【技术实现步骤摘要】
201610136460
【技术保护点】
一种双折射材料的偏振相关参数的测量方法,包括：沿一段长度的双折射材料诱导一系列已知距离周期偏振串扰峰；引入探测光进入双折射材料，并检测从双折射材料出来的探测光；处理检测到的探测光，来确定感应等距离周期性偏振串扰峰的位置和宽度；使用得到的等距离周期性偏振串扰峰的位置和宽度，来提取双折射材料的一个或多个偏振相关参数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：姚晓天，李志宏，
申请(专利权)人：苏州光环科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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