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试样测定装置制造方法及图纸
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下载试样测定装置的技术资料
文档序号:13382829
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在试样测定装置中,升降机构从支架向试样测定室搬运试样容器。以跨越基体框的上表面与头的下表面且包围轴的方式设置有内侧遮光构造。内侧遮光构造由第一环形槽与第一环形突起构成。在头处于基底状态的情况下,通过弹簧的作用使基体框的上表面与头的下表面紧贴...
该专利属于株式会社日立制作所所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社日立制作所授权不得商用。
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