一种分析天平制造技术

技术编号:13866725 阅读:58 留言:0更新日期:2016-10-20 00:38
本实用新型专利技术公开了一种分析天平,所述分析天平包括:测量基座、测量室和测量平台;其中,测量基座的四角设置4个槽孔,该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的柱体、插销,该柱体的侧面设置有与插销配合的定位孔,该4个槽孔的一侧设置有高度不同的多个限位孔。本实用新型专利技术提供的技术方案具有用户使用方便的优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量
,尤其涉及一种分析天平
技术介绍
称量前应检查天平是否正常,是否处于水平位置,吊耳、圈码是否脱落,玻璃框内外是否清洁。分析天平是定量分析工作中不可缺少的重要仪器,一般是指能精确称量到0.0001克(0.1毫克)的天平。分析天平中平稳性对检测的精度影响很大,现有的分析天平仅仅只能在平面上使用,无法在不平整的平台使用,这对于户外使用来说非常不方便。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种分析天平,该分析天平具有使用方便的优点。一种分析天平,所述分析天平包括:测量基座、测量室和测量平台;其中,测量基座的四角设置4个槽孔,该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的柱体、插销,该柱体的侧面设置有与插销配合的定位孔,该个槽孔的一侧设置有高度不同的多个限位孔。可选的,所述测量室内还包括:加热管。由上述本技术提供的技术方案可知,该分析天平的底部设置有柱体和槽孔,这样分析天平就可以依据该柱体来调节分析天平的平整度,所以其能够在户外使用,所以其具有用户使用方便的优点。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域的普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他附图。图1为本技术所提供分析天平的结构示意图;图2为本技术提供的分析天平的柱体和槽孔的配合示意图。具体实施方式下面结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术的保护范围。下面将结合附图对本技术实施例作进一步地详细描述,如图1、2所示为本技术所提供分析天平的结构示意图,所述分析天平包括:测量基座1、测量室2和测量平台3;其中,测量基座1的四角设置4个槽孔10,该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的中空柱体20、插销,该柱体的侧面设置有与插销配合的中空定位孔21,该4个槽孔10的一侧设置有高度不同的多个限位孔19。本技术提供的分析天平的底部设置有柱体和槽孔,这样分析天平就可以依据该柱体来调节分析天平的平整度,所以其能够在户外使用,所以其具有用户使用方便的优点。综上所述,本技术实施例所提供的技术方案能够对分析天平的高度进行调整。以上所述,仅为本技术较佳的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本
的技术人员在本技术披露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此,本技术的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种分析天平,其特征在于,所述分析天平包括:测量基座、测量室和测量平台;其中,测量基座的四角设置4个槽孔,该分析天平还包括:与该4个槽孔配合的柱体、插销,该柱体的侧面设置有与插销配合的定位孔,该4个槽孔的一侧设置有高度不同的多个限位孔。

【技术特征摘要】
1.一种分析天平,其特征在于,所述分析天平包括:测量基座、测量室和测量平台;其中,测量基座的四角设置4个槽孔,该分析天平...

【专利技术属性】
技术研发人员:戴贵辉
申请(专利权)人:广东中健检测技术有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1