IGBT过流保护方法、装置和家用电器制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种IGBT过流保护方法、装置和家用电器，所述方法包括以下步骤：在预设时间段内，对IGBT的工作电流进行等间隔采样以获取采样电流序列；根据采样的采样间隔和采样电流序列计算预设时间段内的功耗；以及如果预设时间段内的功耗大于预设功耗阈值，则对IGBT进行过流保护。本发明专利技术实施例的IGBT过流保护方法，获取预设时间段内的功耗并判断预设时间段内的功耗是否大于预设功耗阈值，如果是，则判断IGBT过流，从而对IGBT进行过流保护，防止电子元器件的损坏。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电器
，尤其涉及一种IGBT过流保护方法、装置和家用电器。
技术介绍
目前，相关技术中的家用电器IGBT过流保护所采用的方案是设置一个电流最大阀值点，当电流超过该阀值点时候，认为过流，则对IGBT进行过流保护。实际上，瞬间过流并不会对电路造成很大影响，长时间的过流才会导致电路消耗功耗太大，从而损坏电子元器件。因此，相关技术中的家用电器IGBT过流保护方案有待改进。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的一个目的在于提出一种IGBT过流保护方法，该方法获取预设时间段内的功耗并判断预设时间段内的功耗是否大于预设功耗阈值，如果是，则判断IGBT过流，从而对IGBT进行过流保护，防止电子元器件的损坏。本专利技术的第二个目的在于提出一种IGBT过流保护装置。本专利技术的第三个目的在于提出一种家用电器。为了实现上述目的，本专利技术第一方面实施例的IGBT过流保护方法，包括以下步骤：在预设时间段内，对IGBT的工作电流进行等间隔采样以获取采样电流序列；根据所述采样的采样间隔和所述采样电流序列计算所述预设时间段内的功耗；以及如果所述预设时间段内的功耗大于预设功耗阈值，则对所述IGBT进行过流保护。根据本专利技术实施例的IGBT过流保护方法，获取预设时间段内的功耗并判断预设时间段内的功耗是否大于预设功耗阈值，如果是，则判断IGBT过流，从而对IGBT进行过流保护，防止电子元器件的损坏。在本专利技术的一个实施例中，通过以下公式计算所述预设时间段内的功耗：W(Δt)＝(r*i1*i1*Δt1)+(r*i2*i2*Δt2)+(r*i3*i3*Δt3)+…(r*in*in*Δtn)，其中，Δt为所述预设时间段，Δt＝Δt1+Δt2+Δt3+…+Δtn，Δt1为所述采样的采样间隔，r为所述IGBT外围电路电阻的阻值，i1，i2，i3，…，in为所述采样电流序列。为了实现上述目的，本专利技术第二方面实施例的IGBT过流保护装置，包括：采样模块，用于在预设时间段内，对IGBT的工作电流进行等间隔采样以获取采样电流序列；过流判断模块，用于根据采样的采样间隔和所述采样电流序列计算所述预设时间段内的功耗，并在所述预设时间段内的功耗大于预设功耗阈值时判断所述IGBT过流；以及过流保护模块，用于在所述过流判断模块判断所述IGBT过流之后，对所述IGBT进行过流保护。根据本专利技术实施例的IGBT过流保护装置，过流判断模块获取预设时间段内的功耗并判断预设时间段内的功耗是否大于预设功耗阈值，如果是，则判断IGBT过流，过流保护模块则对IGBT进行过流保护，防止电子元器件的损坏。在本专利技术的一个实施例中，所述采样模块包括：第一电阻，所述第一电阻的第一端与所述IGBT的发射极相连；第二电阻，所述第二电阻的第一端与所述第一电阻的第二端相连，所述第二电阻的第二端接地，所述第二电阻的第一端与所述过流判断模块相连。在本专利技术的一个实施例中，所述采样模块还包括：与所述第二电阻并联的电容。为了实现上述目的，本专利技术第三方面实施例的家用电器，包括本专利技术第二方面实施例的IGBT过流保护装置。根据本专利技术实施例的家用电器，通过IGBT过流保护装置对IGBT进行过流保护，防止电子元器件的损坏，从而提升了家用电器的使用寿命。附图说明图1是根据本专利技术一个实施例的IGBT过流保护方法的流程图；图2是根据本专利技术一个实施例的IGBT的工作电流的示意图；图3是根据本专利技术一个实施例的IGBT过流保护装置的方框图；图4是根据本专利技术一个实施例的IGBT过流保护装置的电路示意图。附图标记：采样模块10、过流判断模块20、过流保护模块30、第一电阻R1、第二电阻r和电容C1。