一种用于视窗防护屏的测量系统技术方案

本发明专利技术实施例提出一种用于视窗防护屏的测量系统，包括计算机，电路处理模块，光电探测器以及测量装置，所述测量装置与所述光电探测器耦合，所述光电探测器将所述测量装置输出的测量光信号转化为测量电信号，并经过所述电路处理模块后进入到计算机进行计算，得出测量结果并显示。本发明专利技术实施例提供的测量系统，可以实现高精度，高效率地对视窗防护屏进行非接触式的测量，可满足工业化生产中对视窗防护屏的检测要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测量领域，尤其是一种测量视窗防护屏表面平整度的测量系统。
技术介绍
视窗防护屏(Cover Lens)是加之于显示屏外、用于对触摸屏的触控模组、显示屏和对非触摸屏的显示屏进行保护的透明镜片。由于触摸屏的触控模组属于精密加工的灵敏元器件，若裸露在外容易因磨损、尖锐物品划伤而影响其使用效果和寿命，非触摸屏的显示屏(特别是液晶显示屏)容易受挤压而造成光斑、黑块、水波纹等而影响其使用，因此需要在手机、平板电脑、笔记本、平板电视等的显示屏外增加一块防护屏，用于保护触控模组和显示屏等免受损伤。目前，视窗防护屏主要用于对手机、平板电脑、MP3/MP4等产品的平板显示器进行装饰和保护，具有表面抗划伤、超薄防震、屏幕保护等功能，因此，视窗防护屏主要使用化学强化玻璃，一块好的视窗防护屏具有薄、透光度好、机械强度高、硬度大等特点。在视窗防护屏的加工过程中需要经过多道工序，有可能会造成防护屏的形变，这些形变往往是随机的，不可预测的，无论怎么改进工艺，由于形变产生的次品总是随机地出现，不平整的视窗防护屏会影响用户的使用感觉，例如视觉上感觉到有奇点的存在，手触控感觉不平滑等，也可能会影响性能，视窗防护屏是用户接触的最外层屏幕，
在触感控制中，将触控命令传递给下面的触感层，如果视窗防护屏不平整，则触控命令的传递可能出错，导致触控性能不佳。因此，在视窗防护屏的生产中，往往要对批次的视窗防护屏进行平整度测量，二在现有的工厂化生产中，有通过采用目测法、机器视觉或接触式测量等方法来判定视窗防护屏的平整度，目测法费时费力，准确率低，效率低，机器视觉是对屏幕进行照相，然后利用计算机对图像进行识别和分析，这种方法适用于对轮廓的测量，由于精度的限制，对于表面的平整度则无能为力。触摸式测量是目前工厂化中常用的手段，也会比较准确，但是粗模式的测量是一种接触式的测量方法，很容易会对视窗防护屏造成二次损伤，因此也不是理想的测量方法。因此，迫切的希望能有一种非接触式的，效率高，精度符合要求的防护屏测量方法和装置来满足工厂化的视窗防护屏生产检测的需要。
技术实现思路
本专利技术实施例提出一种用于视窗防护屏的测量系统，包括计算机，电路处理模块，光电探测器以及测量装置，所述测量装置与所述光电探测器耦合，所述光电探测器将所述测量装置输出的测量光信号转化为测量电信号，并经过所述电路处理模块后进入到计算机进行计算，得出测量结果并显示。更进一步，所述测量装置，包括光源，光纤耦合器，第一光路模块和第二光路模块，所述光源发出相干光经过光纤耦合器，分成两路光，分别为第一路光和第二路光，所述第一路光进入到所述第一光路
模块，以及所述第二路光进入所述第二光路模块后，再返回到所述光纤耦合器，并输出测量光信号。更进一步，所述相干光的相干长度为40-80nm。更进一步，所述相干光的相干长度为60nm。更进一步，所述第一光路模块包括透镜a、透镜b、透光孔、透镜c、透镜d、反射镜以及控制所述反射镜移动的移动模块。更进一步，所述移动模块为一直线电机控制的水平往复装置。更进一步，所述透光孔的直径r≤0.5mm。更进一步，所述第二光路模块包括光开关阵列准直模块，待测视窗防护屏和标定板。更进一步，所述光开关阵列准直模块具有N*M路光输出，N≥1，M≥1。更进一步，所述标定板反射所述第二路光的表面平整度≤1um。本专利技术实施例提供的测量系统，可以实现高精度，高效率地对视窗防护屏进行非接触式的测量，可满足工业化生产中对视窗防护屏的检测要求。附图说明图1展示测量装置系统结构图；图2展示测量方法流程图；图3是测量视窗防护屏某一点信号结果图；图4是电脑拟合视窗防护屏平面图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，本专利技术实例在附图中示出，尽管将结合这些实施例来描述本专利技术，应该理解其并非要将本专利技术限制为这些实施例。相反，本专利技术意欲覆盖可包括在所附权利要求所限定的精神和范围内的替换、修改和等效形式。另外，在对本专利技术实施例的以下详述中，提出了很多具体细节以使本专利技术得到彻底理解。