一种旋转下压探针机构制造技术

本实用新型专利技术涉及电子测试设备技术领域，尤其涉及一种旋转下压探针机构。一种旋转下压探针机构，包括：旋转机构、定位机构和下压探针机构，所述定位机构分别连接旋转机构和下压探针机构，所述旋转机构至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构上以带动下压探针机构下压至检测点，且所述旋转机构的旋转运行轨迹的最低点由定位机构限制。通过包括旋转块和等高柱的旋转机构和具有等高斜面的下压探针机构的结构，使得所述等高柱与等高斜面的斜坡相配合，以旋转的方式进行测试，有效的防止测试头经常损坏，解决了现有技术经常更换测试头的问题，且测试稳定性好，操作方便，探针寿命长。

Rotary down pressure probe mechanism

The utility model relates to the technical field of electronic testing equipment, in particular to a rotary down pressure probe mechanism. A pressure probe rotating mechanism, including rotating mechanism, positioning mechanism and pressure probe mechanism, the positioning mechanism is respectively connected with a rotating mechanism and a pressure probe mechanism, the rotating mechanism at least under pressure in the rotating process is pressed on the pressure probe mechanism to drive the probe mechanism under pressure to the pressure the detection point, the lowest point of rotation trajectory and the rotating mechanism is composed of a positioning mechanism to limit. By including the pressure probe mechanism rotating block structure and rotating mechanism of high column and has high slope, with the the high column and high slope slope, in order to test the rotation mode, effectively prevent the test head often damaged, solves often replace the test head the problem and test, good stability, convenient operation, long service life of the probe.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子测试设备
，尤其涉及一种旋转下压探针机构。
技术介绍
现有的connect测试，多采用公母对插式，因为对插的尺寸较小，上下对位误差很小也会很容易导致测试头损坏，这就使得每一个测试头只能测试大约100pcs就要更换新的测试头，降低了测试头的使用周期，增大了检测测试头是否报废并更换报废的测试头这一部分的工作强度。并且微型测试头不易与connect连接，操作麻烦，测试稳定性差，影响产品品质。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种旋转下压探针机构，通过旋转机构、定位机构和下压探针机构，以旋转的方式进行测试，有效的防止测试头经常损坏，解决了现有技术经常更换测试头的问题，且测试稳定性好，操作方便，探针寿命长。为达此目的，本技术采用以下技术方案：一种旋转下压探针机构，包括：旋转机构、定位机构和下压探针机构，所述定位机构分别连接旋转机构和下压探针机构，所述旋转机构至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构上以带动下压探针机构下压至检测点，且所述旋转机构的旋转运行轨迹的最低点由定位机构限制。作为本技术方案的优选方案之一，所述旋转机构包括旋转块、连接在旋转块之下的等高柱，所述下压探针机构包括下压块、设置在下压块上的等高斜面、设置在下压块下面的压头以及设置在压头上的探针，所述等高柱与等高斜面的斜坡相配合以形成等高柱随旋转块下压或上升的螺旋运行曲线。作为本技术方案的优选方案之一，所述定位机构包括定位块和设置在定位块上的支座卡扣，所述支座卡扣连接旋转块，以便于限制等高柱的下压距离。作为本技术方案的优选方案之一，所述定位机构还包括设置在定位块和旋转块之间的回复弹簧，以完成旋转块的自动旋转复位。作为本技术方案的优选方案之一，所述等高柱有三个，每一个所述等高柱对应一个等高斜面，且三个等高柱和三个等高斜面绕旋转块的转轴均匀分布。作为本技术方案的优选方案之一，所述定位机构还包括设置在定位块下方的定位柱，所述下压探针机构还包括设置在下压块上面的限位孔，所述定位柱和限位孔配合以实现旋转块和定位块的转轴相重合。作为本技术方案的优选方案之一，所述下压块上还设置有与等高柱一一对应的等高体，所述等高斜面开设在等高体的一侧，且等高斜面的高度沿顺时针逐次递减或递增。