针对非均匀校正后的热红外图像剩余非均匀噪声去除方法技术

本发明专利技术公开了一种针对非均匀校正后的热红外图像剩余非均匀噪声去除方法。其实施步骤如下：1)利用红外成像系统在不同温度下对黑体成像得到红外图像；2)将得到的黑体图像进行非均匀校正；3)求得校正后黑体图像的像素平均值；4)将校正后的黑体图像中每个像素值与其平均值相减存储结果；5)拍摄外景图像并进行非均匀校正；6)将校正后图像像素值与不同温度下图像平均值做比较找到最接近值对应的相减数组，将像素值与数组中对应位置的值相减得到新的图像。本发明专利技术弥补了传统红外图像噪声去除方法不足，提供了一种更有效、更精确去除剩余非均匀空间噪声的方法。本发明专利技术能够有效去除红外图像中的剩余非均匀空间噪声，并不损失图像原信息，获得高质量的复原图像。

【技术实现步骤摘要】
201610235714

【技术保护点】
一种针对非均匀校正后的热红外图像剩余非均匀噪声去除方法，包括如下步骤：1)利用基于M×N规模的焦平面阵列的红外成像系统，分别在A，A+e，A+2e，……B的温度下对均匀的黑体进行成像，得到H幅图像Y1、Y2……YH，A为设定的起始温度值，B为设定的终止温度值，e为温度间隔值；2)选取C1、C2、C3、C4四个温度下的四幅黑体图像F1、F2、F3、F4作为进行非均匀校正的标准图像，用这四幅图像分别对步骤1)中所得到的H幅黑体图像进行非均匀校正,得到H幅校正后的黑体图像X1、X2……XH；非均匀性校正所用系数由如下公式求得：Gi,j=[Σk=14Vi,j(φk)]*[Σk=14V‾(φk)]-4*Σk=14[[Σk=14V‾(φk)*Vi,j(φk)]][Σk=14Vi,j(φk)]2-4*Σk=14[Vi,j(φk)]2]]>Oi,j=[Σk=14Vi,j(φk)]*Σk=14[[Σk=14V‾(φk)*Vi,j(φk)]]-[Σk=14V‾(φk)]*[Σk=14Vi,j(φk)]2[Σk=14Vi,j(φk)]2-4*Σk=14[Vi,j(φk)]2]]>其中，φk为取定的定标点，Vi,j(φk)为测得的第i行，第j列个光敏元对应的响应输出；对红外焦平面阵列所有光敏元的输出信号求平均得；3)对步骤2)中非均匀校正后的每幅图像求像素点平均值，计为aver1，aver2，……averH，将计算得到的平均值结果作为每幅黑体图像的标准值：aver=Σi=1MΣj=1NX(i,j)]]>其中X(i,j)是图像第i行，第j列元素的像素值；4)将步骤2)中非均匀校正后的每幅图像中的每个像素点值与步骤3)中求得的对应图像的平均值求差，得到H个M×N的二维数组D1，D2……DH，每个数组中存储着对应图像求得的差值；5)拍摄外景图像得到红外图像f，用步骤2)中选取的四幅黑体图像F1、F2、F3、F4对图像f进行非均匀校正,得到校正后的图像F；6)将校正后图像F中的每个像素点值F(i,j)分别与步骤3)中得到的平均值进行比较，找到与像素点的值最接近的平均值averX，找到最接近的平均值后，再找出与该平均值所对应的步骤4)中求出的差值二维矩阵DX，其中X为1～H中的值；7)将图像F中的像素点F(i,j)与步骤6)中找到的DX数组中与该像素位置对应的点DX(i,j)值求差，将求得的结果作为新的像素值，得到最终去除空间噪声后的红外图像。...

【技术特征摘要】
2015.12.01 CN 20151086892521.一种针对非均匀校正后的热红外图像剩余非均匀噪声去除方法，包括如下步骤：1)利用基于M×N规模的焦平面阵列的红外成像系统，分别在A，A+e，A+2e，……B的温度下对均匀的黑体进行成像，得到H幅图像Y1、Y2……YH，A为设定的起始温度值，B为设定的终止温度值，e为温度间隔值；2)选取C1、C2、C3、C4四个温度下的四幅黑体图像F1、F2、F3、F4作为进行非均匀校正的标准图像，用这四幅图像分别对步骤1)中所得到的H幅黑体图像进行非均匀校正,得到H幅校正后的黑体图像X1、X2……XH；非均匀性校正所用系数由如下公式求得：Gi,j=[Σk=14Vi,j(φk)]*[Σk=14V‾(φk)]-4*Σk=14[[Σk=14V‾(φk)*Vi,j(φk)]][Σk=14Vi,j(φk)]2-4*Σk=14[Vi,j(φk)]2]]>Oi,j=[Σk=14Vi,j(φk)]*Σk=14[[Σk=14V‾(φk)*Vi,j(φk)]]-[Σ...

【专利技术属性】
技术研发人员：姬弘桢，王建宇，李春来，孙羽，金健，陈小文，
申请(专利权)人：中国科学院上海技术物理研究所，
类型：发明
国别省市：上海;31