消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统技术方案

技术编号:13026184 阅读:64 留言:0更新日期:2016-03-16 23:13
本实用新型专利技术提供的一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,包括半桥式惠斯通电桥、触点开关K1、触点开关K2以及两个标定电阻R0;半桥式惠斯通电桥的第一输入端A通过导线与触点开关K1的静触点S0连接,第一输入端A还通过标定电阻R0与触点开关K1的静触点S1连接,触点开关K1的动触点S2接电源E;半桥式惠斯通电桥的第二输入端B通过导线与触点开关K2的静触点S4连接,第二输入端B还通过标定电阻R0与触点电开关K2的静触点S3连接,触点开关K2的动触点S5接地;能够有效消除导线对电阻应变测量结果的影响,大大提高应变测量的精度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种应变测量系统,尤其涉及一种消除导线电阻影响的半桥惠斯 通电桥应变测量系统。
技术介绍
惠斯通电桥是应用最为广泛的电阻测量方法,其中半桥惠斯通电桥常应用于应变 测量,现有技术中,半桥惠斯通电桥在测量应变过程中,元件之间的导线存在着电阻,当各 元件之间的导线较短时,导线电阻较小,从而对测量结果影响较小,但是,当导线较长时,导 线电阻将对测量结果产生巨大影响,使得应变测量结果产生较大误差,而目前还没有有效 的手段来解决上述问题。 因此,需要提出一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,能够有 效消除导线电阻应变测量结果的影响,大大提高应变测量的精度。
技术实现思路
有鉴于此,本技术的目的是提供一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应 变测量系统,能够有效消除导线电阻应变测量结果的影响,大大提高应变测量的精度。 本技术提供的一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,包括 半桥惠斯通电桥、触点开关K1、触点开关K2以及两个标定电阻R0; 半桥惠斯通电桥的第一输入端A通过导线与触点开关K1的静触点S0连接,第一输 入端A还通过标定电阻R0与触点开关K1的静触点S1连接,触点开关K1的动触点S2接电源E; 半桥惠斯通电桥的第二输入端B通过导线与触点开关K2的静触点S4连接,第二输 入端B还通过标定电阻R0与触点电开关K2的静触点S3连接,触点开关K2的动触点S5接地。 进一步,所述半桥惠斯通电桥由应变电阻R1和应变电阻R2顺次连接形成;其中,应 变电阻R1的一端为第一输入端A,应变电阻R2的一端为输入端B,应变电阻R1和应变电阻R2 的公共连接点为半桥惠斯通电桥的输出端C,内部电阻R3和R4的公共连接点为半桥惠斯通 电桥的输出端D。 本技术的有益效果:本技术的消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变 测量系统,能够有效消除导线电阻应变测量结果的影响,大大提高应变测量的精度;而且不 改变现有的测量习惯,便于工程测量人员掌握。【附图说明】下面结合附图和实施例对本技术作进一步描述: 图1为本技术的结构示意图。 图2为本技术的等效示意图。【具体实施方式】图1为本技术的结构不意图,图2为本技术的等效不意图,如图所不,图2 和图1中的区别在于:将导线等效为电阻r; 本技术提供的一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,包括 半桥惠斯通电桥、触点开关K1、触点开关K2以及两个标定电阻R0; 半桥惠斯通电桥的第一输入端A通过导线与触点开关K1的静触点S0连接,第一输 入端A还通过标定电阻R0与触点开关K1的静触点S1连接,触点开关K1的动触点S2接电源E; 半桥惠斯通电桥的第二输入端B通过导线与触点开关K2的静触点S4连接,第二输 入端B还通过标定电阻R0与触点电开关K2的静触点S3连接,触点开关K2的动触点S5接地。 进一步,所述半桥惠斯通电桥由应变电阻R1和应变电阻R2顺次连接形成;其中,应 变电阻R1的一端为第一输入端A,应变电阻R2的一端为输入端B,应变电阻R1和应变电阻R2 的公共连接点为半桥惠斯通电桥的第一输出端,即图1中的C点,内部电阻R3和内部电阻R4 的公共连接点为半桥惠斯通电桥的第二输出端,即图1中的D点,系统通过测量C点和D点间 的电压得到半桥式惠斯通电桥的输出电压。 本技术按照如下方法实施,即本技术的工作原理如下:a.