一种使用冲击速度测量装置检定或校准冲击速度的方法制造方法及图纸

技术编号:13235045 阅读:93 留言:0更新日期:2016-05-14 22:23
本发明专利技术公开了一种使用冲击速度测量装置检定或校准冲击速度的新方法,它包括信号接收天线、频谱处理模块和信号处理模块,所述信号处理模块包括依次信号连接的正交混频器、放大电路、自动增益控制电路和A/D转换器,其特征是所述信号接收天线为35dB的高增益接收天线,所述放大电路和自动增益控制电路之间依次信号连接有滤波电路和整形电路,所述整形电路输出端连接有主频为150MHz的脉宽捕获模块。本发明专利技术的有益效果是采用高增益的接收天线和脉宽捕捉的方式精确求得(0.5‑10)m/s的测量范围,采用主频高达150MHz的脉宽捕获模块(eCAP)进行采集,可以大大提高频率捕捉精度,降低采集误差,从而实现高精度速度测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计量与测试
,尤其涉及一种使用冲击速度测量装置检定或校 准冲击速度的方法。
技术介绍
运输包装件水平冲击试验(水平、斜面冲击试验)中,冲击速度是斜面冲击试验机 控制试验样品试验强度值是否准确的关键参数。因此用冲击速度测量装置检定或校准试验 系统的冲击速度是否准确至关重要,尤其是低速测量,要求准确度、分辨率高,跟踪准确,物 体运行至冲击面的距离较短,传感器感应时间得出速度受震动影响,误差较大,激光测速难 以捕捉目标,测速雷达主要对多普勒信号进行同步的高速采集,采集到的数据由中央处理 单元作相应的噪声处理、频率变换分析、数据相关等算法的处理,得到检测目标的频谱,确 定目标的多普勒频率,再根据多普勒效应得到目标的运动速度。在信号处理方面,信号首先 经过正交混频器出来后,对其进行一级或二级放大,再经过自动增益控制电路(AGC)将其控 制在一定的幅值范围之内,最后把需要的正弦信号送往ADC采集模块,将其模数转换,得到 相应的数字量。在低速低频信号方面由于低频低速信号和噪声比较接近,如果这样处理速 度误差将有相应的增加。 斜面冲击试验机是对运输包装件和单元货物进行本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用冲击速度测量装置检定或校准冲击速度的新方法,其特征是它包括冲击速度测量装置,所述冲击速度测量装置包括信号接收天线、频谱处理模块和信号处理模块,所述信号处理模块包括依次信号连接的正交混频器、放大电路、自动增益控制电路和A/D转换器,其特征是所述信号接收天线为35dB的高增益接收天线,所述放大电路和自动增益控制电路之间依次信号连接有滤波电路和整形电路,所述整形电路输出端连接有主频为150MHz的脉宽捕获模块;还包括检定或校准冲击速度的方法,它包括以下步骤:将所述冲击速度测量装置对准待检定或校准物体的运动轨迹,开启冲击速度测量装置,当待检定或校准物体通过冲击点时,信号接收天线捕捉到待检定物体...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王强陈镇金美峰黄利君贺德溪宋淮北李鸣
申请(专利权)人:安徽省计量科学研究院安徽蓝盾光电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:安徽;34

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