用于检测物质的方法和装置制造方法及图纸

一种用于检测物质的装置，包括：块馈送器件(3；3’)，被配置用于将多个物体(2；2’)馈送到检测区域(D)；至少一个光源(8；10，20；40)，具有聚焦元件并且被配置用于照射在检测区域(D)的物面(P‑P)中移动的至少一个物体(2；2’)；以及第一光分析装置(4)，被设置为感测已经穿透物体的光。在相关联的方法中，使物体在平面内移动并且利用入射光照射物体。检测已经穿透物体并且落入测量平面(T)内的光，并且基于检测的透射光来确定物体特定参数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】201480071702

【技术保护点】
一种用于检测物质的装置，其特征在于：‑块馈送器件(3；3’)，被配置用于将多个物体(2；2’)馈送到检测区域(D)；‑至少一个光源(8；10，20；40)，均具有聚焦元件并且被配置为在相应的第一方向上发送光(I1；I2)以照射在所述检测区域(D)的物面(P‑P)内移动的至少一个物体(2；2’)；以及‑第一光分析装置(4)，被设置为感测穿透物体的光、并且识别从所述至少一个光源接收到的光量，其中，所述第一光分析装置(4)被设置为感测具有在所述第一光分析装置(4)的视野内的方向的光(TD1；TD12)，并且其中，相应的所述第一方向不同于所述第一光分析装置(4)的视野内的方向。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.11.01 EP 13191270.11.一种用于检测物质的装置，其特征在于：-块馈送器件(3；3’)，被配置用于将多个物体(2；2’)馈送到检测区域(D)；-至少一个光源(8；10，20；40)，均具有聚焦元件并且被配置为在相应的第一方向上发送光(I1；I2)以照射在所述检测区域(D)的物面(P-P)内移动的至少一个物体(2；2’)；以及-第一光分析装置(4)，被设置为感测穿透物体的光、并且识别从所述至少一个光源接收到的光量，其中，所述第一光分析装置(4)被设置为感测具有在所述第一光分析装置(4)的视野内的方向的光(TD1；TD12)，并且其中，相应的所述第一方向不同于所述第一光分析装置(4)的视野内的方向。2.根据权利要求1所述的系统，其中，所述块馈送器件(3)被配置用于以随机方式将物体(2)馈送到所述检测区域(D)。3.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述至少一个光源(10；20)被设置在截断的椭圆体形状的反射器(12；22)的第一焦点(f1；f2)处，并且所述反射器被设置为使得截断的椭圆体形状的所述反射器的第二焦点(f1’；f2’)与所述物面(P-P)重合。4.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述至少一个光源包括一个或多个发光二极管(LED)。5.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述至少一个光源(40)还包括能够使光聚焦在所述物面(P-P)中的至少一个透镜。6.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，所述光源和所述第一光分析装置被设置在所述物面(P-P)的相对侧上。7.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，第一光源(10)与第二光源(20)关于中心轴(C)对称设置。8.根据权利要求6所述的装置，其中，第二光分析装置(5)相对于所述第一光分析装置(4)被设置在所述物面(P-P)的相对侧上，并且所述第二光分析装置(5)被配置为接收由从相应的所述第一光源和所述第二光源发送的光(I1，I2)产生的从所述物体反射的光(R1,2)。9.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，还至少包括与所述第一光分析装置(4)设置在物面(P-P)的同一侧上的第三光源(30，63)，并且所述第三光源(30，63)被配置为利用反射(R3)到所述第一光分析装置(4)的光(I3)照射所述物体。10.根据前述权利要求中的任一项所述的装置，其中，光分析装置(4，5)包括光谱系统或超光谱照相机系统。11.根据前述权利要求中的...

【专利技术属性】
技术研发人员：迪尔克·巴尔塔扎，托比亚斯·哈特曼，约翰·麦格劳赫林，道格拉斯·亚历山大·里德，
申请(专利权)人：陶朗分选股份有限公司，
类型：发明
国别省市：比利时;BE