顶针的检具制造技术

本申请涉及零部件检测技术领域，尤其涉及一种顶针的检具，所述检具上开设第一检测孔和第二检测孔，所述第一检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等，所述第二检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸下限值相等，所述第一检测孔和所述第二检测孔的孔深值均大于或等于预设值。检测顶针时，待测顶针可以逐渐伸入第一检测孔内，在这一过程中，顶针上与第一检测孔的孔深相对应的部分为检测段，此检测段上的所有位置处的尺寸都可以通过该检具检测。因此，本申请提供的检具能够在单次操作内检测顶针上的更多位置处的尺寸，以此降低顶针的检测误差，提高顶针的加工质量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及零部件检测
，尤其涉及一种顶针的检具。
技术介绍
零件加工完以后需要进行检测，以确定零件的加工精度是否符合要求。顶针是模具、机床等设备中比较常见的零件，顶针一般采用细长形的杆状件，在检测该顶针时，可采用千分尺对顶针的多个位置进行检测，然后将检测得到的多个数据与标准值进行对比，以此完成顶针的检测。然而，对于单个顶针而言，只能检测其上的个别位置处的尺寸，因此此种检测方式存在较大的误差，导致顶针的加工质量偏低。
技术实现思路
本申请提供了一种顶针的检具，以提高顶针的加工质量。本申请提供了一种顶针的检具，所述检具上开设第一检测孔和第二检测孔，所述第一检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等，所述第二检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸下限值相等，所述第一检测孔和所述第二检测孔的孔深值均大于或等于预设值。优选地，所述第一检测孔和所述第二检测孔中的至少一者为直通孔，所述直通孔自所述检具的一个表面贯通至所述检具的另一表面。优选地，所述第一检测孔至少为两个，各所述第一检测孔中的至少两个所述第一检测孔的尺寸互不相等。优选地，所述第二检测孔至少为两个，各所述第二检测孔中的至少两个所述第二检测孔的尺寸互不相等。优选地，所述检具上还开设复测孔，所述复测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等。优选地，所述复测孔至少为两个，各所述复测孔中的至少两个所述复
测孔的尺寸互不相等。优选地：各所述第一检测孔的轴线相互平行；和/或，各所述第二检测孔的轴线相互平行。和/或，各所述复测孔的轴线相互平行。优选地：各所述第一检测孔呈行列式布置；和/或，各所述第二检测孔呈行列式布置。和/或，各所述复测孔呈行列式布置。优选地，所述检具上还设置标志部，所述第一检测孔、所述第二检测孔和所述复测孔中的至少一者的侧方设置所述标志部。优选地，所述标志部为标志槽。本申请提供的技术方案可以达到以下有益效果：本申请所提供的检具上开设第一检测孔和第二检测孔，两者的尺寸分别为待测顶针的尺寸上限值和尺寸下限值，并且，该第一检测孔和第二检测孔具有一定的孔深，因此检测顶针时，将待测顶针依次插入第一检测孔和第二检测孔，如果待测顶针能够插入第一检测孔，且无法插入第二检测孔就表示顶针的尺寸合格，否则顶针的尺寸不合格。检测顶针时，待测顶针可以逐渐伸入第一检测孔内，在这一过程中，顶针上与第一检测孔的孔深相对应的部分为检测段，此检测段上的所有位置处的尺寸都可以通过该检具检测。因此，本申请提供的检具能够在单次操作内检测顶针上的更多位置处的尺寸，以此降低顶针的检测误差，提高顶针的加工质量。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本申请。附图说明图1为本申请实施例所提供的检具与待测顶针的配合示意图。附图标记：10-检具；100-第一检测孔；101-第二检测孔；102-复测孔；20-待测顶针。此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。具体实施方式下面通过具体的实施例并结合附图对本申请做进一步的详细描述。如图1所示，本申请实施例提供了一种顶针的检具10，该检具10用于检测待测顶针20的尺寸是否符合要求，该尺寸一般为待测顶针20的横截面尺寸，待测顶针20的横截面尺寸可以整体相等，也可以分段相等，即顶针包含多个横截面尺寸相等的段。该检具10具体可采用块状结构，其上开设第一检测孔100和第二检测孔101，该第一检测孔100的尺寸与待测顶针20的尺寸上限值相等，第二检测孔101的尺寸与待测顶针20的尺寸下限值相等，第一检测孔100和第二检测孔101的孔深值均大于或等于预设值，该预设值可以根据待测顶针20的长度等参数确定。第一检测孔100和第二检测孔101的形状与待测顶针20上需要检测的部分的轮廓相同，例如待测顶针20为圆顶针时，第一检测孔100和第二检测孔101即设置为圆孔；待测顶针20为扁顶针时，第一检测孔100和第二检测孔101可设置为方孔。