亚标准状态的检测方法和显示模块以及电子设备技术

提供了一种显示模块。显示模块包括：包括多个像素、多个第一导线和与第一导线相交的多个第二导线的显示区，至少部分地围绕显示区的非显示区，与第一导线电连接的测试电路，以及电连接在第一导线中的一个和测试电路之间的第三导线。第三导线可以包括布置在非显示区中并沿着显示区的外围延伸的部分。

【技术实现步骤摘要】
优先权声明本申请要求2015年2月23日向韩国知识产权局提交并授予序列号10-2015-0024956的韩国专利申请的优先权，其内容以引用的方式并入本文。
本公开涉及检测电子设备的亚标准状态。
技术介绍
各种电子设备配备有具有各种尺寸和形状的显示模块，并借助显示技术的发展，通过屏幕更自然并动态地提供各种内容。由于在电子设备上应用了小型化显示技术，因此微小亚标准状态可以引起严重的缺陷。例如，在常规电子设备中，制造过程中未被检测到的微小亚标准状态引起部分损坏或故障。这种情况不利地影响产品的可靠性。
技术实现思路
本公开的方面至少解决上述问题和/或缺点。因此，本公开的一个方面在于提供一种能够更精确地检测电子设备中出现的亚标准状态的方法，以及显示模块和操作该显示模块的电子设备。根据本公开的一个方面，示例显示模块可以包括：显示区，包括多个像素、多个第一导线和与所述多个第一导线相交的多个第二导线；非显示区，围绕显示区的至少一部分；电路，电连接至第一导线；以及第三导线，电连接在所述多个第一导线中的一个和所述电路之间。第三导线可以包括布置在非显示区中并沿着显示区的外围延伸的部分。根据本公开的另一个方面，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子设备，包括：外壳；显示模块，通过外壳的至少一侧中的开口而暴露；以及处理器，布置在外壳中并电连接到显示模块，其中所述显示模块包括：显示区，包括多个第一导线和与所述多个第一导线相交的多个第二导线；非显示区，至少部分地围绕显示区；测试电路，电连接到所述多个第一导线；以及第三导线，电连接在所述多个第一导线中的一个与测试电路之间，以及其中第三导线包括布置在非显示区中并沿着显示区的外围延伸的部分。

【技术特征摘要】
2015.02.23 KR 10-2015-00249561.一种电子设备，包括：外壳；显示模块，通过外壳的至少一侧中的开口而暴露；以及处理器，布置在外壳中并电连接到显示模块，其中所述显示模块包括：显示区，包括多个第一导线和与所述多个第一导线相交的多个第二导线；非显示区，至少部分地围绕显示区；测试电路，电连接到所述多个第一导线；以及第三导线，电连接在所述多个第一导线中的一个与测试电路之间，以及其中第三导线包括布置在非显示区中并沿着显示区的外围延伸的部分。2.根据权利要求1所述的电子设备，其中所述测试电路包括分别电连接到所述多个第一导线的开关元件，以及其中所述第三导线将所述多个第一导线中的至少一个与开关元件中的一个电连接。3.根据权利要求1所述的电子设备，其中显示区包括沿着第一导线所延伸的第一方向延伸的第一外围，以及其中第三导线的至少一部分包括沿着第一外围延伸的部分。4.根据权利要求3所述的电子设备，其中显示区包括沿着第二导线所延伸的第二方向延伸的第二外围，以及其中第三导线的至少一部分包括沿着第二外围延伸的部分。5.根据权利要求1所述的电子设备，其中所述多个第一导线中除了与第三导线相连的第一导线以外的其余第一导线实质平行地延伸并连接到所述测试电路，以及其中与第三导线相连的第一导线通过第三导线连接到测试电路。6.根据权利要求1所述的电子设备，其中显示区还包括多个像
\t素，并且其中多个像素包括：第一像素，连接到所述多个第一导线中的一个；以及第二像素，连接到与第三导线相连的第一导线，其中当第三导线未损坏时，第一像素和第二像素显示实质相同的颜色和/或照度，并且当第三导线被损坏时，第一像素和第二像素显示彼此不同的颜色和/或照度。7.根据权利要求1所述的电子设备，其中显示模块还包括：第四导线，电连接在所述多个第一导线中的另一个与测试电路之间，并且第四导线包括布置在非显示区中并沿着显示区的外围延伸的部分。8.根据权利要求7所述的电子设备，其中第三导线和第四导线分别形成在不同的层中。9.根据权利要求1所述的电子设备，其中显示区包括数据线、栅线、薄膜晶体管源极、薄膜晶体管漏极和像素的公共电极中的至少一个，并且第三导线布置在形成数据线、栅线、薄膜晶体管源极、薄膜晶体管漏极和公共电极中的至少一个的层中，并且电连接到布置在显示区的实质中心区的至少一个第一导线。10.根据权利要求1所述的电子设备，还包括以下中至少一个：与第一导线电连接的数据驱动器；通过测试电路向第三导线提供测试信号的至...

【专利技术属性】
技术研发人员：李浚圭，金在完，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR