消除被测物体表面盲点的显微镜辅助装置制造方法及图纸

技术编号:13838059 阅读:83 留言:0更新日期:2016-10-16 00:49
本发明专利技术提出一种消除被测物体表面盲点的显微镜辅助装置。该显微镜辅助装置包括底座、旋转基体、旋转驱动机构和置物台以及置物台支架;所述底座的上表面开设有凹槽以及横穿凹槽的转轴,旋转基体通过转轴安装于所述凹槽内,能够在旋转驱动机构的作用下相对于凹槽自由转动;所述旋转基体在转轴所在的位置开设有缺口,在该缺口形成的内凹表面通过水平调节组件固定安装置物台支架,所述置物台通过竖直调节组件与置物台支架安装连接;所述置物台的上表面设置有用于安放固定被观测物体的机构。该装置只需要添加在显微镜载物台表面,通过操作该装置,即可实现对被测物体全方位观察,消除被测物体表面的盲点,补足被测物体的全方位信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种显微镜辅助装置。
技术介绍
反射光显微镜观测物体的原理是:外来光源照射到物体表面,被物体反射后进入显微镜成像系统,形成放大的像。但是只能观察光源直接照射在物体表面区域的像,对于一些特殊孔洞及沟槽,由于侧壁呈倒角分布,入射光被孔洞及沟槽的上表面遮挡,光无法完全进入孔洞及沟槽的底部和侧壁。在显微镜观察物体时,这些无法被观察的区域形成盲点,造成被测物体信息的缺失。为了消除这种测试现象,目前韩国的HUVITZ数码显微镜通过调整物镜的倾斜角度,可以实现对被测物体全方位观察,消除被测物体表面的盲点,补足被测物体的全方位信息。但是,该显微镜价格昂贵,且只适用于固定型号的显微镜。对于市场上常见的反射显微镜,如果采用该技术对其改装,则存在破坏现有光学系统导致成像质量降低以及损坏显微镜原有构造的风险。
技术实现思路
为了各种常见反射显微镜消除盲点,并避免改装显微镜引入显微镜成像质量降低以及损坏显微镜原有构造的风险,本专利技术提出一种新型的显微镜辅助装置。本专利技术的技术方案如下:消除被测物体表面盲点的显微镜辅助装置,包括底座、旋转基体、旋转驱动机构和置物台以及置物台支架;所述底座的上表面本文档来自技高网...

【技术保护点】
消除被测物体表面盲点的显微镜辅助装置,其特征在于:包括底座、旋转基体、旋转驱动机构和置物台以及置物台支架;所述底座的上表面开设有凹槽以及横穿凹槽的转轴,旋转基体通过转轴安装于所述凹槽内,能够在旋转驱动机构的作用下相对于凹槽自由转动;所述旋转基体在转轴所在的位置开设有缺口,在该缺口形成的内凹表面通过水平调节组件固定安装置物台支架,所述置物台通过竖直调节组件与置物台支架安装连接;所述置物台的上表面设置有用于安放固定被观测物体的机构。

【技术特征摘要】
1.消除被测物体表面盲点的显微镜辅助装置,其特征在于:包括底座、旋转基体、旋转驱动机构和置物台以及置物台支架;所述底座的上表面开设有凹槽以及横穿凹槽的转轴,旋转基体通过转轴安装于所述凹槽内,能够在旋转驱动机构的作用下相对于凹槽自由转动;所述旋转基体在转轴所在的位置开设有缺口,在该缺口形成的内凹表面通过水平调节组件固定安装置物台支架,所述置物台通过竖直调节组件与置物台支架安装连接;所述置物台的上表面设置有用于安放固定被观测物体的机构。2.根据权利要求1所述的显微镜辅助装置,其特征在于:所述凹槽为半球型凹槽。3.根据权利要求1所述的显微镜辅助装置,其特征在于,所述旋转驱动机构的具体结构为:在底座的侧面开设有贯通至所述凹槽的弧形通槽,弧形通槽内插接有与旋转基体侧面固定连接的摇杆,弧形通槽即作为该摇杆的驱动行程。4.根据权利要求1所述的显微镜辅助装置,其特征在于:所述转轴安装于旋转基体的一角,置物台支架通过水平调节组件与缺口形成的内凹表面的内侧立面固定连接,置物台以及置物台支架与所述内侧立面保持间距;所述水平调节组件包括自缺口...

【专利技术属性】
技术研发人员:李秀山王贞福杨国文
申请(专利权)人:中国科学院西安光学精密机械研究所
类型:发明
国别省市:陕西;61

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