轴承外圈内孔高度检测量具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种轴承外圈内孔高度检测量具，包括千分表、连接套、调节座、支架和用于固定轴承外圈的定位块，调节座位于支架的左侧，定位块位于支架的右侧，调节座、支架和定位块均固定在底座上，千分表的芯轴穿设在连接套内，连接套穿设在调节座内，千分表的测针穿过支架，连接套和调节座均径向可调，支架的左侧还设有百分表，百分表的测针穿过支架。本实用新型专利技术通过千分表检测轴承外圈内孔高度精度，并通过百分表检测与轴承外圈开口端面的台阶面精度，测量误差小，操作性强。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及量具
，尤其是一种轴承外圈内孔高度检测量具。
技术介绍
在轴承制造业中需要对轴承外圈的内孔高度进行准确的测量，以保证轴承装配的质量。传统的轴承外圈内孔高度测量装置具有测量误差大、操作性差、随意性较大的缺点。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是：为了解决传统的轴承外圈内孔高度测量装置测量误差大、操作性差、随意性较大的问题，提供一种轴承外圈内孔高度检测量具。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种轴承外圈内孔高度检测量具，包括千分表、连接套、调节座、支架和用于固定轴承外圈的定位块，所述调节座位于支架的左侧，所述定位块位于支架的右侧，所述调节座、支架和定位块均固定在底座上，所述千分表的芯轴穿设在连接套内，所述连接套穿设在调节座内，所述千分表的测针穿过支架，所述连接套和调节座均径向可调，所述支架的左侧还设有百分表，所述百分表的测针穿过支架。使用时将轴承外圈的开口端面与支架的右侧面贴合，使千分表的测针与轴承外圈内孔底部接触，然后将千分表调零，转动轴承外圈，保证轴承外圈在转动过程中其开口端面始终与支架的右侧面贴合，观察千分表的读数变化是否在误差范围内，以判断轴承外圈是否合格；如果千分表的测针穿出支架的长度不够，测针与轴承外圈内孔底部之间具有间隙，间距较大可以将连接套径向调松，将千分表的测针向支架方向移动，直到千分表测针与轴承外圈的内孔底部接触，然后将连接套径向收紧，再按照上述方法进行检测；如果千分表的测针与轴承外圈内孔底部之间的间隙较小，则可以将调节座径向调松，将连接套向支架方向移动，直到千分表测针与轴承外圈的内孔底部接触，然后将调节座径向收紧，再按照上述方法进行检测；由于轴承外圈的开口端为台阶面，百分表的测针与轴承外圈的台阶面接触，用来检测轴承外圈的台阶面精度，百分表测针伸出支架的长度也可以调节。所述连接套包括锁紧部、套筒和堵头，所述锁紧部和堵头的外径均大于套筒的外径，锁紧部和堵头分别设置在套筒的两端，所述锁紧部的端面下部设有与套筒端面连接的凸块，所述锁紧部的上部与套筒端面之间具有间隙，所述锁紧部的上部设有开口，所述锁紧部的外圆面开有穿过所述开口的通孔，所述通孔内设有紧固螺栓，所述紧固螺栓的端部连接有螺母，所述堵头与套筒可拆卸连接。由于锁紧部的上部开口将上部分为两半且锁紧部上部与套筒之间具有间隙，千分表的芯轴穿设在连接套内，拧紧螺母使锁紧部的两半均向中间收缩，从而将锁紧部径向收紧，将千分表的芯轴夹紧，便于检测，反之可以将锁紧径向调松，便于调节千分表的位置；锁紧部和堵头分别位于调节座的两侧，堵头与套筒可拆卸连接，便于将套筒穿进调节座内。所述调节座包括调节部和固定部，所述固定部设置在调节部的两端，所述调节部的两端面下部均设有与固定部连接的连接块，所述调节部的两端面上部与固定部之间具有间隙，所述调节部的上部设有一开口，调节部的外圆面开有穿过所述开口的通孔，所述通孔内设有紧固螺栓，所述紧固螺栓的端部连接有螺母。与连接套的锁紧部相同，调节座的调节部上部被开口分为两半，且调节部上部与固定部之间具有间隙，拧紧螺母使调节部的两半均向中间开口收缩，从而将调节部径向收紧，将连接部的套筒部分夹紧，便于检测，反之可以将调节座径向调松，便于调节连接部的位置，从而调节千分表的位置，使千分表的测针能抵到轴承外圈的内孔底部。所述支架的左侧面设有一固定套，所述百分表的芯轴穿设于固定套内，所述固定套的外圆面设有与固定套中心通孔连通的螺纹孔，所述螺纹孔内连接有螺栓。螺栓将百分表的芯轴锁紧在固定套内，从而便于检测轴承外圈开口端面的台阶面精度；调松螺栓，可以使百分表移动，调节百分表的位置，保证百分表的测针能够与轴承外圈开口端面的台阶面接触。本技术的有益效果是，本技术通过千分表检测轴承外圈内孔高度精度，并通过百分表检测与轴承外圈开口端面的台阶面精度，测量误差小，操作性强。附图说明下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1是本技术实施例的立体结构示意图；图2是本技术实施例的立体结构示意图；图3是实施例中连接套的结构示意图；图4是实施例中调节座的结构示意图。