作为本技术方案的优选方案之一，所述等高体为以旋转块的转轴为中心的扇形体。有益效果：通过包括旋转块和等高柱的旋转机构和具有等高斜面的下压探针机构的结构，使得所述等高柱与等高斜面的斜坡相配合，以旋转的方式进行测试，有效的防止测试头经常损坏，解决了现有技术经常更换测试头的问题，且测试稳定性好，操作方便，探针寿命长。附图说明图1是本技术实施例1提供的旋转下压探针机构的结构示意图一；图2是本技术实施例1提供的旋转下压探针机构的结构示意图二；图3是本技术实施例1提供的下压块的结构示意图。图中：1、旋转机构；2、定位机构；3、下压探针机构；11、旋转块；12、等高柱；21、定位块；22、支座卡扣；31、下压块；32、等高斜面；33、压头；34、等高体。具体实施方式下面结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本技术的技术方案。实施例1本技术提供了一种旋转下压探针机构，如图1-3所示，包括：旋转机构1、定位机构2和下压探针机构3，所述定位机构2分别连接旋转机构1和下压探针机构3，所述旋转机构1包括旋转块11、连接在旋转块11之下的等高柱12，所述下压探针机构3包括下压块31、设置在下压块31上的等高斜面32、设置在下压块31下面的压头33以及设置在压头33上的探针，所述等高柱12与等高斜面32的斜坡相配合以形成等高柱12随旋转块11下压或上升的螺旋运行曲线。所述定位机构2包括定位块21和设置在定位块21上的支座卡扣22，所述支座卡扣22连接旋转块11，以便于限制等高柱的下压距离。所述旋转机构1至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构3上以带动下压探针机构3下压至检测点，且所述旋转机构1的旋转运行轨迹的最低点由定位机构2限制。所述下压块31上还设置有与等高柱12一一对应的等高体34，所述等高斜面32开设在等高体34的一侧，且等高斜面32的高度沿顺时针逐次递减或递增。所述等高柱12有三个，对应的，每一个所述等高柱12对应一个等高斜面32，且三个等高柱12和三个等高斜面32绕旋转块11的转轴均匀分布。所述等高体34也有三个，且三个等高体34绕旋转块11的转轴均匀分布。具体实施时，所述等高柱12、等高斜面32和等高体34的数量保持一致，且所述等高柱12、等高斜面32和等高体34的数量包含但不限于三个，可根据实际情况进行调整和增减。所述定位机构2还包括设置在定位块21和旋转块11之间的回复弹簧，以完成旋转块的自动旋转复位。当旋转块11顺着一个方向顺时针或逆时针旋转时，拉动回复弹簧产生回复扭矩；当旋转块11停止转动并锁定，由压头33进行相应的检测，之后松开锁定，所述旋转块11在回复扭矩的带动下反方向旋转，使得旋转块11回复原位。所述定位机构2还包括设置在定位块21下方的定位柱，所述下压探针机构3还包括设置在下压块31上面的限位孔，所述定位柱和限位孔配合以实现旋转块11和定位块21的转轴相重合。所述限位孔和定位柱的设定使得旋转块11带动等高柱12向下压的时候，所述等高体34为以旋转块11的转轴为中心的扇形体。综上所述，通过包括旋转块和等高柱的旋转机构和具有等高斜面的下压探针机构的结构，使得所述等高柱与等高斜面的斜坡相配合，以旋转的方式进行测试，有效的防止测试头经常损坏，解决了现有技术经常更换测试头的问题，且测试稳定性好，操作方便，探针寿命长。以上结合具体实施例描述了本技术的技术原理。这些描述只是为了解释本技术的原理，而不能以任何方式解释为对本技术保护范围的限制。基于此处的解释，本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本技术的其它具体实施方式，这些方式都将落入本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种旋转下压探针机构，其特征在于，包括：旋转机构(1)、定位机构(2)和下压探针机构(3)，所述定位机构(2)分别连接旋转机构(1)和下压探针机构(3)，所述旋转机构(1)至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构(3)上以带动下压探针机构(3)下压至检测点，且所述旋转机构(1)的旋转运行轨迹的最低点由定位机构(2)限制。

【技术特征摘要】
1.一种旋转下压探针机构，其特征在于，包括：旋转机构(1)、定位机构(2)和下压探针机构(3)，所述定位机构(2)分别连接旋转机构(1)和下压探针机构(3)，所述旋转机构(1)至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构(3)上以带动下压探针机构(3)下压至检测点，且所述旋转机构(1)的旋转运行轨迹的最低点由定位机构(2)限制。2.根据权利要求1所述的旋转下压探针机构，其特征在于，所述旋转机构(1)包括旋转块(11)、连接在旋转块(11)之下的等高柱(12)，所述下压探针机构(3)包括下压块(31)、设置在下压块(31)上的等高斜面(32)、设置在下压块(31)下面的压头(33)以及设置在压头(33)上的探针，所述等高柱(12)与等高斜面(32)的斜坡相配合以形成等高柱(12)随旋转块(11)下压或上升的螺旋运行曲线。3.根据权利要求2所述的旋转下压探针机构，其特征在于，所述定位机构(2)包括定位块(21)和设置在定位块(21)上的支座卡扣(22)，所述支座卡扣(22)连接旋转块(11)，以便于限制等高柱(12)的下压距离。4.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙丰，
申请(专利权)人：苏州赛腾精密电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32