上述尺寸上限值和尺寸下限值分别为，待测顶针20的尺寸在公差范围内能够达到的最大值和最小值，待测顶针20的尺寸位于该尺寸上限值和尺寸下限值之间就表示待测顶针20的尺寸符合加工要求。使用上述检具10时，首先将待测顶针20对准第一检测孔100，然后向待测顶针20施加推动力，观察待测顶针20是否能够插入第一检测孔100内。接着将待测顶针20对准第二检测孔101，然后向待测顶针20施加推动力，观察待测顶针20是否能够插入第二检测孔101内。经过上述检测后，将出现以下三种结果：第一种，待测顶针20能插入第一检测孔100，但不能插入第二检测孔101，表明待测顶针20的尺寸合格；第二种，待测顶针20不能插入第一检测孔100，但能插入第二检测
孔101，表明待测顶针20的尺寸过大，不合格；待测顶针20既能插入第一检测孔100，也能插入第二检测孔101，表明待测顶针20的尺寸过小，不合格。采用上述检具时，待测顶针20可以逐渐伸入第一检测孔100内，在这一过程中，待测顶针20上与第一检测孔100的孔深相对应的部分均为检测段，此检测段上的所有位置处的尺寸都可以通过该检具检测。另一方面，当待测顶针20能够伸入第二检测孔101内时，即可得出待测顶针20的尺寸不合格这一结论，但此时仍然可以继续推动待测顶针20，以确定待测顶针20上的尺寸不合格的部分所处的大致位置。因此，本申请提供的检具能够在单次操作内检测顶针上的更多位置处的尺寸，以此降低顶针的检测误差，提高顶针的加工质量。前述的第一检测孔100和第二检测孔101均可设置为盲孔，该盲孔的深度将决定待测顶针20伸入第一检测孔100和第二检测孔101的程度，因此采用盲孔时，待测顶针20上能够借助该检具进行检测的部分相对比较少。有鉴于此，可将第一检测孔100和第二检测孔101中的至少一者设置为直通孔，该直通孔自检具10的一个表面贯通至检具10的另一表面。此种方案下，可以推动待测顶针20穿过该直通孔，以此检测待测顶针20在自身长度方向上的各个位置处的尺寸，继而更大程度地提升顶针的加工质量，并简化顶针的检测程序。由于同一形状的顶针存在不同的规格，不同规格的顶针之间的区别基本体现为其尺寸的不同，当第一检测孔100和第二检测孔101均仅设置为一个时，此检具10只能检测一种规格的顶针。基于此，为了检测更多规格的顶针，可将第一检测孔100设置为至少两个，各第一检测孔100中的至少两个第一检测孔100的尺寸互不相等。也就是说，至少有两个第一检测孔100可用于检测不同规格的顶针，以此达到前述目的。可选地，各第一检测孔100的尺寸均互不相等。同理地，第二检测孔101至少为两个，各第二检测孔101中的至少两个第二检测孔101的尺寸互不相等。继续参照图1，一种实施例中，检具10上还可开设复测孔102，该复测孔102的尺寸与待测顶针20的尺寸上限值相等。检测顶针时，首先确
定待测顶针20是否能够插入第一检测孔101，然后再将待测顶针20对准该复测孔102，以确定待测顶针20是否能够插入复测孔102中。此种方案通过第一检测孔100和复测孔102同时确定待测顶针20的尺寸是否符合要求，相比于仅通过第一检测孔100检测的方式，该复测孔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种顶针的检具，其特征在于，所述检具上开设第一检测孔和第二检测孔，所述第一检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等，所述第二检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸下限值相等，所述第一检测孔和所述第二检测孔的孔深值均大于或等于预设值。

【技术特征摘要】
1.一种顶针的检具，其特征在于，所述检具上开设第一检测孔和第二检测孔，所述第一检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸上限值相等，所述第二检测孔的尺寸与待测顶针的尺寸下限值相等，所述第一检测孔和所述第二检测孔的孔深值均大于或等于预设值。2.根据权利要求1所述的检具，其特征在于，所述第一检测孔和所述第二检测孔中的至少一者为直通孔，所述直通孔自所述检具的一个表面贯通至所述检具的另一表面。3.根据权利要求1所述的检具，其特征在于，所述第一检测孔至少为两个，各所述第一检测孔中的至少两个所述第一检测孔的尺寸互不相等。4.根据权利要求3所述的检具，其特征在于，所述第二检测孔至少为两个，各所述第二检测孔中的至少两个所述第二检测孔的尺寸互不相等。5.根据权利要求4所述的检具，其特征在于，所述检具上还开设...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡伟，
申请(专利权)人：深圳天珑无线科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44