建立半桥惠斯通电桥测量应变的模型:其中,ε为待测应变,U为输出电压,E为输入电压, Κ为应变灵敏系数,r为导线电阻,R为应变电阻的阻值,从该模型中可以看出,当导线电阻相 当小时,即导线电阻远小于应变电阻的阻值时,导线电阻可以忽略不计的,但是,当导线较 长时,那么导线电阻对于应变测量结果的影响是相当大的,如果此时忽略导线电阻的影响, 那么将造成应变测量结果的极为不准确;b.将触点开关K1的动触点S2与静触点S1接触连接,将触点开关K2的动触点S5与静 触点S3接触连接,并测量当前半桥惠斯通电桥的输入电压E0和输出电压U0,并可得出如下 公式: 其中,AR1和AR2分别为应变电 阻R1和应变电阻R2在应变作用下的阻值变化量,Π)为标定电阻阻值;c.将触点开关K1动触点S2与静触点S0接触连接,将触点开关K2的动触点S5与静触 点S4接触连接,并测量当前半桥惠斯通电桥的输入电压E1和输出电压U0,并可得如下公式:d.由步骤b中的式(2)和c步骤中的式(3)可解得: e.由式(1)、式(3)以及式(4)联立可得应变量:从式(5)中可以看出,通过本实 用新型的提供的测量系统进行测量,有效地消除了导线电阻r对应变测量结果得影响,大大 提高了测量精度。最后说明的是,以上实施例仅用以说明本技术的技术方案而非限制,尽管参 照较佳实施例对本技术进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本 技术的技术方案进行修改或者等同替换,而不脱离本技术技术方案的宗旨和范 围,其均应涵盖在本技术的权利要求范围当中。【主权项】1. 一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,其特征在于:包括半桥式 惠斯通电桥、触点开关K1、触点开关K2以及两个标定电阻R0; 半桥惠斯通电桥的第一输入端A通过导线与触点开关K1的静触点SO连接,第一输入端A还通过标定电阻R0与触点开关K1的静触点S1连接,触点开关K1的动触点S2接电源E; 半桥惠斯通电桥的第二输入端B通过导线与触点开关K2的静触点S4连接,第二输入端B还通过标定电阻R0与触点电开关K2的静触点S3连接,触点开关K2的动触点S5接地。2. 根据权利要求1所述消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,其特征在 于:所述半桥式惠斯通电桥由应变电阻R1和应变电阻R2顺次连接形成;其中,应变电阻R1的 一端为第一输入端A,应变电阻R2的一端为输入端B,应变电阻R1和应变电阻R2的公共连接 点为半桥式惠斯通电桥的输出端C,内部电阻R3和R4的公共连接点为半桥惠斯通电桥的输 出端D。【专利摘要】本技术提供的一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,包括半桥式惠斯通电桥、触点开关K1、触点开关K2以及两个标定电阻R0;半桥式惠斯通电桥的第一输入端A通过导线与触点开关K1的静触点S0连接,第一输入端A还通过标定电阻R0与触点开关K1的静触点S1连接,触点开关K1的动触点S2接电源E;半桥式惠斯通电桥的第二输入端B通过导线与触点开关K2的静触点S4连接,第二输入端B还通过标定电阻R0与触点电开关K2的静触点S3连接,触点开关K2的动触点S5接地;能够有效消除导线对电阻应变测量结果的影响,大大提高应变测量的精度。【IPC分类】G01B7/16【公开号】CN205090930【申请号】CN201520924691【专利技术人】孟利波, 陈果, 张又进, 廖敬波, 宋刚, 唐浩, 谭川, 潘飞 【申请人】招商局重庆交通科研设计院有限公司【公开日】2016年3月16日【申请日】2015年11月18日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种消除导线电阻影响的半桥惠斯通电桥应变测量系统,其特征在于:包括半桥式惠斯通电桥、触点开关K1、触点开关K2以及两个标定电阻R0;半桥惠斯通电桥的第一输入端A通过导线与触点开关K1的静触点S0连接,第一输入端A还通过标定电阻R0与触点开关K1的静触点S1连接,触点开关K1的动触点S2接电源E;半桥惠斯通电桥的第二输入端B通过导线与触点开关K2的静触点S4连接,第二输入端B还通过标定电阻R0与触点电开关K2的静触点S3连接,触点开关K2的动触点S5接地。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孟利波陈果张又进廖敬波宋刚唐浩谭川潘飞
申请(专利权)人:招商局重庆交通科研设计院有限公司
类型:新型
国别省市:重庆;85

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