【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种功函数测量装置，特别适用于实验室或企业对微粉煤、半生矿物质以及摩擦材料的功函数测量。
技术介绍
目前，测量功函数的方法有光电子发射法、热电子发射法、场致发射法、扫描隧道显微镜以及开尔文探针法等。前面的几种方法均有一定的局限性，光电子发射法、热电子发射法、场致发射法只适合固体样品的测量。扫描隧道显微镜法则要求样品表面必须带电，故只适用于导体的测量。综上所述对于粉体类大部分绝缘体，因其表面不能导电，故上述方法均不宜采用。
技术实现思路
针对上述方法的局限性，提供了一种方便、快捷测量粉体类物质表面功函数的装置。为实现上述目的，本技术功函数测量装置包括屏蔽装置与测量装置。屏蔽装置主要是一个屏蔽罩以及上面两个金属端面，二者合在一起构成一个金属屏蔽空间，供测量装置进行功函数测定。测量装置部分主要是振动器、固定接触端以及盛放物料的托盘与支架。—种功函数测量装置，其特征在于:内部测量装置主要包括振动器与物料托盘，振动器产生的规则振动使得固定接触端与物料间距往复改变产生电势;底部接线从物料托盘穿过物料台与外部电路连接。根据上述的一种功函数测量装置，其特征在于...
【技术保护点】
一种功函数测量装置，其特征在于：内部测量装置主要包括振动器(4)与物料托盘(7)；底部接线从物料托盘（7）穿过物料台（10）与外部电路连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：朱劲松，何鑫，陈晓炜，
申请(专利权)人：中国矿业大学，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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