眼科装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种用于计算待测眼部的角膜表面形状的眼科装置。所述眼科装置包括环形图像照相光学系统，其用于将多个同心环形光照射到眼部的角膜表面，并获取从眼部的角膜表面反射的多个环形光的反射图像；干涉光学系统，其用于将测量光照射到眼部，并且检测由从眼部反射的测量光的反射光和预定的参考光组成的干涉光。所述眼部角膜前表面的形状是基于多个环形光的反射图像计算的，所述多个入射位置的角膜的厚度是基于干涉光计算的，以及所述眼部角膜后表面的形状是基于前面两个计算结果计算得到的。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及一种用来检查眼部的眼科装置。
技术介绍
目前可以进行一种在患者的眼部植入人工晶状体(IOL)的治疗方法。例如，在白内障手术中，在从患者的眼内取出晶状体之后，将人工晶状体(IOL)插入患者的眼部。为了确定人工晶状体的度数，预先测量目标眼部的眼部特征数据，如眼轴长度和角膜曲率(角膜折射率)，并且基于所获得的眼部特性数据，根据已知的IOL计算公式来确定人工晶状体的度数。特别是，为了对患有眼角膜疾病的眼部或经历过折射校正手术的眼部配制合适的人工晶状体，有必要通过测量待测眼部的角膜的前表面和后表面的曲率半径等特征来计算整个角膜的折射率。公开号为2008-167777的日本专利申请公开了用于检测待测眼部的角膜厚度的眼科装置。公开号为2008-167777的日本专利申请中所述的眼科装置包括干涉光学系统，所述干涉光学系统将测量光照射到待测眼部，并检测由从待测眼部反射的反射光和参考光相互干涉而构成的干涉光。所述眼科装置检测待测眼部的多个测量点上的干涉光。然后，根据在多个测量点上检测到的干涉光，得到每个测量点上的角膜前表面的位置和角膜后表面的位置。因此，获得待测眼部的每个测量点上的角膜的厚度。
技术实现思路
如上所述，为了正确地配制人工晶状体，需要获得所针对的患者的角膜前表面的形状(曲率半径)和角膜后表面的形状(曲率半径)。常规技术中，角膜前表面的形状是通过测量获得的，而角膜后表面的形状是使用经验公式由角膜前表面的形状估算来的。因此，角膜后表面的形状的估算误差阻碍了人工晶状体的准确配制。因此，需要实现
一种能够测量角膜后表面的形状的眼科装置。本申请是鉴于上述情况而完成的，其目的在于提供一种能够测量角膜后表面的形状的眼科装置。在本申请中所公开的眼科装置包括环形图像照相光学系统、干涉光学系统和处理器。环形图像照相光学系统用于将多个同心环形光以围绕角膜的顶点的方式照射到待测眼部的角膜表面，并获取从眼部的角膜表面反射的多个环形光的反射图像。所述干涉光学系统用于将测量光照射到眼部，并且检测由从眼部反射的测量光的反射光和预定的参考光组成的干涉光。所述干涉光学系统进一步用于改变照射到眼部的测量光的入射位置。所述处理器用于基于由环形图像照相光学系统获得的多个环形光的反射图像计算(1)眼部角膜前表面的形状，基于由干涉光学系统获得的入射位置上的干涉光计算(2)入射位置的角膜的厚度，以及基于眼部角膜前表面的形状和入射位置的角膜的厚度计算(3)眼部角膜后表面的形状。在所述眼科装置中，基于所述环形图像照相光学系统获得的多个环形光的反射图像，计算待测眼部的角膜前表面的形状。此外，基于所述干涉光学系统获得的多个入射位置的干涉光，计算多个入射位置的角膜的厚度。根据角膜前表面的与角膜后表面的相应位置和该位置的角膜的厚度，可以得到角膜后表面的每个位置。因此，所述处理器通过角膜后表面的位置计算角膜后表面的形状，所述角膜后表面的位置由计算得出的待测眼部的角膜前表面的形状和计算得出的待测眼部的角膜的厚度得到。从而，所述眼科装置能够测量角膜后表面的形状。附图说明图1是根据本实施例的眼科装置的光学系统的结构示意图；图2是根据本实施例的眼科装置的控制系统的框图；图3是示出根据本实施例的眼科装置的处理过程的示例的流程图；图4是示出照射到待测眼部的环形光和照射到待测眼部的测量光的入射位置的示意图；图5是用于说明由角膜前表面的形状和入射位置的角膜厚度来计算角膜后表面的形状的步骤的示意图；以及图6是用于说明透镜38的功能的示意图。具体实施方式本申请所公开的眼科装置中，每个预设的入射位置可以设置在预设的圆的圆周上，所述圆预设为使其环绕眼部的角膜的顶点，并且所述干涉光学系统可以用于将测量光照射到每个预设的入射位置。处理器可以用于测定预设的入射位置上的眼部角膜的厚度，所述预设的入射位置设置在所述预设的圆的圆周上。这样的结构能够使得由环形图像照相光学系统照射的环形光的每个位置和由光学干涉系统照射的测量光的每个位置相互对应，从而能够精确计算角膜后表面的形状。本申请所公开的眼科装置中，所述干涉光学系统还可以包括光学部件。所述光学部件用于以如下方式照射测量光：在测量光入射位置被干涉光学系统改变时，使其以平行于眼部光轴的方式照射到眼部。这种结构增加了来自待测眼部的反射光的光强度(测量光的反射光)，从而能够精确计算角膜的厚度。本申请所公开的眼科装置可进一步包括入射位置传感器。所述入射位置传感器用于检测由所述干涉光学系统改变的测量光的入射位置。在这样的结构中，检测出测量光实际被照射到的位置，从而能够精确计算角膜后表面的形状。[实施例1]如图1所示，本实施例的眼科装置包括用于检查待测眼部100的角
