一种静止辐射源的定位方法和装置制造方法及图纸

技术编号:13977255 阅读:84 留言:0更新日期:2016-11-11 18:06
本发明专利技术公开了一种静止辐射源的定位方法和装置。所述方法包括:对静止辐射源的感兴趣区域进行均匀的网格划分,得到每一个网格的坐标;计算所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数;使用相位干涉仪对所述静止辐射源进行M次相位测量,得到每次相位测量的相位差测量值,其中M为大于1的正整数;根据每次相位测量的相位差测量值和所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数,计算所述静止辐射源位于每一个网格的累积概率值,将累积概率值中最大值对应的网格坐标定位为所述静止辐射源的位置坐标。本发明专利技术的技术方案能够正确解模糊,减小错误解模糊的概率,提升定位精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及星载干涉仪测向定位
,特别涉及一种静止辐射源的定位方法和装置
技术介绍
干涉仪测相位差测向体制普遍应用于低轨无源测向系统,是一种重要的测向体制。由于卫星平台限制和噪声影响,测向系统存在相位差模糊、测向模糊(即多个方向无法唯一选择)和错误解模糊(即错误选择了一个方向)的问题,成为干涉仪测相位差测向体制高效应用的制约因素。其中,相位差模糊和测向模糊问题已有广泛的研究,而错误解模糊问题则鲜有研究。常用的解模糊方法有基于t检验与F检验的判断方法,但这两种方法仍然存在无法解模糊甚至错误解模糊的概率,特别当基线波长比较大或相位测量误差较大时上述概率无法忽略。
技术实现思路
鉴于上述描述,本专利技术提供了一种静止辐射源的定位方法和装置,以解决现有解模糊方法中无法解模糊、错误解模糊的问题。为达到上述目的,本专利技术的技术方案是这样实现的:一方面,本专利技术提供了一种静止辐射源的定位方法,所述方法包括:对静止辐射源的感兴趣区域进行均匀的网格划分,得到每一个网格的坐标;计算所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数;使用相位干涉仪对所述静止辐射源进行M次相位测量,得到每次相位测量的相位差测量值,其中M为大于1的正整数;根据每次相位测量的相位差测量值和所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数,计算所述静止辐射源位于每一个网格的累积概率值,将累积概率值中最大值对应的网格坐标定位为所述静止辐射源的位置坐标。优选地,所述计算所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数包括:根据相位干涉仪单次相位测量的相位差测量估计值φji(xo,yo,zo)+eji,建立所述静止辐射源位于每一个网格的基础的概率函数: P ′ i ( x k , y p , z 0 ) = Π j = 1 L f ( ( φ j i ( x o , y o , z o ) + e j i ) | ( φ j i ( x k , y p , z o ) , σ e 2 ) ) ; ]]>根据所述相位差测量估计值φji(xo,yo,zo)+eji与相位差测量值φji′的对应关系φji(xo,yo,zo)+eji=φji′+2n1π和所述静止辐射源位于每一个网格的基础的概率函数P'i(xk,yp,z0),计算得到所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数: P i ( x k , y p , z 0 ) = Π j = 1 L f ( ( φ j i ′ + 2 n 1 π ) | ( φ j i ( x k , y p , z 0 ) + 2 n 2 π , σ e 2 ) ) ; ]]>其中,φji(x,y,z)=kj(ui(x,y,z)·dji)/||dji||,kj=2πk0j,k0j为第j条基线长度与信号波长之比,ui(x,y,z)=本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种静止辐射源的定位方法,其特征在于,所述方法包括:对静止辐射源的感兴趣区域进行均匀的网格划分,得到每一个网格的坐标;计算所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数;使用相位干涉仪对所述静止辐射源进行M次相位测量,得到每次相位测量的相位差测量值,其中M为大于1的正整数;根据每次相位测量的相位差测量值和所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数,计算所述静止辐射源位于每一个网格的累积概率值,将累积概率值中最大值对应的网格坐标定位为所述静止辐射源的位置坐标。

【技术特征摘要】
1.一种静止辐射源的定位方法,其特征在于,所述方法包括:对静止辐射源的感兴趣区域进行均匀的网格划分,得到每一个网格的坐标;计算所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数;使用相位干涉仪对所述静止辐射源进行M次相位测量,得到每次相位测量的相位差测量值,其中M为大于1的正整数;根据每次相位测量的相位差测量值和所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数,计算所述静止辐射源位于每一个网格的累积概率值,将累积概率值中最大值对应的网格坐标定位为所述静止辐射源的位置坐标。2.根据权利要求1所述的定位方法,其特征在于,所述计算所述静止辐射源位于每一个网格的概率函数包括:根据相位干涉仪单次相位测量的相位差测量估计值φji(xo,yo,zo)+eji,建立所述静止辐射源位于每一个网格的基础的概率函数: P ′ i ( x k , y p , z 0 ) = Π j = 1 L f ( ( φ j i ( x o , y o , z o ) + e j i ) | ( φ j i ( x k , y p , z o ) , σ ...

【专利技术属性】
技术研发人员:尤明懿陆安南
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第三十六研究所
类型:发明
国别省市:浙江;33

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