图像传感器的制造方法技术

技术编号:13955709 阅读:58 留言:0更新日期:2016-11-02 12:23
本发明专利技术公开了图像传感器的制造方法,包括如下步骤:(1)提供p型衬底,所述p型衬底包括外围区域和像素单元区域;(2)对图像传感器的像素单元区域进行刻蚀,形成浅沟槽区域;(3)对浅沟槽区域的衬里进行氧化;(4)利用沟槽掩膜进行沟槽区域离子注入,在位于像素单元区域的衬底表面形成n型埋层;(5)在像素单元区域的边界处形成环绕所述像素单元区域的n型隔离环;(6)在p型衬底和n型隔离环处分别形成图像传感器的光电转换部和输出部。本发明专利技术制造方法简单,成本低,制造出的图像传感器信噪比高,成像质量好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种传感器的制造方法,具体涉及图像传感器的制造方法
技术介绍
图像传感器在设计及制造过程中需要在硅片上制造像素单元,这些像素结构必须与其周围的器件或区域进行有效隔离,例如与周围的像素结构进行隔离。在现有技术的图像传感器制造方法中,需要一个附加掩膜来形成相邻像素区域之间的注入隔离区,由此增大了图像传感器的制造成本,并且增加了单独的制造注入隔离区的工艺步骤,增加了工艺复杂性。并且,在实际应用中发现,现有的图像传感器信噪比比较低,图像传感器成像质量较差。
技术实现思路
本专利技术针对现有技术的不足,提供一种制造方法简单,制造出的传感器信噪比高,成像质量好的图像传感器制造方法。本专利技术技术方案如下:图像传感器的制造方法,包括如下步骤:(1)提供p型衬底,所述p型衬底包括外围区域和像素单元区域;(2)对图像传感器的像素单元区域进行刻蚀,形成浅沟槽区域;(3)对浅沟槽区域的衬里进行氧化;(4)利用沟槽掩膜进行沟槽区域离子注入,在位于像素单元区域的衬底表面形成n型埋层;(5)在像素单元区域的边界处形成环绕所述像素单元区域的n型隔离环;(6)在p型衬底和n型隔离环处分别形成图像传感器的光电转换部和输
出部。进一步地,步骤4中所述的离子为n型离子,n型离子为磷离子或者砷离子,所述n型隔离环的宽度为0.5-1微米,厚度为1.5-3微米。本专利技术的有益效果在于:本专利技术制造方法简单,成本低,制造出的图像传感器信噪比高,成像质量好。具体实施方式图像传感器的制造方法,通过如下步骤完成:(1)提供p型衬底,p型衬底包括外围区域和像素单元区域;(2)对图像传感器的像素单元区域进行刻蚀,形成浅沟槽区域;(3)对浅沟槽区域的衬里进行氧化;(4)利用沟槽掩膜对沟槽区域注入n型离子,在位于像素单元区域的衬底表面形成n型埋层;(5)在像素单元区域的边界处形成环绕像素单元区域的宽0.5-1微米、厚1.5-3微米的n型隔离环;(6)在p型衬底和n型隔离环处分别形成图像传感器的光电转换部和输出部。经检验,本专利技术制造方法生产的图像传感器信噪比高,成像质量好。本文档来自技高网...

【技术保护点】
图像传感器的制造方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)提供p型衬底,所述p型衬底包括外围区域和像素单元区域;(2)对图像传感器的像素单元区域进行刻蚀,形成浅沟槽区域;(3)对浅沟槽区域的衬里进行氧化;(4)利用沟槽掩膜进行沟槽区域离子注入,在位于像素单元区域的衬底表面形成n型埋层;(5)在像素单元区域的边界处形成环绕所述像素单元区域的n型隔离环;(6)在p型衬底和n型隔离环处分别形成图像传感器的光电转换部和输出部。

【技术特征摘要】
1.图像传感器的制造方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)提供p型衬底,所述p型衬底包括外围区域和像素单元区域;(2)对图像传感器的像素单元区域进行刻蚀,形成浅沟槽区域;(3)对浅沟槽区域的衬里进行氧化;(4)利用沟槽掩膜进行沟槽区域离子注入,在位于像素单元区域的衬底表面形成n型埋层;(5)在像素单元区域的边界处形成环绕所述像素单元区域的n型隔离环;(6)在p型衬底和n型隔离环处分别形成图像传感器的光电转换部和输出部。2.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员:张剑飞
申请(专利权)人:西安立伟电子科技有限责任公司
类型:发明
国别省市:陕西;61

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