然而，本领域普通技术人员将认识到，没有这些具体细节也可实施本专利技术。在其它实例中，为了不必要地模糊本专利技术的方面，未详细描述公知的方法、过程、部件和电路。以下详细描述的一些部分是按照过程、步骤、逻辑块、处理及对可在计算机存储器上执行的数据位的操作的其它符号表示来提出的。这些描述和表示是数据处理领域的技术人员所使用的、为了将其工作的实质最有效地传达给该领域其它技术人员的手段。这里，过程、计算机执行的步骤、逻辑块、进程等通常设想为导致期望结果的步骤或指令的自洽序列。所述步骤是需要对物理量的物理操纵的步骤。通常，尽管不必要，这些量采用能够在计算机系统中存储、传递、组合、比较或另外操纵的电或磁信号的形式。已经证明，主要是为了公共使用的原因，将这些信号称作位、值、元素、符号、字符、项目、数字等有时是方便的。然而，应牢记的是，所有这些和相似的术语应与适当的物理量相
关联并且仅仅是适用于这些量的方便标记。除非特别指明，否则如以下描述中所显而易见的，应理解在整个本专利技术中，讨论所用的术语，如“关联”或“识别”或“再现”或“需要”或“确定”或“重复”或“执行”或“检测”或“引导”等，指的是电子系统或类似电子计算设备的动作和过程，其将电子设备的寄存器和存储器内的表示为物理(电子)量的数据操纵和变换成电子设备存储器或寄存器或者其它这样的信息存储、传输或显示设备内的类似地表示为物理量的其它数据。图1说明根据本专利技术的各种例示性实施例的测量系统结构示意图。本专利技术所述的测量系统包括计算机15，电路处理模块14，光电探测器以及测量装置，所述测量装置与所述光电探测器耦合，所述光电探测器将所述测量装置输出的测量光信号转化为测量电信号，并经过所述电路处理模块14后进入到计算机15进行计算，得出测量结果并显示。本专利技术所述的测量装置，包括光源1，光纤耦合器2，第一光路模块16和第二光路模块17，所述光源1发出频率相同，且振动方向相同的光，即相干光。优选的，光源1所发出的相干光在相干时间内相干长度比较短，优选的相干长度为40-80nm之间，更优选的相干光长度为55-65nm，最优选的相干光长度为60nm。所述光源1发出的相干光经过光纤耦合器2，分成两路光，分别
为第一路光和第二路光，第一路光进入到第一光路模块16，以及第二路光进入第二光路模块17后，再返回到光纤耦合器2，并输出测量光信号。所述第一光路模块16包括透镜a、透镜b、透光孔5、透镜c、透镜d、反射镜8以及控制所述反射镜8移动的移动模块9。所述第一路光依次经过透镜a、透镜b、透光孔5、透镜c、透镜d、反射镜8后经反射沿路返回。所述反射镜8固定在所述移动模块9上，并利用所述移动模块9进行匀速往返运动。优选的，所述移动模块9为一直线电机控制的水平往复装置。优选的，所述水平往复距离L＝5-30cm。优选的，所述匀速为0.5cm/s。优选的，所述透光孔5的直径r≤0.5mm，优选的，r＝0.2mm。所述第二光路模块17包括光开关阵列准直模块10，待测视窗防护屏11和标定板12。所述第二路光依次经过光开关阵列准直模块10，待测视窗防本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于视窗防护屏的测量系统，其特征在于，包括计算机，电路处理模块，光电探测器以及测量装置，所述测量装置与所述光电探测器耦合，所述光电探测器将所述测量装置输出的测量光信号转化为测量电信号，并经过所述电路处理模块后进入到计算机进行计算，得出测量结果并显示。

【技术特征摘要】
1.一种用于视窗防护屏的测量系统，其特征在于，包括计算机，电路处理模块，光电探测器以及测量装置，所述测量装置与所述光电探测器耦合，所述光电探测器将所述测量装置输出的测量光信号转化为测量电信号，并经过所述电路处理模块后进入到计算机进行计算，得出测量结果并显示。2.如权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述测量装置包括，光源，光纤耦合器，第一光路模块和第二光路模块，所述光源发出相干光经过光纤耦合器，分成两路光，分别为第一路光和第二路光，所述第一路光进入到所述第一光路模块，以及所述第二路光进入所述第二光路模块后，再返回到所述光纤耦合器，并输出测量光信号。3.如权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述相干光的相干长度为40-80nm。4.如权利要求3所述的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：曾亚光，韩定安，王茗祎，叶欣荣，江杰雄，李兆发，
申请(专利权)人：佛山科学技术学院，
类型：发明
国别省市：广东;44