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基于二次偏振的高精度绝对距离测量装置及其测量方法制造方法及图纸

技术编号:13710423 阅读:86 留言:0更新日期:2016-09-16 10:37
本发明专利技术公开了一种基于二次偏振调制的高精度绝对距离测量装置,由光路部分和电路部分构成。1550nm激光器产生的激光光束自环形器1口进入,2口出射到偏振分束器起偏,经过相位调制器调制后,往返两次经过光纤准直器、1/4波片,以及一次经过反射镜反射后经过相位调制器进行二次调制;光信号在偏振分束器上偏振干涉,偏振分束器输出光强信号;微控制器控制高频微波源的调制频率输出,微控制器采集A/D转换器的数字数据;每改变一次高频微波源的调制频率输出,微控制器均采集一次A/D转换器的数字数据,从而得到输出光强信号与调制频率的扫频曲线,利用扫频曲线上两个相邻的信号强度极小值点对应的调制频率极值点从而得到被测距离。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种偏振调制测距系统,该测距系统结构紧凑、抗环境干扰能力强,可应用于航空航天等各种

技术介绍
在科学技术的飞速发展中,对距离测量技术的要求越来越广泛,尤其在军事、大地大气探测、机器人技术、航天航空、大型科学仪器、大型设备的制造与生产、大型设备的装配等各个方面,都对测距技术的发展和应用提出了越来越高的要求。大型设备科学仪器的制造与装配过程中,对激光测距的精度要求较高。这是由于加工与装配的精度是由测距精度直接决定的。几何测量的精度成为了决定制造装配精度的一个重要约束条件。而目前随着火箭、轮船、飞机等大型设备对装配精度要求的不断提高,对大量程高精度的激光测距技术的测距精度也提出了更高的要求。如在飞机的装配过程中,为了提高装配的效率,都是通过建立各个方向的测量场的办法来实现整个装配过程的。所谓的测量场就是说,建立相互坐标已经精确测定的坐标基准,通过测量各个部件与这些基准的相对距离从而确定各个部件之间的相对位置信息,进而实现高精度的装配。传统的激光测距原理共分为3类:脉冲飞行时间法、相位法和干涉法。脉冲飞行时间法测距是激光在测距领域的最早应用,利用了激光脉冲持续时间极短、瞬时功率很大的特点,有着很大的测试范围。但其测试精度与分辨率却很低,限制了其发展应用。相位法激光测距是利用发射的调制光和被测目标反射的接收光之间的相位差包含的距离信息,来实现对被测目标距离的测量。其测试精度受到调制频率高低和鉴相精度的影响,而且存在模糊距离,需要采用多频率调制的办法来扩展测量的范围。干涉法测距是经典的精密测距方法,原则上它也是一种相位法测距,但它不是通过测量激光调制信号的相位差,而是测量光波本身的相位干涉来测距。但传统的干涉法在测量时只能得到距离的相对变化,无法获取真实的距离信息。在大量程绝对距离测量中需要采用多个波长测量的方法,即合成波长法或者调频光源法。其中相位法激光测距技术由于其测量精度高等优点广泛的应用在精密测距领域,而相位法激光测距技术的测距精度直接取决于鉴相的精度。目前常见的鉴相技术中,鉴相精度有限,且相位法测距存在模糊距离问题,因此想要提升相位法激光测距的测距精度便要牺牲相位激光测距的量程。这使得相位法激光测距在大量程、高精度方面遇到技术难题。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题,本专利技术提出一种基于二次偏振的高精度绝对距离测量装置
及其测量方法,本专利技术利用偏振调制抗干扰能力强,鉴相电路简单,附加相移噪声小等优势,用偏振光的干涉解调过程代替了传统相位法激光测距技术中的模拟鉴相过程,同时应用小步长改变调制频率,微波源扫频测量的方法解决了相位测距系统中的模糊距离问题。本专利技术测距系统的结构紧凑,体积小,精度高,抗干扰能力强,实用性广泛,对于工业测控、精密仪器制造等各个领域的发展都有一定的促进作用。为了解决上述技术问题,本专利技术提出的一种基于二次偏振调制的高精度绝对距离测量装置,由光路部分和电路部分构成,其中:光路部分包括依次布置的一个1550nm波长激光光源、一个环形器、一个偏振分束器、一个偏振控制器、一个相位调制器、一个光纤准直器、一个1/4波片和一个反射镜系统;所述电路部分包括一个光电探测器、一个A/D转换器、一个高频微波源和一个微控制器;所述环形器包括有1口、2口和3口;所述1550nm波长激光光源与所述环形器的1口相连,所述环形器的2口连接至所述偏振分束器,所述光电探测器与所述环形器3口相连。利用上述基于二次偏振的高精度绝对距离测量装置的测量方法,步骤如下:所述1550nm激光器产生的激光光束自所述环形器的1口进入,并从2口出射;然后经过所述偏振分束器起偏,通过所述偏振控制器控制起偏后的线偏光与所述相位调制器的快轴呈45°角,经过所述相位调制器调制后的偏振光依次经过光纤准直器、1/4波片及反射镜反射后再依次经过1/4波片、光纤准直器后,经过相位调制器进行二次偏振调制;光信号携带着与被测距离D相关的相位信息在偏振分束器上偏振干涉,使得与被测距离D相关的相位信息变成光强信息,所述偏振分束器输出光强信号;所述微控制器通过SPI通信控制所述高频微波源的调制频率输出,所述微控制器采集所述A/D转换器的数字数据;以等步长改变高频微波源的调制频率输出,每改变一次高频微波源的调制频率输出,所述微控制器均采集一次所述A/D转换器的数字数据,从而根据下式得到输出光强信号与调制频率的扫频曲线: I = 2 k 2 ( 1 - c o s ( 4 π L c f ) ) - - - ( 1 ) ]]>式(1)中,I表示信号强度;k为相位调制器(5)的调制度,L为被测距离,单位(单位m;c为光速,单位m;f为调制频率,单位Hz;当被测距离D为调制频率f1对应半波长的N倍时,被测距离D与调制频率f1的关系式为: D = Nλ 1 / 2 = N c 2 f 1 - - - ( 2 ) ]]>式(2)中,N为半波长整数倍;λ1为调制频率为f1时对应的微波波长,单位m;f1为信号强度极小值点对应的调制频率极值点,单位Hz;当实测距离D为调制频率f2对应半波长的N+1倍时,被测距离D与调制频率f2的关系式为: D = ( N + 1 ) λ 2 / 2 = ( N + 1 ) c 2 f 2 - - - ( 3 ) ]]>式(3)中,λ2为调制频率为f2时对应的微波波长,单位m;f2为信号强度极小值点对应的调制频率极值点,单位Hz。通过扫频曲线得到扫频曲线上两个相邻的信号强度极小值点对应的调制频率极值点f1和f2,将式(2)和式(3)联立,从而得到被测距离D。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:(1)本专利技术利用偏振光分量干涉解调的过程实现传统相位法激光测距技术当中的模拟鉴相过程。一般的模拟鉴相系统都会通过混频与低通滤波来将高频率的输入信号转变为低频率的信号或者直流信号进行鉴相。两路相位信息不同本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种基于二次偏振调制的高精度绝对距离测量装置,其特征在于,由光路部分和电路部分构成,其中:光路部分包括依次布置的一个1550nm波长激光光源(1)、一个环形器(2)、一个偏振分束器(3)、一个偏振控制器(4)、一个相位调制器(5)、一个光纤准直器(6)、一个1/4波片(7)和一个反射镜系统(12);所述电路部分包括一个光电探测器(8)、一个A/D转换器(10)、一个高频微波源(9)和一个微控制器(11);所述环形器(2)包括有1口、2口和3口;所述1550nm波长激光光源(1)与所述环形器(2)的1口相连,所述环形器(2)的2口连接至所述偏振分束器(3),所述光电探测器(8)与所述环形器(2)3口相连。

