged.

【技术实现步骤摘要】

本技术属于测试设备
，尤其涉及一种老化架的布线结构。
技术介绍
老化房，又叫高温老化房和烧机房，是针对高性能电子产品(如：计算机整机、显示器、终端机、车用电子产品、电源供应器、主机板、监视器、交换式充电器等)仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备，是各生产企业提高产品质量和竞争力的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。老化架作为老化房中重要的部件，用老化房对大批量的电子产品进行动态老化测试时，需将待测试电子产品放置在老化架上，再将老化架放进老化房内进行动态老化测试，将老化房升温，达到预设温度后，用直流供电系统对老化房内的电子产品通电，用老化房模拟恶劣环境下使用工况，待老化时间完成，判断电子产品的质量。老化架用于模拟电子产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况，以提前发现电子产品的缺陷，提高电子产品的稳定性和可靠性。现有技术中的老化架要么只有静态测试功能，老化架上没有布线结构，要么只有动态测试功能，老化架上不可拆卸的设置有布线结构，使得老化架的利用率低，用户不能根据实际需要选择合适的测试功能。
技术实现思路
有鉴于此，为了解决现有技术中老化架的利用率低的技术问题，本技术提供一种老化架的布线结构，使得老化架具有动态测试功能和静态测试功能，供用户合理选择需要。本技术通过以下技术手段解决上述问题：一种老化架的布线结构，包括藏线槽，所述藏线槽设置在老化架支撑架的外圈上，所述藏线槽与支撑架可拆卸连接，所述藏线槽开口端设有盖板，所述盖板与所述藏线槽可拆卸连接，所述盖板上固定有电源端子和信号端子。进一步地，所述藏线槽与老化架的支撑架通过螺钉连接。进一步地，所述盖板与所述藏线槽通过螺钉连接。进一步地，所述藏线槽为U型藏线槽。进一步地，所述电源端子和信号端子为航空端子。本技术老化架的布线结构具有以下有益效果：1、无损对接原老化架，安装时不影响原老化架任何功能的使用，当用户需要增加向待测试电子产品供电需求即达到动态测试功能时，可以在原老化架的基础上，直接把独立的布线结构固定在老化架支撑架外圈上即可达到向待测试电子产品供电功能；2、使得原有老化架包含动态测试功能和静态测试功能，盖板上固定有电源端子和信号端子，用于向待测试电子产品供电和控制，以达到动态测试功能，若把布线结构去除，即把老化架的供电线路和盖板上固定的电源端子和信号端子移除，使多层老化架变成不可以向待测试电子产品供电和控制，以达到静态测试功能；3、合理的布线设计，全部电线不外露、放置于藏线槽内，以保障供电线路不会碰伤损坏。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术老化架的布线结构的整体示意图；图2为本技术藏线槽的结构示意图；图3为本技术盖板的结构示意图；图4为本技术的布线结构用在H型老化架上的结构示意图；图5为本技术的布线结构用在八字型老化架上的结构示意图。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面将结合附图和具体的实施例对本技术的技术方案进行详细说明。需要指出的是，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。如图1-3所示，一种老化架的布线结构，包括藏线槽，藏线槽为U型藏线槽，U型藏线槽设置在老化架支撑架的外圈上，U型藏线槽与支撑架通过螺钉可拆卸连接，U型藏线槽开口端设有盖板，所述盖板与U型藏线槽通过螺钉可拆卸连接，所述盖板上固定有电源端子和信号端子，电源端子和信号端子为航空端子，全部电线不外露、放置于藏线槽内，以保障供电线路不会碰伤损坏。当待测试电子产品需要动态测试时，只需把本技术的布线结构通过螺钉安装至原老化架支撑架外圈上，这时盖板上固定有电源端子和信号端子，用于向待测试电子产品供电和控制，以达到动态测试功能；当待测试电子产品需要静态测试时，只需把布线结构去除，即把老化架的供电线路和盖板上固定的电源端子和信号端子移除，使多层老化架变成不可以向待测试电子产品供电和控制，以达到静态测试功能。下面以具体的老化架为例对本技术进行详细说明：图4为本技术的布线结构用在H型老化架上的结构示意图，H型老化架原本只有静态测试功能，当用户需要增加向待测试电子产品供电需求即达到动态测试功能时，可以在原H型老化架的基础上，直接把独立的布线结构固定在老化架支撑架外圈上即可达到向待测试电子产品供电功能，无损对接原H型老化架，安装时不影响原H型老化架任何功能的使用，并且全部电线不外露、放置于藏线槽内，以保障供电线路不会碰伤损坏。图5为本技术的布线结构用在八字型老化架上的结构示意图，八字型老化架原本只有静态测试功能，当用户需要增加向待测试电子产品供电需求即达到动态测试功能时，可以在原八字型老化架的基础上，直接把独立的布线结构固定在老化架支撑架外圈上即可达到向待测试电子产品供电功能，无损对接原八字型老化架，安装时不影响原八字型老化架任何功能的使用，全部电线不外露、放置于藏线槽内，以保障供电线路不会碰伤损坏。本技术老化架的布线结构具有以下有益效果：1、无损对接原老化架，安装时不影响原老化架任何功能的使用，当用户需要增加向待测试电子产品供电需求即达到动态测试功能时，可以在原老化架的基础上，直接把独立的布线结构固定在老化架支撑架外圈上即可达到向待测试电子产品供电功能；2、使得原有老化架包含动态测试功能和静态测试功能，盖板上固定有电源端子和信号端子，用于向待测试电子产品供电和控制，以达到动态测试功能，若把布线结构去除，即把老化架的供电线路和盖板上固定的电源端子和信号端子移除，使多层老化架变成不可以向待测试电子产品供电和控制，以达到静态测试功能；3、合理的布线设计，全部电线不外露、放置于藏线槽内，以保障供电线路不会碰伤损坏。以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本技术专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种老化架的布线结构，其特征在于，包括藏线槽，所述藏线槽设置在老化架支撑架的外圈上，所述藏线槽与支撑架可拆卸连接，所述藏线槽开口端设有盖板，所述盖板与所述藏线槽可拆卸连接，所述盖板上固定有电源端子和信号端子。

【技术特征摘要】
1.一种老化架的布线结构，其特征在于，包括藏线槽，所述藏线槽设置在老化架支撑架的外圈上，所述藏线槽与支撑架可拆卸连接，所述藏线槽开口端设有盖板，所述盖板与所述藏线槽可拆卸连接，所述盖板上固定有电源端子和信号端子。2.根据权利要求1所述的老化架的布线结构，其特征在于，所述藏线槽与老...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕东贤，
申请(专利权)人：广州市长崎自动化科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44