隔离电压检测电路制造技术

本实用新型专利技术涉及一种隔离电压检测电路，包括隔离光耦电路，还包括用于检测输入电压是否大于第一预定值V1的第一检测电路；用于检测输入电压是否大于第二预定值V2的第二检测电路，其中，第一预定值V1小于第二预定值V2；分别与第一检测电路、第二检测电路及隔离光耦电路连接，并根据检测所得的输入电压小于第一预定值V1、大于第一预定值V1并小于第二预定值V2、大于第二预定值V2这三种情况，分别驱动隔离光耦电路工作于持续断开、持续导通、导通/断开循环这三种状态的控制开关电路。本实用新型专利技术结构设计简单，器件利用率高，生产成本低，增强了系统的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电压检测电路，更具体地说，涉及一种隔离电压检测电路。
技术介绍
在电路系统中，需要检测某些电路电压范围，为了测量的安全性和准确性，一般都会采用隔离电压检测，对于需要分段进行隔离电压检测的场合，都是通过多路检测电路控制光耦持续输出高低两种电平来实现，这样就需要多路光耦和多个MCU I/O口，这样设计重复的电路器件利用率不高，测量的结果不够准确，同时增加了器件成本而且还降低了系统的可靠性。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术电路器件利用率不高，增加了生产成本同时还降低了系统的可靠性的问题，提供一种结构简单、成本低、系统稳定性高的隔离电压检测电路。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种隔离电压检测电路，包括隔离光耦电路，还包括：用于检测输入电压是否大于第一预定值V1的第一检测电路；用于检测输入电压是否大于第二预定值V2的第二检测电路，其中，所述第一预定值V1小于所述第二预定值V2；分别与所述第一检测电路、第二检测电路及隔离光耦电路连接，并根据检测所得的输入电压小于所述第一预定值V1、大于所述第一预定值V1并小于所述第二预定值V2、大于所述第二预定值V2这三种情况，分别驱动所述隔离光耦电路工作于持续断开、持续导通、导通/断开循环这三种状态的控制开关电路。本技术的隔离电压检测电路，所述控制开关电路包括电阻R3和三极Q2管；其中，所述三极管Q2的发射极接地。本技术的隔离电压检测电路，第一检测电路包括电阻R4、稳压二极管Z2、电阻R7、电容C3；所述电阻R4一端与所述稳压二极管Z2负极连接，所述稳压二极管Z2正极与所述电阻R7一端连接；所述电容C3一端与所述电阻R7和稳压二极管Z2之间的端点连接，并连接至所述三极管Q2基极，另一端接地，所述电阻R7另一端接地。本技术的隔离电压检测电路，所述第二检测电路包括二极管D1、三极管Q1、稳压二极管Z1、电阻R6、电阻R2、电阻R5、电容C2、以及三极管Q3；所述二极管D1正极与电压输入端Vin连接，负极连接所述三极管Q1的发射极、所述电阻R2的一端、所述电阻R4另一端和所述电阻R3一端之间的端点，所述三极管Q1的基极与所述电阻R2和所述电阻R5之间的端点连接，所述三极管Q1集电极与所述稳压二极管Z1负极连接，所述稳压二极管Z1正极与所述电阻R6一端连接，所述电阻R5另一端与所述三极管Q2集电极和所述电容C2之间的端点连接；所述三极管Q3集电极与所述三极管Q2基极连接，所述三极管Q3基极分别与所述电阻R6另一端和所述电容C2另一端连接，所述三极管Q3发射极接地。本技术的的隔离电压检测电路，所述隔离光耦电路包括微处理器MCU、电容C1、电阻R1以及隔离光耦U1；所述隔离光耦U1的发射极接地，集电极经所述电阻R1与所述微处理器MCU的电源引入脚连接工作电源；所述电容C1一端连接所述隔离光耦U1的集电极与所述微处理器MCU的I/O引脚之间的端点，另一端与所述隔离光耦U1的发射极连接；所述隔离光耦U1阳极与所述电阻R1另一端连接，阴极与所述三极管Q2集电极连接；所述隔离光耦U1的集电极用于作向所述微处理器MCU输出检测结果信号的输出端。本技术的的隔离电压检测电路，所述三极管Q1为PNP三极管，所述三极管Q2和所述三极管Q3为NPN三极管。本技术的的隔离电压检测电路，所述稳压二极管Z1的稳压值大于所述稳压二极管Z2的稳压值。本技术的隔离电压检测电路，所述电阻R1、电阻R2、电阻R4以及电阻R7的阻值相等，且大于所述电阻R5的阻值。本技术的隔离电压检测电路，所述隔离光耦U1为线性隔离光耦。实施本技术的隔离电压检测电路，具有以下有益效果：通过第一检测电路检测输入电压是否大于第一预定值V1，第二检测电路检测输入电压是否大于第二预定值V2，其中，第一预定值V1小于第二预定值V2；再通过分别与第一检测电路、第二检测电路及隔离光耦电路连接的控制开关电路来根据检测所得的输入电压小于第一预定值V1、大于第一预定值V1并小于第二预定值V2、大于第二预定值V2这三种情况，分别驱动隔离光耦电路工作于持续断开、持续导通、导通/断开循环。从而得到持续高电平，持续低电平，高低电平变换的方波。本技术结构设计简单，器件利用率高，生产成本低，系统可靠性高。附图说明下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，附图中：图1是本技术隔离电压检测电路的一实施例的结构示意图；图2是本技术隔离电压检测电路的一实施例的电路原理图。具体实施方式为了对本技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本技术的具体实施方式。如图1所示，是在本技术一个实施例中的隔离电压检测电路结构示意图，其包括隔离光耦电路1、第一检测电路3、第二检测电路4、以及分别与隔离光耦电路1、第一检测电路3和第二检测电路4连接的控制开关电路2，隔离电压检测电路通过第一检测电路1检测输入电压是否大于第一预定值V1，第二检测电路检4检测输入电压是否大于第二预定值V2，再通过控制开关电路2来根据检测所得的输入电压小于第一预定值V1、大于第一预定值V1并小于第二预定值V2、大于第二预定值V2这三种情况，分别驱动隔离光耦电路1工作于持续断开、持续导通、导通/断开循环。从而得到持续高电平，持续低电平，高低电平变换的方波。如图2所示，隔离光耦电路1包括微处理器MCU、电容C1、电阻R1以及隔离光耦U1；隔离光耦U1的发射极接地，集电极经电阻R1与微处理器MCU的电源引入脚连接工作电源VCC；电容C1一端连接隔离光耦U1的集电极与微处理器MCU的I/O引脚之间的端点，另一端与隔离光耦U1的发射极连接；隔离光耦U1阳极与电阻R3另一端连接，阴极与三极管Q2集电极连接；隔离光耦U1的集电极作为向微处理器MCU输出检测结果信号的输出端。隔离光耦U1用于在阳极和阴极导通之时，集电极和发射极导通，进而使得微处理器MCU的输出端的高电平转换为低电平。隔离光耦电路1用于通过自身的断开/导通产生三种电平信号，即持续高电平，持续低电平，高低电平变换的方波。在本实施例中，优选的，隔离光耦U1为线性隔离光耦。电阻R1为10KΩ，电容C1为0.1uf。如图2所示，控制开关电路2包括电阻R3、三极管Q2；其中，三极管Q2的发射极接地，集电极与隔离光耦U1阴极连接，电阻R3一端与隔离光耦U1阳极连接。三极管Q2用于导通和断开控制开关电路2，当三极管Q2的基极和发射极之间电压差达到规定值时三极管Q2导通，进而控制开关电路2导通。控制开关电路2用来根据检测所得的输入电压小于第一预定值V1、大于第一预定值V1并小于第二预定值V2、大于第二预定值V2这三种情况，分别驱动隔离光耦电路1工作于持续断开、持续导通、导通/断开循环三种情况。在本实施例中，优选的，三极管Q2为NPN三极管。如图2所示，第一检测电路3包括电阻R4、稳压二极管Z2、电阻R7、电容C3；电阻R4一端与稳压二极管Z2负极连接，稳压二极管Z2正极与电阻R7一端、电容C3一端和三极管Q2基极连接，电阻R7另一端和电容C3另一端共同接地。稳压二极管Z2检测输入电压是否大于第一预定值V1，当输入电压小本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种隔离电压检测电路，包括隔离光耦电路(1)，其特征在于，还包括：用于检测输入电压是否大于第一预定值V1的第一检测电路(3)；用于检测输入电压是否大于第二预定值V2的第二检测电路(4)，其中，所述第一预定值V1小于所述第二预定值V2；分别与所述第一检测电路(3)、第二检测电路(4)及隔离光耦电路(1)连接，并根据检测所得的输入电压小于所述第一预定值V1、大于所述第一预定值V1并小于所述第二预定值V2、大于所述第二预定值V2这三种情况，分别驱动所述隔离光耦电路(1)工作于持续断开、持续导通、导通/断开循环这三种状态的控制开关电路(2)。

【技术特征摘要】
1.一种隔离电压检测电路，包括隔离光耦电路(1)，其特征在于，还包括：用于检测输入电压是否大于第一预定值V1的第一检测电路(3)；用于检测输入电压是否大于第二预定值V2的第二检测电路(4)，其中，所述第一预定值V1小于所述第二预定值V2；分别与所述第一检测电路(3)、第二检测电路(4)及隔离光耦电路(1)连接，并根据检测所得的输入电压小于所述第一预定值V1、大于所述第一预定值V1并小于所述第二预定值V2、大于所述第二预定值V2这三种情况，分别驱动所述隔离光耦电路(1)工作于持续断开、持续导通、导通/断开循环这三种状态的控制开关电路(2)。2.根据权利要求1所述的隔离电压检测电路，其特征在于，所述控制开关电路(2)包括电阻R3和三极管Q2；其中，所述三极管Q2的发射极接地。3.根据权利要求2所述的隔离电压检测电路，其特征在于，所述第一检测电路(3)包括电阻R4、稳压二极管Z2、电阻R7、以及电容C3；所述电阻R4一端与所述稳压二极管Z2负极连接，所述稳压二极管Z2正极与所述电阻R7一端连接；所述电容C3一端与所述电阻R7和稳压二极管Z2之间的端点连接，并连接至所述三极管Q2基极，另一端接地，所述电阻R7另一端接地。4.根据权利要求3所述的隔离电压检测电路，其特征在于，所述第二检测电路(4)包括二极管D1、三极管Q1、稳压二极管Z1、电阻R6、电阻R2、电阻R5、电容C2、以及三极管Q3；所述二极管D1正极与电压输入端Vin连接，负极分别连接所述三极管Q1的发射极、所述电阻R2的一端、以及所述电阻R4另一端与所述电阻R3一端之间的端点...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄始文，
申请(专利权)人：深圳拓邦股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44