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。图1是根据本专利技术一个实施例的IGBT过流保护方法的流程图。如图1所示，本专利技术实施例的IGBT过流保护方法，包括以下步骤：S1，在预设时间段内，对IGBT的工作电流进行等间隔采样以获取采样电流序列。具体地，在预设时间段内，每隔Δt1对IGBT的工作电流进行采样，以获取采样电流序列。S2，根据采样的采样间隔和采样电流序列计算预设时间段内的功耗。具体地，在预设时间段内对IGBT外围电路电阻r的功率p进行积分，以获得功耗因为p＝ui＝i*i*r，所以， W ( t ) = ∫ Δt 1 Δtn ( r * i * i ) * Δt = ∫ Δt 1 Δtn r * ( i * i ) * Δt , ]]>其中，r为一常量，且r为外围电路电阻阻值。更具体地，在本专利技术的实施例中，对于预设时间段内的(例如，如图2所示的Δt时间内)功耗的计算，采用无限元分割元法，即：W(Δt)＝(r*i1*i1*Δt1)+(r*i2*i2*Δt2)+(r*i3*i3*Δt3)+…(r*in*in*Δtn)， (1)其中，Δt为预设时间段，Δt＝Δt1+Δt2+Δt3+…+Δtn，Δt1为采样的采样间隔，且Δt1＝Δt2＝Δt3＝…＝Δtn，r为IGBT外围电路电阻的阻值，i1，i2，i3，…in为采样电流序列。另外，如图2中所示，(1)表示IGBT开机后开始工作时候的电流波形，(2)表示IGBT正常工作时电流波形，(3)表示IGBT异常时候的电流波形。S3，如果预设时间段内的功耗大于预设功耗阈值，则对IGBT进行过流保护。具体地，预先计算出正常情况下不会损害电路时预设时间段内的最大功耗Wmax，也就是预设功耗阈值，当预设时间段内的功耗W(Δt)>Wmax时，就认为发生过流，则保护IGBT及其整个电路系统。本专利技术实施例的IGBT过流保护方法，获取预设时间段内的功耗并判断预设时间段内的功耗是否大于预设功耗阈值，如果是，则判断IGBT过流，从而对IGBT进行过流保护，防止电子元器件的损坏。为了实现上述实施例，本专利技术还提出了一种IGBT过流保护装置。图3是根据本专利技术一个实施例的IGBT过流保护装置的方框图。如图3所示，本专利技术实施例的IGBT过流保护装置，包括：采样模块10、过流判断模块20和过流保护模块30。采样模块10用于在预设时间段内，对IGBT的工作电流进行等间隔采样以获取采样电流序列。具体地，在预设时间段内，每隔Δt1对IGBT的工作电流进行采样，以获取采样电流序列。在本专利技术的一个实施例中，如图4所示，采样模块10包括：第一电阻R1，第一电阻本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种IGBT过流保护方法，其特征在于，包括以下步骤：在预设时间段内，对IGBT的工作电流进行等间隔采样以获取采样电流序列；根据所述采样的采样间隔和所述采样电流序列计算所述预设时间段内的功耗；以及如果所述预设时间段内的功耗大于预设功耗阈值，则对所述IGBT进行过流保护。

【技术特征摘要】
1.一种IGBT过流保护方法，其特征在于，包括以下步骤：在预设时间段内，对IGBT的工作电流进行等间隔采样以获取采样电流序列；根据所述采样的采样间隔和所述采样电流序列计算所述预设时间段内的功耗；以及如果所述预设时间段内的功耗大于预设功耗阈值，则对所述IGBT进行过流保护。2.如权利要求1所述的IGBT过流保护方法，其特征在于，通过以下公式计算所述预设时间段内的功耗：W(Δt)＝(r*i1*i1*Δt1)+(r*i2*i2*Δt2)+(r*i3*i3*Δt3)+…(r*in*in*Δtn)，其中，Δt为所述预设时间段，Δt＝Δt1+Δt2+Δt3+…+Δtn，Δt1为所述采样的采样间隔，r为所述IGBT外围电路电阻的阻值，i1，i2，i3，…，in为所述采样电流序列。3.一种IGBT过流保护装置，其特征在于，包括：采样模块，用于在预设时间...

【专利技术属性】
技术研发人员：马志海，王志锋，区达理，王新元，陈逸凡，刘志才，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，美的集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44