一种阵列天线辐射指标测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种阵列天线辐射指标测量装置，包括用于探测天线发射信号的扫描机构、采集及接收信号数据的网络分析仪和控制扫描机构及网络分析仪并处理数据的计算机，所述扫描机构包括用于放置天线的操作台、位于天线上方并与网络分析仪无线连接的探针和控制探针水平移动的水平移动架，所述水平移动架设置在一框架结构的底座上，水平移动架上固定设置支架，所述探针设置在支架上。使用本实用新型专利技术极大的缩短了天线测试时间，解决量产天线实现大批量测试的需求，降低了劳动强度，提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于测量天线辐射指标的装置，属于无线设备测试

技术介绍
阵列天线是移动通信蜂窝网中装机量最大的一种天线，随着系统越来越复杂，对其波瓣宽度、垂直面的主瓣方向、副瓣电平等辐射指标的要求越来越严格。目前常规的测量天线辐射特性主要有远场测量法和近场测量法，这两种测试方法测试速度慢、效率低、体积庞大、对测试场地要求严格，不适合在天线生产线中普及使用。生产线上量产的天线需要大批量进行测试，受场地和设备的限制，通常工作人员手持探针在天线上采集数据，之后通过第三方软件计算方向图获得辐射特性数据，这种方式步骤繁琐，工作效率低，劳动强度大。
技术实现思路
本技术的目的在于针对现有技术之弊端，提供一种体积小、成本低的阵列天线辐射指标测量装置，提高了工作效率，降低了劳动强度。为实现上述目的，本技术采用如下技术方案：一种阵列天线辐射指标测量装置，包括用于探测天线发射信号的扫描机构、采集及接收信号数据的网络分析仪和控制扫描机构及网络分析仪并处理数据的计算机，所述计算机分别与网络分析仪和扫描机构相连，所述网络分析仪同时还与天线相连，所述扫描机构包括用于放置天线的操作台、位于天线上方并与网络分析仪本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列天线辐射指标测量装置，其特征是，包括用于探测天线（1）发射信号的扫描机构、采集及接收信号数据的网络分析仪（Ⅱ）和控制扫描机构及网络分析仪、并处理数据的计算机（Ⅰ），所述计算机（Ⅰ）分别与网络分析仪（Ⅱ）和扫描机构相连，所述网络分析仪（Ⅱ）同时还与天线（1）相连，所述扫描机构包括用于放置天线（1）的操作台（2）、位于天线（1）上方并与网络分析仪无线连接的探针（5）和控制探针（5）水平移动的水平移动架（6），所述水平移动架（6）设置在一框架结构的底座（3）上，水平移动架（6）上固定设置支架（4），所述探针（5）设置在支架（4）上。

【技术特征摘要】
1.一种阵列天线辐射指标测量装置，其特征是，包括用于探测天线（1）发射信号的扫描机构、采集及接收信号数据的网络分析仪（Ⅱ）和控制扫描机构及网络分析仪、并处理数据的计算机（Ⅰ），所述计算机（Ⅰ）分别与网络分析仪（Ⅱ）和扫描机构相连，所述网络分析仪（Ⅱ）同时还与天线（1）相连，所述扫描机构包括用于放置天线（1）的操作台（2）、位于天线（1）上方并与网络分析仪无线连接的探针（5）和控制探针（5）水平移动的水平移动架（6），所述水平移动架（6）设置在一框架结构的底座（3）上，水平移动架（6）上固定设置支架（4），所述探针（5）设置在支架（4）上。2.根据权利要求1所述的一种阵列天线辐射指标测量装置，其特征是，所述底座（3）的顶部设置竖直布置的气缸，气缸的活塞杆上连接方板结构的高度调整块，所述水平移动架（6）固定设置在高度调整块上。3.根据权利要求2所述的一种阵列天...

【专利技术属性】
技术研发人员：邓晖，刘山虎，卢童，陈东，
申请(专利权)人：石家庄世联达科技有限公司，
类型：新型
国别省市：河北;13