【技术特征摘要】
1.一种基于二次偏振调制的高精度绝对距离测量装置,其特征在于,由光路部分和电路部分构成,其中:光路部分包括依次布置的一个1550nm波长激光光源(1)、一个环形器(2)、一个偏振分束器(3)、一个偏振控制器(4)、一个相位调制器(5)、一个光纤准直器(6)、一个1/4波片(7)和一个反射镜系统(12);所述电路部分包括一个光电探测器(8)、一个A/D转换器(10)、一个高频微波源(9)和一个微控制器(11);所述环形器(2)包括有1口、2口和3口;所述1550nm波长激光光源(1)与所述环形器(2)的1口相连,所述环形器(2)的2口连接至所述偏振分束器(3),所述光电探测器(8)与所述环形器(2)3口相连。2.一种基于二次偏振的高精度绝对距离测量方法,其特征在于,利用如权利要求1所述基于二次偏振的高精度绝对距离测量装置,并按照以下步骤:所述1550nm激光器(1)产生的激光光束自所述环形器(2)的1口进入,并从2口出射;然后经过所述偏振分束器(3)起偏,通过所述偏振控制器(4)控制起偏后的线偏光与所述相位调制器(5)的快轴呈45°角,经过所述调制后的偏振光依次经过光纤准直器(6)、1/4波片(7)及反射镜(12)反射后再依次经过1/4波片(7)、光纤准直器(6)后,经过相位调制器(5)进行二次偏振调制;光信号携带着与被测距离D相关的相位信息在偏振分束器(3)上偏振干涉,使得与被测距离D相关的相位信息变成光强信息,所述偏振分束器(3)输出光强信号;所述微控制器(11)通过SPI通信控制所述高频微波源(9)的调制频率输出,所述微控制器(11)采集所述A/D转换器(10)的数字数据;以等步长改变高频微波源(9)的调制频率输出,每改变一次高频微波源(9)的调制频率输出,所述微控制器(11)均采集一次所述A/D转换器(10)的数字数据,从而根据下式得到输出光强信号与调制频率的扫频曲线: I = 2 k 2 ( 1 - c o s ( ...

【专利技术属性】
技术研发人员:于晋龙肖洋王菊吴炳阳朱煦然赵博雅汤轲李天宇
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:天津;12

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