一种新型原子荧光分光光度计专用进样试管架制造技术

本实用新型专利技术所述一种原子荧光分光光度计专用进样试管架，由上支撑板、中支撑板、底板、贮液槽和8根支撑柱组成；其特征在于将所述上支撑板、中支撑板、底板分别由原来的4*8放置孔规格平均分成两个4*4放置孔规格的结构组成，再将两个4*4放置孔规格的结构进一步均分成两个九边形结构，在底板上设有正方形通孔，通孔的位置与放置孔的位置相对应，正方形通孔的尺寸与放置孔内切，上支撑板、中支撑板和底板由8根支撑柱支撑，贮液槽位于支撑柱的底部；本实用新型专利技术的有益效果是防止漏加和多加试剂情况的发生，有效增加试管架的利用率，防止化学药品腐蚀试验台。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术所述一种原子荧光分光光度计专用进样试管架，由上支撑板、中支撑板、底板、贮液槽和8根支撑柱组成；其特征在于将所述上支撑板、中支撑板、底板分别由原来的4*8放置孔规格平均分成两个4*4放置孔规格的结构组成，再将两个4*4放置孔规格的结构进一步均分成两个九边形结构，在底板上设有正方形通孔，通孔的位置与放置孔的位置相对应，正方形通孔的尺寸与放置孔内切，上支撑板、中支撑板和底板由8根支撑柱支撑，贮液槽位于支撑柱的底部；本技术的有益效果是防止漏加和多加试剂情况的发生，有效增加试管架的利用率，防止化学药品腐蚀试验台。【专利说明】一种新型原子荧光分光光度计专用进样试管架
本技术涉及实验设备
，特别是一种用于原子荧光分光光度计进样用试管架。
技术介绍
原子荧光光谱分析(AFS)是20世纪60年代中期提出并发展起来的光谱分析技术，它是原子吸收和原子发射光谱的综合与发展，是一种优良的痕量分析技术，常用来进行环境中重金属元素含量的检测。但是在利用原子荧光分光光度计检测的过程中，通常要测很多组样品，每一组样品中要加多种化学试剂，容易发生漏加和多加试剂的情况;在加试剂的过程中化学试剂本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种原子荧光分光光度计专用进样试管架，由上支撑板（2）、中支撑板（3）、底板（4）、贮液槽（5）和8根支撑柱（1）组成：其特征在于所述底板（4）上设有正方形通孔（7），通孔（7）的位置与上支撑板（2）、中支撑板（3）上的放置孔（6）的位置相对应，正方形通孔的尺寸与放置孔内切，所述4*8放置孔（6）规格的上支撑板（2）、中支撑板（3）分别平均分成两个4*4放置孔规格的结构，再将每个4*4放置孔规格的结构进一步均分成两个九边形结构，将4*8正方形通孔（7）规格的底板（4）平均分成两个4*4正方形通孔规格的结构，再将每个4*4正方形通孔规格的结构进一步均分成两个九边形的结构，上支撑板、中支撑板和底板...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓彤，
申请(专利权)人：山东科技大学，
类型：新型
国别省市：山东;37