一种薄片测厚装置制造方法及图纸

技术编号:13047176 阅读:96 留言:0更新日期:2016-03-23 14:35
本发明专利技术公开了一种薄片测厚装置,包括机架,所述机架的一侧设置有表面相接触的轴承和定轴,所述机架设置有杠杆放大结构,所述杠杆放大结构的一端与所述轴承的表面相接触,且靠近其另一端的机架上设置有检测装置。通过杠杆放大结构实现对薄片厚度的逐级放大,并在放大终端安装检测装置,通过检测装置的检测信号区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及了一种薄片测厚装置,属于薄片厚度检测

技术介绍
在一些自动化设备中,通常需要对薄片类产品的厚度进行检测,尤其是在自助售票机或者自动售货机上,在纸币进钞或者出钞的过程中都需要检测通过的薄片是一张或者两张以上,当通过一张时表明可正常通过,当通过两张以上时,则表明出现异常情况。现有的检测薄片是否为一张或者多种通过的装置通常是通过检测通过薄片的厚度,从而确定薄片的数量。但是由于薄片的厚度很薄,现有的检测装置因检测精度不够,通常会出现检测错误的情况,导致装置运行不稳定。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种薄片测厚装置,通过多级放大的方式,将通过的薄片厚度进行放大,利用位移检测传感器检测放大后的薄片厚度,提高了检测的准确性。为了解决上述技术问题,本专利技术所采用的技术方案是:一种薄片测厚装置,包括机架,所述机架的一侧设置有表面相接触的轴承和定轴,所述机架设置有杠杆放大结构,所述杠杆放大结构的一端与所述轴承的表面相接触,且靠近其另一端的机架上设置有检测装置。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述杠杆放大结构包括设置在机架上且可相对其转动的第一杠杆、第二杠杆和第三杠杆,所述第一杠杆的一端与所述轴承的表面相接触,另一端与所述第二杠杆的底部相接触,所述第二杠杆的一端与所述第三杠杆的一端底部相接触,所述检测装置设置在所述第三杠杆的另一端处。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述杠杆放大结构包括设置在机架上且可相对其转动的第一杠杆和第二杠杆,所述第一杠杆的一端与所述轴承的表面相接触,另一端与所述第二杠杆的底部相接触,所述检测装置设置在所述第二杠杆的末端处。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述检测装置为红外传感器,且通过传感器微调装置固定在所述机架。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述检测装置包括磁铁和霍尔元件,其中磁铁设置在所述第三杠杆的一端,所述霍尔元件设置在所述磁铁的正上方。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述检测装置包括磁铁和霍尔元件,其中磁铁设置在所述第二杠杆的一端,所述霍尔元件设置在所述磁铁的正上方。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述第三杠杆与所述第二杠杆接触的一端的上方设置有与其接触的压力弹簧。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述第二杠杆的上方设置有与其接触的压力弹簧。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述霍尔元件通过高度升降调节板设置在所述机架上,且所述机架上还设置有用于调节所述高度升降调节板高度的高度调节杆。前述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述第一杠杆与所述轴承的接触的一端设置有组装定位孔。本专利技术的有益效果是:通过杠杆放大结构实现对薄片厚度的逐级放大,并在放大终端安装检测装置,通过检测装置的检测信号区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。附图说明图1是本专利技术第一实施例的结构示意图;图2是本专利技术第二实施例的结构示意图;图3是本专利技术第三实施例的结构示意图;图4是本专利技术第四实施例的结构示意图。具体实施方式下面将结合说明书附图,对本专利技术作进一步的说明。实施例1如图1所示,一种薄片测厚装置,包括机架1,所述机架1的一侧设置有表面相接触的轴承2和定轴3,所述机架1设置有杠杆放大结构,所述杠杆放大结构的一端与所述轴承2的表面相接触,且靠近其另一端的机架1上设置有红外传感器7,本实施例中,采用的是红外检测传感器,也可以采用其他具有位移检测功能的仪器或设备。当有薄片通过轴承2与定轴3之间时,通过杠杆放大结构将轴承2移动的距离放大,利用红外传感器7检测放大后的距离,从而判断薄片的厚度。本实施例中,所述杠杆放大结构包括设置在机架1上且可相对其转动的第一杠杆4、第二杠杆5和第三杠杆6,所述第一杠杆4的一端与所述轴承2的表面相接触,另一端与所述第二杠杆5的底部相接触,所述第二杠杆5的一端与所述第三杠杆6的一端底部相接触,所述第三杠杆6的另一端延伸至所述红外传感器7处。其中,第一杠杆4通过第一旋转轴9连接在所述机架1上,第二杠杆5通过第二旋转轴11连接在所述机架1上,所述第三杠杆6通过第三旋转轴10连接在所述机架1上。通过杠杆逐级放大,第一杠杆4放大一定的倍数后传送给第二杠杆5放大,第二杠杆5又传送给第三杠杆6进行放大,共计放大15倍左右;并在第三放大杠杆的末端放置一个红外传感器7;通过设定薄片厚度约1.5倍的位置时位移检测传感器导通,当一张薄片通过时不导通,两张或者两张以上薄片通过时位移检测传感器导通,从而区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。本实施例中,采用的三级放大的结构,在实际使用过程中,也可根据需要选择放大倍数,可以是一级放大或者多级放大,从而调整放大倍数,便于检测薄片的厚度,放大倍数可在5-30倍之间调整。同时,本专利技术也不仅限于用于薄片的检测,也可用于票据等薄片的厚度检测。所述第三杠杆6与所述第二杠杆5接触的一端的上方设置有与其接触的压力弹簧(图中未示出)。当薄片通过轴承2和定轴3之间后,利用弹簧的弹力使三根杠杆复位。所述红外传感器7通过传感器微调装置8固定在所述机架1,可以根据需要通过传感器微调装置8调节红外传感器7的安装位置,从而提高检测精度。所述第一杠杆4与所述轴承2的接触的一端设置有组装定位孔12。组装时组装定位孔12用于定位,组装后调节位移检测传感器微调机构确保其在设定位置。实施例2如图2所示,一种薄片测厚装置,包括机架1,所述机架1的一侧设置有表面相接触的轴承2和定轴3,所述机架1设置有杠杆放大结构,所述杠杆放大结构的一端与所述轴承2的表面相接触,且靠近其另一端的机架1上设置有传感器,本实施例中,所述杠杆放大结构包括设置在机架1上且可相对其转动的第一杠杆4、第二杠杆5,所述第一杠杆4的一端与所述轴承2的表面相接触,另一端与所述第二杠杆5的底部相接触,所述传感器包括磁铁51和霍尔元件52,其中磁铁51设置在所述第二杠杆5的一端,所述霍尔元件52设置在所述磁铁51的正上方。当薄片通过轴承2和定轴3之间时,通过杠杆放大结构实现对薄片厚度的逐级放大,导致磁铁的空间位移,致使磁铁51与霍尔元件52之间的距离A发生变化,当一张薄片轴承2和定轴3之间时,变化量设定为B1,当两张或者两张以上时为B2,B3……,由于杠杆放大原理,B2约等于2倍B1(B3约为3倍B1)。当薄片通过时,磁铁与霍尔元件之间的距离就变为(A1=A+B1,A2=A+B2,……),未通过时霍尔输出电压为U(设置为基准电压),一张薄片通过检测值为U1,两张或者两张以上为U2,U3……。由于薄片未通过或通过轴承2和定轴3之间时,A,A1,……等几乎为线性变化,导致霍尔元件检测到磁场强度也呈线性变化,从而霍尔输出电压U,U1……也出现线性变化。通过对比U1-U,U2-U……之间的电压差对比即可实现区分是一张薄片通过还是多张薄片通过。所述第二杠杆5的上方设置有与其接触的压力弹簧,从而使薄片通过后机构能够恢复初本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄片测厚装置,包括机架(1),所述机架(1)的一侧设置有表面相接触的轴承(2)和定轴(3),其特征在于:所述机架(1)设置有杠杆放大结构,所述杠杆放大结构的一端与所述轴承(2)的表面相接触,且靠近其另一端的机架(1)上设置有检测装置。