图中：1.千分表，2.连接套，2-1.锁紧部，2-2.套筒，2-3.堵头，2-4.凸块，3.调节座，3-1.调节部，3-2.固定部，3-3.连接块，4.支架，5.定位块，6.底座，7.百分表，8.固定套。具体实施方式现在结合附图对本技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成。如图1和2所示，一种轴承外圈内孔高度检测量具，包括千分表1、连接套2、调节座3、支架4和用于固定轴承外圈的定位块5，所述调节座3位于支架4的左侧，所述定位块5位于支架4的右侧，所述调节座3、支架4和定位块5均固定在底座6上，所述千分表1的芯轴穿设在连接套2内，所述连接套2穿设在调节座3内，所述千分表1的测针穿过支架4，如图3所示，所述连接套2包括锁紧部2-1、套筒2-2和堵头2-3，所述锁紧部2-1和堵头2-3的外径均大于套筒2-2的外径，锁紧部2-1和堵头2-3分别设置在套筒2-2的两端，所述锁紧部2-1的端面下部设有与套筒2-2端面连接的凸块2-4，所述锁紧部2-1的上部与套筒2-2端面之间具有间隙，所述锁紧部2-1的上部设有开口，所述锁紧部2-1的外圆面开有穿过所述开口的通孔，所述通孔内设有紧固螺栓，所述紧固螺栓的端部连接有螺母，所述堵头2-3与套筒2-2可拆卸连接。如图4所示，所述调节座3包括调节部3-1和固定部3-2，所述固定部3-2设置在调节部3-1的两端，所述调节部3-1的两端面下部均设有与固定部3-2连接的连接块3-3，所述调节部3-1的两端面上部与固定部3-2之间具有间隙，所述调节部3-1的上部设有一开口，调节部3-1的外圆面开有穿过所述开口的通孔，所述通孔内设有紧固螺栓，所述紧固螺栓的端部连接有螺母。所述支架4的左侧面设有一固定套8，所述百分表7的芯轴穿设于固定套8内，所述固定套8的外圆面设有与固定套8中心通孔连通的螺纹孔，所述螺纹孔内连接有螺栓。使用时将轴承外圈的开口端面与支架4的右侧面贴合，使千分表1的测针与轴承外圈内孔底部接触，然后将千分表1调零，转动轴承外圈，保证轴承外圈在转动过程中其开口端面始终与支架4的右侧面贴合，观察千分表1的读数变化是否在误差范围内，以判断轴承外圈是否合格；如果千分表1的测针穿出支架4的长度不够，测针与轴承外圈内孔底部之间具有间隙，且间隙较大，可以通过连接套2调节千分表1测针的位置，由于锁紧部2-1的上部开口将上部分为两半且锁紧部2-1上部与套筒2-2之间具有间隙，千分表1的芯轴穿设在连接套2内，旋转锁紧部2-1上螺母使锁紧部2-1的两半各向两侧松开，从而将锁紧部2-1径向调松，便于移动千分表1，千分表1的位置调节好后拧紧螺母，使锁紧部2-1的两半均向中间聚拢，将千分表1夹紧固定，再按照上述方法进行检测；锁紧部2-1和堵头2-3分别位于调节座3的两侧，堵头2-3与套筒2-2可拆卸连接，便于将套筒2-2穿进调节座3内；如果千分表1的测针与轴承外圈内孔底部之间的间隙较小，可以通过调节座3调节连接套2从而调节千分表1测针的位置，由于调本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种轴承外圈内孔高度检测量具，其特征在于：包括千分表(1)、连接套(2)、调节座(3)、支架(4)和用于固定轴承外圈的定位块(5)，所述调节座(3)位于支架(4)的左侧，所述定位块(5)位于支架(4)的右侧，所述调节座(3)、支架(4)和定位块(5)均固定在底座(6)上，所述千分表(1)的芯轴穿设在连接套(2)内，所述连接套(2)穿设在调节座(3)内，所述千分表(1)的测针穿过支架(4)，所述连接套(2)和调节座(3)均径向可调，所述支架(4)的左侧还设有百分表(7)，所述百分表(7)的测针穿过支架(4)。

【技术特征摘要】
1.一种轴承外圈内孔高度检测量具，其特征在于：包括千分表(1)、连接套(2)、调节座(3)、支架(4)和用于固定轴承外圈的定位块(5)，所述调节座(3)位于支架(4)的左侧，所述定位块(5)位于支架(4)的右侧，所述调节座(3)、支架(4)和定位块(5)均固定在底座(6)上，所述千分表(1)的芯轴穿设在连接套(2)内，所述连接套(2)穿设在调节座(3)内，所述千分表(1)的测针穿过支架(4)，所述连接套(2)和调节座(3)均径向可调，所述支架(4)的左侧还设有百分表(7)，所述百分表(7)的测针穿过支架(4)。2.如权利要求1所述的轴承外圈内孔高度检测量具，其特征在于：所述连接套(2)包括锁紧部(2-1)、套筒(2-2)和堵头(2-3)，所述锁紧部(2-1)和堵头(2-3)的外径均大于套筒(2-2)的外径，锁紧部(2-1)和堵头(2-3)分别设置在套筒(2-2)的两端，所述锁紧部(2-1)的端面下部设有与套筒(2-2)端面连接的凸块(2-4)，所述锁紧部(2-1)的上部与套筒(2-...

【专利技术属性】
技术研发人员：许红富，
申请(专利权)人：常州市智华轴承厂，
类型：新型
国别省市：江苏;32