试样测定装置制造方法及图纸

技术编号:13382829 阅读:60 留言:0更新日期:2016-07-21 16:32
在试样测定装置中,升降机构从支架向试样测定室搬运试样容器。以跨越基体框的上表面与头的下表面且包围轴的方式设置有内侧遮光构造。内侧遮光构造由第一环形槽与第一环形突起构成。在头处于基底状态的情况下,通过弹簧的作用使基体框的上表面与头的下表面紧贴。此时,第一环形槽与第一环形突起合体。在内侧遮光构造的周围设置有外侧遮光构造,顶板具有层叠构造,且具有遮光片和光反射板。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样测定装置
本专利技术涉及试样测定装置,特别是涉及利用液体闪烁器(liquidscintillator)对试样中的放射性物质进行测定的试样测定装置。
技术介绍
试样测定装置是对多个试样单独进行测定的装置。作为代表性的试样测定装置,可以列举出液体闪烁计数器。液体闪烁计数器具有:对保持有多个试样容器的支架进行搬运的支架搬运机构;对由各试样容器内所含有的放射性物质产生的光进行测定的测定单元;以及在支架与测定室单元之间对试样容器进行搬运的容器搬运机构等。在试样容器内,除液体试样以外,还放入有液体闪烁器。当从试样中的放射性物质放出放射线(例如β射线)时,通过该放射线使液体闪烁器发光。通过构成测定单元的一对光电增倍管(photomultipliertube)来检测该光。一般,需要在收容成为测定对象的试样容器的测定室的周围设置用于屏蔽外来放射线的屏蔽构造。这种屏蔽构造由非常重的金属构成。因此,与在支架载置面的上方设置屏蔽构造体相比,优选在支架载置面的下方设置屏蔽构造体。另外,在采用从支架向上方搬运试样容器的方式的情况下,在测定中在升降路内存在支承试样容器的轴,因此存在难以进行升降路的遮光的问题。本文档来自技高网...
试样测定装置

【技术保护点】
一种试样测定装置,其特征在于,包括:搬运机构,其在搬运面上搬运支架;试样测定室,其设置在比所述搬运面靠下方的位置,收容来自所述支架的试样容器;基体框,其构成所述试样测定室的底部;以及升降机构,其具有上下贯通所述基体框的轴、设置于所述轴的上端且载置所述试样容器的头,所述升降机构在所述支架与所述试样测定室之间搬运所述试样容器,在所述轴被下拉至最下端的基底状态下,所述基体框的上表面与所述头的下表面接合,以跨越所述基体框的上表面和所述头的下表面并包围所述轴的方式设置有遮光构造。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.10.09 JP 2013-211915;2013.10.09 JP 2013-211911.一种试样测定装置,其特征在于,包括:搬运机构,其在搬运面上搬运支架;试样测定室,其设置在比所述搬运面靠下方的位置,收容来自所述支架的试样容器;基体框,其构成所述试样测定室的底部;以及升降机构,其具有上下贯通所述基体框的轴、设置于所述轴的上端且载置所述试样容器的头,所述升降机构在所述支架与所述试样测定室之间搬运所述试样容器,在所述轴被下拉至最下端的基底状态下,所述基体框的上表面与所述头的下表面接合,以跨越所述基体框的上表面和所述头的下表面并包围所述轴的方式设置有遮光构造,所述试样容器内收容有用于测定液体试样中的放射性物质的液体闪烁器,由位于所述试样测定室的光测定单元检测所述试样容器内产生的发光,所述遮光构造包括:环状凸部,其设置在所述基体框的上表面与所述头的下表面中的一方;以及环状凹部,其设置在所述基体框的上表面与所述头的下表面中的另一方,在所述基底状态下,所述环状凸部与所述环状凹部合体。2.根据权利要求1所述的试样测定装置,其特征在于,所述头包括:所述轴的上端部;供所述轴的上端部以能够上下运动的方式插入的头主体;以及设置在所述上端部与所述头主体之间的弹性体,在所述基底状态下,所述弹性体发挥弹性作用,由此所述环状凸部与所述环状凹部弹性紧贴。3.根据权利要求2所述的试样测定装置,其特征在于,所述头主体具有井部,在所述轴的上端部设置有限位构件,所述弹性体是设...

【专利技术属性】
技术研发人员:花谷智则
申请(专利权)人:株式会社日立制作所
类型:发明
国别省市:日本;JP

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