【技术特征摘要】
1.一种薄片测厚装置,包括机架(1),所述机架(1)的一侧设置有表面相接触的轴承(2)和定轴(3),其特征在于:所述机架(1)设置有杠杆放大结构,所述杠杆放大结构的一端与所述轴承(2)的表面相接触,且靠近其另一端的机架(1)上设置有检测装置。
2.根据权利要求1所述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述杠杆放大结构包括设置在机架(1)上且可相对其转动的第一杠杆(4)、第二杠杆(5)和第三杠杆(6),所述第一杠杆(4)的一端与所述轴承(2)的表面相接触,另一端与所述第二杠杆(5)的底部相接触,所述第二杠杆(5)的一端与所述第三杠杆(6)的一端底部相接触,所述检测装置设置在所述第三杠杆(6)的另一端处。
3.根据权利要求1所述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述杠杆放大结构包括设置在机架(1)上且可相对其转动的第一杠杆(4)和第二杠杆(5),所述第一杠杆(4)的一端与所述轴承(2)的表面相接触,另一端与所述第二杠杆(5)的底部相接触,所述检测装置设置在所述第二杠杆(5)的末端处。
4.根据权利要求2或3所述的一种薄片测厚装置,其特征在于:所述检测装置为红外传感器(7),且通过传感器微调装置(8)固定在所述机架(1)。

【专利技术属性】
技术研发人员:毕虎杰席宇星刘海军
申请(专利权)人:易程苏州电子科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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