一种新型测高仪测头制造技术

本实用新型专利技术提供了一种新型测高仪测头，包括测针和加长测杆，所述加长测杆上设有一个紧固孔，紧固孔为通孔，测针穿过紧固孔并被紧固。本实用新型专利技术所述的新型测高仪测头，结构简单、使用维护方便、保证测量精度，并能够完成对结构复杂及带有小孔、深孔的工件的精密测量工作。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于精密测量领域，尤其是涉及精密测高仪。
技术介绍
接触式的精密测高仪器，都有一个关键部分就是测头。所谓接触式，就是在测量时，测头必须与被测工件相接触，才能得出所需数据。精密测高仪原装的测头较短，且不能测量工件上的小孔及深孔的孔深。现有的测针加长杆与测针是以螺纹形式连接的，对于测针的限制较大，并且在更换时较为不便。因此不能满足对结构较为复杂的工件的精密测量工作。
技术实现思路
有鉴于此，本技术旨在提出一种新型测高仪测头，结构简单、使用维护方便、保证测量精度，并能够完成对结构复杂及带有小孔、深孔的工件的精密测量工作。为达到上述目的，本技术的技术方案是这样实现的:—种新型测高仪测头，包括测针和加长测杆，所述加长测杆上设有一个紧固孔，紧固孔为通孔，测针穿过紧固孔并被紧固。进一步，所述加长测杆上设有一个紧固螺纹孔，紧固螺纹孔与紧固孔贯通，紧固螺纹孔配有一个紧固螺钉。相对于现有技术，本技术所述的新型测高仪测头具有以下优势:本技术所述的新型测高仪测头，结构简单、使用维护方便、保证测量精度，并能够完成对结构复杂及带有小孔、深孔的工件的精密测量工作。【附图说明】构成本技术的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中:图1为本技术实施例所述的新型测高仪测头主视图；图2为本技术实施例所述的新型测高仪测头的加长测杆主视图。附图标记说明:1-紧固螺钉，2-加长测杆，3-测针，4-紧固孔，5-紧固螺纹孔。【具体实施方式】需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。如图1、2，本技术提出一种新型测高仪测头，包括测针3和加长测杆2，所述加长测杆2上设有一个紧固孔4，紧固孔4为通孔，测针3穿过紧固孔4并被紧固。上述加长测杆2上设有一个紧固螺纹孔5，紧固螺纹孔5与紧固孔4贯通，紧固螺纹孔5配有一个紧固螺钉1。在测量工件之前，应先进行测针3的选择。以待测量的工件所带有的孔的位置、孔径和孔深这三个条件为主选条件来选择能够满足测量要求的测针3。测针3选好后，将测针3穿过加长测杆2上设置的紧固孔4，预调节测针3伸出紧固孔4的长度。之后旋紧紧固螺钉1，使紧固螺钉1的尾端顶住测针3，从而达到紧固测针3的目的。之后将新型测高仪测头安装在测高仪上。按照待测工件的结构调节加长测杆2的安装位置和测针3的紧固位置。调整好之后，即可进行待测工件的测量工作。该新型测高仪测头，结构简单、使用维护方便，在测量不同工件时，只需调节加长测杆2的安装位置和测针3的紧固位置，必要时更换测针3即可满足测量需求。并在测量时，能够保证测量精度。以上所述仅为本技术的较佳实施例而已，并不用以限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。【主权项】1.一种新型测高仪测头，包括测针(3)和加长测杆(2)，其特征在于:所述加长测杆(2)上设有一个紧固孔(4)，紧固孔(4)为通孔，测针(3)穿过紧固孔(4)并被紧固。2.根据权利要求1所述的新型测高仪测头，其特征在于:所述加长测杆(2)上设有一个紧固螺纹孔(5)，紧固螺纹孔(5)与紧固孔⑷贯通，紧固螺纹孔(5)配有一个紧固螺钉⑴。【专利摘要】本技术提供了一种新型测高仪测头，包括测针和加长测杆，所述加长测杆上设有一个紧固孔，紧固孔为通孔，测针穿过紧固孔并被紧固。本技术所述的新型测高仪测头，结构简单、使用维护方便、保证测量精度，并能够完成对结构复杂及带有小孔、深孔的工件的精密测量工作。【IPC分类】G01B5/18【公开号】CN205066650【申请号】CN201520789626【专利技术人】袁志伟 【申请人】天津瑞福天科模具有限公司【公开日】2016年3月2日【申请日】2015年10月12日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型测高仪测头，包括测针(3)和加长测杆(2)，其特征在于：所述加长测杆(2)上设有一个紧固孔(4)，紧固孔(4)为通孔，测针(3)穿过紧固孔(4)并被紧固。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：袁志伟，
申请(专利权)人：天津瑞福天科模具有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12