膜102的测量单元60。所述测量单元60包括：环形图像照相光学系统(28，30，32，40)，其用于测量角膜102的前表面的形状；干涉光学系统(10，12，14，16，18，20，22，24，30，32，36，38)，其用于测量角膜102的厚度；以及校准机构34，其用于以相对于待测眼部100的预定的位置关系校准测量单元60。环形图像照相光学系统(28，30，32，40)将多个同心的环形光照射到角膜102的前表面上，并获取由角膜102的前表面反射的多个环形光的反射图像。所述环形图像照相光学系统包括锥体40、使用LED的照明装置42(在图1中未示出，但在图2中示出)以及成像装置28。所述成像装置28用于获取从角膜102的前表面反射的环形光的反射图像。锥体40是空心并具有截头圆锥体形状的物体，并且由透明树脂制成。印有同心图案的透明膜施加在锥体40的内壁表面。锥体40的外壁表面具有可反射光的涂层。照明装置42被设置在锥体40的后侧(与待测眼部100相反的一侧)。从照明装置42照射的光在锥体40中散射，并有一部分被所述透明膜阻断。因此，同心环形光被投射(照射)到待测眼部100的角膜102。也就是说，如图4所示，6个环形光L1到L6被投射在待测眼部100的角膜102的前表面。如下文所述，在将环形光L1到L6投射到待测眼部100的过程中，测量单元60被相对于所述待测眼部100的角膜102的顶点定位。因此，被投射到待测眼部100的环形光L1到L6被相对于所述角膜102的顶点同心定位。所述成像装置28获取待测眼部100的眼的前侧图像以及从角膜102的前表面反射的环形光L1到L6的反射图像。也就是说，通过镜子
32、30将待测眼部100的眼的前侧图像和环形光L1到L6的反射图像引导至成像装置28。由成像装置28获取的待测眼部100的眼的前侧图像和环形光L1到L6的反射图像被输入到下文所述的处理器50。另外，由显示器44显示待测眼部100眼的前侧图像和环形光L1到L6的反射图像。所述干涉光学系统(10，12，14，16，18，20，22，24，30，32，36，38)将测量光照射到待测眼部100，并且检测由从待测眼部100反射的反射光(基于测量光的反射光)和参考光的组合构成的干涉光。所述干涉光学系统包括：光源10；测量光学系统，所述测量光学系统将来自光源10的光照射至待测眼部10的内部，并引导被待测眼部10反射的光；参考光学系统，所述参考光学系统将来自光源10的光照射至参考本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种眼科装置，包括：环形图像照相光学系统，其用于将多个同心环形光照射到待测眼部的角膜表面，并获取从眼部的角膜表面反射的多个环形光的反射图像；干涉光学系统，其用于将测量光照射到眼部，并且检测由从眼部反射的测量光的反射光和预定的参考光组成的干涉光，所述干涉光学系统进一步用于改变照射到眼部的测量光的入射位置；以及处理器，其用于基于眼部角膜前表面的形状和多个入射位置的角膜的厚度计算眼部角膜后表面的形状，其中所述眼部角膜前表面的形状是基于由所述环形图像照相光学系统获得的多个环形光的反射图像测定的，而所述多个入射位置的角膜的厚度是基于由所述干涉光学系统获得的多个入射位置上的干涉光测定的。

【技术特征摘要】
2015.01.29 JP 2015-0159501.一种眼科装置，包括：环形图像照相光学系统，其用于将多个同心环形光照射到待测眼部的角膜表面，并获取从眼部的角膜表面反射的多个环形光的反射图像；干涉光学系统，其用于将测量光照射到眼部，并且检测由从眼部反射的测量光的反射光和预定的参考光组成的干涉光，所述干涉光学系统进一步用于改变照射到眼部的测量光的入射位置；以及处理器，其用于基于眼部角膜前表面的形状和多个入射位置的角膜的厚度计算眼部角膜后表面的形状，其中所述眼部角膜前表面的形状是基于由所述环形图像照相光学系统获得的多个环形光的反射图像测定的，...

【专利技术属性】
技术研发人员：加藤千比吕，野泽有司，冈本圭一郎，
申请(专利权)人：株式会社多美，
类型：发明
国别省市：日本;JP