确定测量序列中的时间窗制造技术

本发明专利技术涉及一种用于确定测量序列中的时间窗的方法，其中能够在正进行的测量中改变测量的设定参数的值而没有不利地影响借助测量获得的测量数据，包括如下步骤：加载测量序列；基于测量序列中的使用相干性的分析来确定测量序列中的时间窗，在时间窗中能够在正进行的测量中改变设定参数的数值；将所确定的时间窗存储和/或继续处理。根据本发明专利技术的对使用相干性的分析能简单地执行，因为对此所需的信息已固有地包含在测量序列中。根据本发明专利技术的方法允许：极简单地确定测量序列中的时间窗，在时间窗中能够改变设定参数。通过确定其中能够改变设定参数的时间窗显著地简化测量流程与设定参数的改变的同步。此外，能够使用所确定的时间窗以节约能量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于确定测量序列中的时间窗的方法，在时间窗中能够在正进行的测量中改变序列控制数据的值而没有不利地影响借助测量获得的测量数据，一种用于通过充分利用这种时间窗运行医学成像检查设备的方法以及一种相应的医学成像检查设备和一种所属的计算机程序和一种所属的可电子读取的数据载体。
技术介绍
医学成像检查设备、例如磁共振设备或者计算机断层扫描装置是一种具有多个技术性子系统的复杂装置。在磁共振装置中附属有基磁场系统、梯度系统、匀场系统和高频发射系统以及高频接收系统。为了利用磁共振设备(下面对于磁共振使用简称MR)产生检查对象的图像或者波谱数据，检查对象定位在通过基磁场系统产生的强均匀基磁场中，也称为B。场，其具有0.2特斯拉至7特斯拉或者更高的场强，从而使其核自旋沿着基磁场指向。为了触发核磁共振，利用高频发射系统的合适的天线装置将高频的激励信号(HF脉冲)照射到检查对象中，从而使确定的、通过该高频场共振激励的原子的核自旋以确定的翻转角相对于基磁场的磁场线倾斜。被触发的核磁共振，也就是在核磁进动时发射的高频信号(也称:磁共振信号)借助高频接收系统测量，通常数字化并且作为复杂数字值至少(当给出位置参照时)作为所谓的k空间数据存放到k空间矩阵中。例如在信号-体素-波谱-测量时(没有位置参照)，数字化的数据作为复杂的时间信号，也称为“FID数据”存储。基于k空间数据或者FID数据，能够重建MR图像或者能够测定波谱学数据。为了对测量数据进行位置编码，借助梯度系统，快速切换的磁梯度场覆盖基磁场。匀场系统应该对磁场进行均匀化。所有这些技术模型必须由控制装置以合适的方式和方法协调地响应。在此，必须通过控制来执行对于确定的成像过程来说必要的、对各个子系统在相应正确的时间点的设定和切换。通常，在成像流程中以子体积来记录待成像的体积，例如在2D成像时以多个层或者在3D成像中以所谓的多个“厚层”。如此记录到的子体积然后被组合成总体积。子体积的另外的定义可以例如通过能够由操作者特殊定义的“感兴趣区域(R0I) ”或者“感兴趣的体积(V0I) ”给出。此外，例如在磁共振系统中在确定局部饱和区域或者局部的制剂脉冲(Praeparat1n)或者标签脉冲时给出了附加的子体积。如已经提到的，为了进行协调控制，通常为控制装置传输序列控制数据，多数基于所谓的测量协议。该序列控制数据定义了整个测量序列的不同的功能性子序列。磁共振记录可以例如在第一子序列时为脉冲序列，从而局部地在确定区域中实现饱和。另外的子序列例如可以包括确定的制剂脉冲并且其他的另外的子序列用于按顺序地激励和接收不同层或者厚层中的磁共振信号。基于MR 技术，如断层成像(MRT，英语“magnetic resonance tomography”)或者波谱分析(MRS，英语“magnetic resonance spectroscopy”)的常见方法需要“良性的”物理环境条件，从而确保记录到的数据的尽可能良好的质量。例如，这涉及到空间均匀性、时间稳定性和关联磁场和高频场、即基磁场(B。)和梯度和高频场(BJ的绝对精度。至今为止，与理想环境的偏差可以至少部分地例如通过系统特定的设定，、所谓的“Tune-Ups”，尤其是在感生了涡流的动态场干扰或者梯度灵敏性方面，或者通过检查对象特定的设定，尤其是在取决于磁化率的静态场干扰方面或者高频场的空间变化方面进行补偿。然而在此，在开始测量前确定的补偿设定通常在整个测量期间保持有效(“静态”校准)。