一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法技术方案

技术编号:14078581 阅读:273 留言:0更新日期:2016-11-30 14:33
本发明专利技术提供了一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、配置当前单片机所控制的呈矩阵排列的电磁锁的状态控制引脚;步骤二、分别以行和列列出控制每一个电磁锁的状态控制引脚,并将保存在行数组A[m]和列数组B[n]中,其中,m为密集型电磁锁的行数,n为密集型电磁锁的列数;axy为第x行第y列电磁锁的标号;其中A[m]={{a00,a01...a0n},…,{am0,am1...amn}};B[n]={{a00,a10...am0},…,{a0n,a1n...amn}};步骤三、当收到打开电磁锁axy的命令以后,执行打开动作;步骤四、根据打开的电磁锁axy分别索引到行数组的A[m]中第x行对应的元素A[x],和列数组B[n]中第y列对应的元素B[y],读取A[x]和B[y]元素的所有电磁锁的状态,判断是否有2个以上电磁锁为打开状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于密集型电磁锁系统
,特别涉及一种一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法
技术介绍
在应用密集型电磁锁的场合,如样品分发柜,通常包括矩阵分布的多个柜体单元,每个柜体单元对应设置一个电磁锁,由单片机控制开启,由于电磁锁运行在外界各种复杂环境的中,因为灰尘,潮湿,电气,钣金,短路等因素,会出现上位机给单片机下发一个开锁命令但是却同时打开2个或2个以上电磁锁的情况。因此当开锁以后,为了获知电磁锁开锁结果,常常需要对开锁后电磁锁的状态进行检测。由于单片机的RAM和FLASH容量太少,不能对系统的运行状态进行记录和分析,对于有监控的网点,不能确定多个格口打开发生的时间,运维人员常常需要花很长时间查看监控还原事件当时情形,运营成本太高。对于没有监控的网点,则对快递和货物丢失解决束手无策。再者,对于对事情发生的原因无法追溯,不利于研发人员对产品的改进和优化。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有电磁锁状态检测中成本高、资源利用率低的缺陷,提供了一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法,降低了连线的复杂程度,并很好地降低了系统成本。本专利技术的技术方案是:一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法,包括如下步骤:步骤一、配置当前单片机所控制的呈矩阵排列的电磁锁的状态控制引脚;步骤二、分别以行和列列出控制每一个电磁锁的状态控制引脚,并将保存在行数组A[m]和列数组B[n]中,其中,m为密集型电磁锁的行数,n为密集型电磁锁的列数;axy为第x行第y列电磁锁的标号;其中A[m]={{a00,a01...a0n
一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法

【技术保护点】
一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、配置当前单片机所控制的呈矩阵排列的电磁锁的状态控制引脚;步骤二、分别以行和列列出控制每一个电磁锁的状态控制引脚,并将保存在行数组A[m]和列数组B[n]中,其中,m为密集型电磁锁的行数,n为密集型电磁锁的列数;axy为第x行第y列电磁锁的标号;其中A[m]={{a00,a01...a0n},…,{am0,am1...amn}};B[n]={{a00,a10...am0},…,{a0n,a1n...amn}};步骤三、当收到打开电磁锁axy的命令以后,执行打开动作;步骤四、根据打开的电磁锁axy分别索引到行数组的A[m]中第x行对应的元素A[x],和列数组B[n]中第y列对应的元素B[y],读取A[x]和B[y]元素的所有电磁锁的状态,判断是否有2个以上电磁锁为打开状态。

【技术特征摘要】
1.一种密集型电磁锁系统中检测打开多个电磁锁的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一、配置当前单片机所控制的呈矩阵排列的电磁锁的状态控制引脚;步骤二、分别以行和列列出控制每一个电磁锁的状...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵忠义
申请(专利权)人:深圳壹号柜科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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