本实用新型专利技术公开了一种多功能高精度测量装置，包括固定底板，固定底板上相对设置有滑块和百分表，滑块包括一平滑端面，百分表测量指针朝向并垂直于滑块的平滑端面，百分表测量指针端部固定有一挡片，挡片表面光滑平整，挡片与滑块的平滑端面平行，固定底板上设置有滑道，滑块可沿滑道移动。本测量装置不需要对待测件进行夹持，不会引起待测件的变形，也不会引起测量工具的变形，且测量操作简单，读书快速，并能够实现对长度、圆周直径、平面度等测量变量的精准测量。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于机械零部件测量装置领域，更具体的说涉及一种能够实现对多种测量变量进行测量的多功能高精度测量装置。
技术介绍
随着机械加工的发展，对机械加工零部件的精度要求也越来越高，现有技术中的游标卡尺、千分尺等高精度测量仪器往往需要对待测零部件进行夹持，但是在夹持的过程中，夹持力度往往会引起待测件表面或测量工具夹持部的微量变形，即影响测量精度，甚至对后续测量件的精度也会有影响，不能够满足现有技术中对机械加工零部件的精度要求。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种多功能高精度测量装置，本测量装置不需要对待测件进行夹持，不会引起待测件的变形，也不会引起测量工具的变形，且测量操作简单，读书快速，并能够实现对长度、圆周直径、平面度等测量变量的精准测量。本技术技术方案一种多功能高精度测量装置，包括固定底板，所述固定底板上相对设置有滑块和百分表，所述滑块包括一平滑端面，所述百分表测量指针朝向并垂直于滑块的平滑端面，所述百分表测量指针端部固定有一挡片，所述挡片表面光滑平整，所述挡片与滑块的平滑端面平行，所述固定底板上设置有滑道，所述滑块可沿滑道移动。优选的，所述滑块呈直三棱柱状，所述固定底板上设置有三条相互平行的滑道，所述直三棱柱状的滑块底面的三个顶角上分别设置有滑轮，所述三个滑轮分
别置于三条滑道内。优选的，所述滑轮上设置有刹车片。优选的，所述百分表底部设置升降杆，所述升降杆与固定底板固接，所述升降杆的最大高度与滑块高度相适应。本技术技术有益效果：本技术技术方案的一种多功能高精度测量装置，测量时，将待测件或待测件的待测位置置于滑块与挡片之间，利用滑块与挡片间的距离实现测量，测量过程中，不需要对待测件进行夹持，不会引起待测件或量具自身的微量变形，测量精准、快速，并能够实现对长度、圆周直径、平面度等测量变量的精准测量。附图说明图1为本技术一种多功能高精度测量装置俯视图，图2为本技术一种多功能高精度测量装置主视图，图3为本技术一种多功能高精度测量装置在测量长度时的测量方法，图4为本技术一种多功能高精度测量装置在测量直径时的测量方法。具体实施方式为便于本领域技术人员理解本技术技术方案，现结合说明书附图对本技术技术方案做进一步的说明。如图1、图2所示，一种多功能高精度测量装置，包括固定底板1，所述固定底板1上相对设置有滑块2和百分表3，所述滑块2包括一平滑端面10，所述百分表3的测量指针5朝向并垂直于滑块2的平滑端面10，所述百分表测量指针5端部固定有一挡片4，所述挡片4表面光滑平整，所述挡片4与滑块2的平滑端面10平行，所述固定底板1上设置有滑道8，所述滑块2可沿滑道8移动。如图1、图2所示，所述滑块2呈直三棱柱状，所述固定底板1上设置有三条相互平行的滑道8，所述直三棱柱状的滑块2底面的三个顶角上分别设置有滑轮6，所述三个滑轮6分别置于三条滑道8内，所述滑轮6上设置有刹车片7，所述百分表3底部设置升降杆9，所述升降杆9与固定底板1固接，所述升降杆9的最大高度与滑块2高度相适应。本技术技术方案的一种多功能高精度测量装置，测量长度时，如图3所示，滑动滑块2，调整滑块2的平滑端面10与挡片4之间的距离，使得本距离为待测件要求的最小长度，本最小长度通过标准件进行测量，待最小长度调整好后，调整滑轮6上的刹车片7，将滑块2固定，将后续需要进行测量的待测件A置于滑块2的平滑端面10与挡片4之间，读取百分表7上的测量读数，将本测量读数与最小长度相加即为待测件的长度，本测量过程中，不需要对待测件A进行夹持，不会造成待测件A的变形或测量量具的变相，测量精度高、速度快。本技术技术方案的一种多功能高精度测量装置，测量直径时，如图4所示，调整升降杆9，使得百分表3的测量指针5距离固定底板1的高度与待测件半径大致相等，即挡片4的中心大致与待测件B的直径位置相适应，滑动滑块2，调整滑块2的平滑端面10与挡片4之间的距离，使得本距离为待测件要求的最小直径，本最小直径通过标准件进行测量固定，固定滑块2，将后续需要进行测量的待测件B置于滑块2的平滑端面10与挡片4之间，读取百分表7上的测量读数，将本测量读数与最小直径相加即为待测件的直径，本测量过程中，不需要对待测件B进行夹持，不会造成待测件B的变形或测量量具的变相，测量精度高、速度快。本技术技术方案的一种多功能高精度测量装置，多用于需要对大量的相
同型号、相同待测变量的待测件进行测量，利用待测件尺寸要求的公差范围进行测量，利用待测件的要求的最小长度加上百分表读数即为待测件的长度，若待测件的长度在要求的公差范围内即为合格产品，若不在公差范围内即为不合格产品或需要在加工产品，这种测量方法多适合用于对产品进行检测上，也可以用于加工机床上对同一型号的产品进行大规模生产中的检测和测量。本技术技术方案在上面结合附图对技术进行了示例性描述，显然本技术具体实现并不受上述方式的限制，只要采用了本技术的方法构思和技术方案进行的各种非实质性改进，或未经改进将技术的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多功能高精度测量装置，包括固定底板，其特征在于，所述固定底板上相对设置有滑块和百分表，所述滑块包括一平滑端面，所述百分表测量指针朝向并垂直于滑块的平滑端面，所述百分表测量指针端部固定有一挡片，所述挡片表面光滑平整，所述挡片与滑块的平滑端面平行，所述固定底板上设置有滑道，所述滑块可沿滑道移动。
【技术特征摘要】
1.一种多功能高精度测量装置，包括固定底板，其特征在于，所述固定底板上相对设置有滑块和百分表，所述滑块包括一平滑端面，所述百分表测量指针朝向并垂直于滑块的平滑端面，所述百分表测量指针端部固定有一挡片，所述挡片表面光滑平整，所述挡片与滑块的平滑端面平行，所述固定底板上设置有滑道，所述滑块可沿滑道移动。2.根据权利要求1所述的一种多功能高精度测量装置，其特征在于，所述滑块呈...
【专利技术属性】
技术研发人员：同长虹，魏伟，董世方，于国红，王志全，万芳新，
申请(专利权)人：兰州城市学院，
类型：新型
国别省市：甘肃;62
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