对于不能被完全补偿的空间可变环境条件来说，这意味着对于数据质量的妥协。De Graaf 及其他人在 “Dynamic Shim Updating (DSU) for Mult1-Slice SignalAcquisit1n，，，Proc.1ntl.Soc.Mag.Reson.Med.10，S.536，2002 中描述了一种用于在功能性的多层MR成像中的B0匀场的场线圈的匀场电流的动态校准的健全的方式和由此的优化。对此，为了测定第一或者更高级别的空间场变化使用了有贡献的场确定序列，其必须精确地与预期的成像序列的相应参数(例如层位置和指向)进行匹配。场确定序列接收了对于场确定来说必要的数据并且对其进行分析，从而由此为每个待利用成像序列测量的层计算优化的匀场电流(第一或者更高级别的)。接下来，成像序列以优化的匀场电流开始。在此，通过使用者非常准确地注意在成像序列和场确定序列之间的一致性，因为否则不一致性会导致数据质量的变差。因此，对于每个成像序列和该序列的每个变化再次建立场确定序列并且在测量之前利用成像序列来执行。该方法因此对于应用者来说非常复杂并且难以与另外的、例如静态的校准组合，因为在不同的参数之间的转换效果不能或者仅仅受限地被考虑到。如果静态校准参数改变，那么其能够对匀场电流的理想的动态校准产生影响并且将执行对场确定序列的再次执行并且执行对优化的匀场电流的计算。此外，优化在此受到成像序列的层的限制。更小的体积，例如区域性的饱和体积在此没有被考虑到。在DE 10 2009 020 661 B4中再次描述了一种方法，利用该方法对于测量序列的运行时间调整测量序列的参数、例如在磁共振技术中。此外，在此已经说明，即通常为不同的作用体积分配了不同的功能性子序列。也就是说，对于每个子序列来说，整个测量体积的另外的子体积都是关联的。然而，测量序列的序列控制数据(参数)的值对于测量的运行时间而言的这种优化当其不利地影响数据记录时能够引起记录的数据质量的干扰。
技术实现思路
因此，本专利技术基于如下目的:提出一种用于确定测量序列中的时间窗的方法，在该时间窗中能够在正进行的测量中改变测量的设定参数的数值而没有不利地影响借助测量获得的测量数据，提出一种用于运行医学成像检查设备的方法，提出一种医学成像检查设备，提出一种所属的计算机产品以及提出一种所属的电子可读的数据载体，它们以尤其简单的方式克服所描述的问题。本专利技术还基于如下考量:不应当在使用相干性的演化期间改变测量的参数。对此的理由是:参数的、例如HF-中间频率或匀场偏置的改变对使用相干性具有间接作用。因此，当在中间时间上例如通过匀场偏置的改变而对基磁场均质性进行了更改时，例如去相位的磁场梯度的作用不再能够通过相应的相位重聚的磁场梯度得到补偿。在此将使用相干性理解为以下参量，其应通过测量被有目的地操纵并对该操纵的可能的“回应”应当被测量。这种使用相干性的一个实例例如是通过HF脉冲和/或梯度接通操纵的且必要时稍后作为测量数据记录的横向的磁化。根据本专利技术的用于确定测量序列中的时间窗的方法，在该时间窗中能够在正进行的测量中改变测量的设定参数的数值而没有不利地影响借助测量获得的测量数据，该方法包括如下步骤:-加载测量序列，-基于测量序列中的使用相干性的分析来确定测量序列中的时间窗，在时间窗中能够在正进行的测量中改变设定参数的数值，-将所确定的时间窗存储和/或继续处理。使用相干性的根据本专利技术的分析能够以简单的方式执当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于确定测量序列中的时间窗的方法，在所述时间窗中能够在进行着的测量中改变测量的设定参数的值而没有不利地影响利用所述测量获得的测量数据，所述方法包括如下步骤：加载测量序列，基于对所述测量序列中的使用相干性的分析来确定所述测量序列中的时间窗，在所述时间窗中能够在进行着的所述测量中改变所述设定参数的值，存储和/或继续处理所确定的所述时间窗。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员：托马斯·本纳，斯文·卡姆帕格纳，托尔斯滕·法伊魏尔，贝恩德·屈恩，托尔斯滕·施佩克纳，彼得·施派尔，丹尼尔·尼科·施普利特霍夫，
申请(专利权)人：西门子公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE