图像形成设备和处理盒制造技术

技术编号:12874919 阅读:66 留言:0更新日期:2016-02-17 11:46
提供了一种图像形成设备和处理盒,其抑制了由辊隙内放电强度降低导致的横条纹状图像的发生,并且同时抑制了由于充电构件表面的污染由异常放电导致的点状图像的发生。所述图像形成设备和所述处理盒具有:具有树脂颗粒的充电构件,所述树脂颗粒在其内部具有多个孔;和调色剂,其中在所述调色剂表面上的二氧化硅细颗粒的覆盖率(Xl)是50.0-75.0面积%,并且当二氧化硅细颗粒的理论覆盖率设定为X2时,其中由等式1示出的扩散指数满足等式2。(等式1)扩散指数=Xl/X2(等式2)扩散指数≥-0.0042×Xl+0.62。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像形成设备和处理盒
本专利技术涉及一种图像形成设备和处理盒。
技术介绍
使用电子照相系统的图像形成设备主要包括电子照相感光构件、充电装置、曝光装置、显影装置、转印装置、清洁装置、和定影装置。充电装置使用以下系统:电子照相感光构件(下文中也称为“感光构件”)的表面通过将电压(直流电压或通过将交流电压叠加至直流电压来获得的电压)施加至接触或紧密配置在感光构件的表面上的充电构件来充电。为了稳定地进行充电并且降低产生的臭氧的量,优选使用接触式充电法。在接触式充电法的情况下,优选使用辊状的充电构件。近年来,对于图像形成设备,已经需要高速化、高图像品质、高耐久性、和小型化。为了实现这,PTL1或2公开了在充电构件的表面上形成具有凸部的表面层的技术,所述凸部来源自树脂颗粒等。在该技术中,如PTL3中记载,认为充电均一性通过在凸部附近进行辊隙内放电来改善。这可以抑制由于电阻的不均一性而形成的横条纹状的图像(下文中称为“横条纹状图像”)的产生。然而,如果在高速化、高图像品质化和高耐久化、和小型化的进程中,如上所述,来源自树脂颗粒的此类凸部形成在表面层上,则感光构件趋于仅接触凸部的顶点部分。因此,接触面积小并且接触压力集中,其有时导致在充电构件与感光构件之间的滑移。在其中转印步骤之后残留在感光构件的表面上的调色剂(下文中也称为“残留调色剂”)没有在清洁步骤中除去的情况下,未除去的调色剂由于充电构件的滑移在感光构件与充电构件之间滑动时摩擦,因此固着在充电构件的表面上。调色剂的固着降低了充电构件的放电性能。结果,容易产生横条纹状图像和在调色剂固着部中由异常放电形成的点状图像(下文中称为“点状图像”)。对该问题的解决没有记载于PTL1或2中。引用列表专利文献PTL1:日本专利特开No.2003-316112PTL2:日本专利特开No.2009-175427PTL3:日本专利特开No.2008-276026
技术实现思路
专利技术要解决的问题近年来,对于图像形成设备,已经需要高速化,并且此类图像形成设备也已经用于宽范围的环境中。特别地,在低温和低湿的环境中,充电构件的摩擦性降低,因此滑移容易发生,其促进了调色剂在充电构件的表面上的固着。因此,点状图像趋于变得明显。另外,即使更球状的调色剂用于实现近年来已经需要的高的图像品质,点状图像趋于变得明显。作为具有高速化、高图像品质、和高耐久性等的小型化的图像形成设备的外观的结果,尚未形成的横条纹状图像和点状图像有时变得明显。因此,本专利技术的专利技术人已经认识到,更稳定的电子照相性能通过以下实现:在保持辊隙内放电的同时,抑制充电构件的滑移。本专利技术涉及提供一种图像形成设备的充电构件,其中抑制了由于辊隙内放电强度的降低的横条纹状图像的产生,同时抑制了由于由充电构件的表面上的污迹导致的异常放电的点状图像的产生。进一步,本专利技术涉及提供包括所述充电构件的处理盒和图像形成设备。用于解决问题的方案根据本专利技术的一个方面,提供了一种图像形成设备,其包括:感光构件;用充电构件使所述感光构件带电的充电装置;在带电的感光构件的表面上形成静电潜像的曝光装置;和将调色剂供给其上形成静电潜像的所述感光构件从而在所述感光构件的表面上形成调色剂图像的显影装置,其中所述充电构件包括导电性基体和导电性树脂层,所述树脂层包含粘结剂树脂C和使所述充电构件的表面粗糙化的树脂颗粒,所述树脂颗粒在其内部具有多个孔;并且所述充电构件的表面具有来源自所述树脂颗粒的多个凸部,并且其中:所述调色剂包括:调色剂颗粒,和无机细颗粒,各个所述调色剂颗粒包含粘结剂树脂T和着色剂;所述无机细颗粒是二氧化硅细颗粒,基于100质量份的所述调色剂颗粒,所述调色剂包含0.40质量份以上且1.50质量份以下的量的所述二氧化硅细颗粒,所述二氧化硅细颗粒由基于100质量份的二氧化硅原料为15.0质量份以上且40.0质量份以下的硅油处理,并且所述硅油基于碳量的固定率%是70%以上,并且由X射线光电子能谱仪ESCA测定的所述调色剂的表面的所述二氧化硅细颗粒的覆盖率X1是50.0面积%以上且75.0面积%以下,并且当所述二氧化硅细颗粒的理论覆盖率是X2时,由以下式1表示的扩散指数满足以下式2:(式1)扩散指数=X1/X2(式2)扩散指数≥-0.0042×X1+0.62。专利技术的效果根据本专利技术,可以抑制由于辊隙内放电强度的降低的横条纹状图像的产生,同时可以抑制由于由充电构件的表面上的污迹导致的异常放电的点状图像的产生。附图说明[图1]图1示出根据本专利技术的充电构件(辊状)的截面图。[图2]图2示出根据本专利技术的充电构件的表面附近的部分截面图(包括孔的图)。[图3]图3示出根据本专利技术的树脂颗粒的截面图(包括孔的图)。[图4]图4示出表明从根据本专利技术的充电构件的树脂层用涂布液的涂布至孔的形成的流程的示例性图。[图5]图5示出根据本专利技术的充电构件的电阻的测量设备。[图6]图6示出根据本专利技术的调色剂的扩散指数的边界线。[图7]图7示出根据可以用于根据本专利技术的无机细颗粒的外部添加和混合的混合处理设备的一个方面的示例性截面图。[图8]图8示出根据用于根据本专利技术的混合处理设备的搅拌构件的结构的一个方面的示例性截面图。[图9]图9示出根据本专利技术的图像形成设备的一个方面的示例性截面图。[图10]图10示出根据本专利技术的处理盒的一个方面的示例性截面图。[图11]图11示出覆盖率X1相对于根据本专利技术的调色剂的扩散指数的绘图。[图12]图12示出表明构成在充电构件的表面上的凸部的树脂颗粒的三维示例性图。[图13]图13示出表明根据本专利技术的感光构件与充电构件之间的接触状态的示例性图。[图14]图14示出用于根据本专利技术的充电构件的辊隙内放电强度的评价的一个方面的示例性图。具体实施方式本专利技术的专利技术人已经研究了在将感光构件由记载于PTL1和2的各个充电构件充电时获得的接触状态和放电状态。在本研究的过程中,他们已经详细地观察了在充电构件与感光构件之间的辊隙部。因此,已经发现以下。感光构件与充电构件之间的接触限于各凸部的顶点附近的狭窄区域。如果高速图像形成以此类状态进行,则滑移在各凸部的顶点附近的接触部处发生。也已经发现的是,该滑移产生振动,并且该振动传送至感光构件。作为由本专利技术的专利技术人进行的进一步研究的结果,已经发现以下。首先,由滑移产生的振动导致感光构件的振动。转印步骤之后残留在感光构件的表面上的调色剂没有借助清洁构件通过从由感光构件的振动形成的微小间隙经过而除去。另外,当使用更加球状的调色剂时,调色剂的经过明显地发生。同时,调色剂的经过容易在其中聚集的残留调色剂与清洁构件碰撞的部分中发生。作为由本专利技术的专利技术人进行的研究的结果,已经确定的是,如果凸部不形成,则滑移不发生并且由该滑移导致的振动也不发生。然而,已经发现的是,在此情况下,不产生辊隙内放电,使其难以抑制横条纹状图像的产生。本专利技术的专利技术人已经对在保持辊隙内放电的同时,抑制滑移的发生进行了研究。在本研究的过程中,已经发现的是,当多个孔在构成凸部的树脂颗粒中形成时,凸部容易变形,其增加了充电构件的凸部与感光构件之间的接触面积。随着树脂颗粒的孔隙率增加,凸部的变形增加。因此,接触面积可以增加。这导致各凸部的顶点附近的压力集中的降低,因此可以抑制滑移。也已经发现的是,本文档来自技高网
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图像形成设备和处理盒

【技术保护点】
一种图像形成设备,其特征在于包括:感光构件;用充电构件使所述感光构件带电的充电装置;在带电的感光构件的表面上形成静电潜像的曝光装置;和将调色剂供给其上形成静电潜像的所述感光构件从而在所述感光构件的表面上形成调色剂图像的显影装置,其中:所述充电构件包括导电性基体和导电性树脂层,所述树脂层包含粘结剂树脂C和使所述充电构件的表面粗糙化的树脂颗粒,所述树脂颗粒在其内部具有多个孔;并且所述充电构件的表面具有来源自所述树脂颗粒的多个凸部,并且其中:所述调色剂包括调色剂颗粒和无机细颗粒,各所述调色剂颗粒包含粘结剂树脂T和着色剂;所述无机细颗粒是二氧化硅细颗粒,基于100质量份的所述调色剂颗粒,所述调色剂包含0.40质量份以上且1.50质量份以下的量的所述二氧化硅细颗粒,所述二氧化硅细颗粒由基于100质量份的二氧化硅原料为15.0质量份以上且40.0质量份以下的硅油处理,并且所述硅油基于碳量的固定率%是70%以上,并且由X射线光电子能谱仪ESCA测定的所述调色剂的表面的所述二氧化硅细颗粒的覆盖率X1是50.0面积%以上且75.0面积%以下,并且当所述调色剂的所述二氧化硅细颗粒的理论覆盖率是X2时,由以下式1表示的扩散指数满足以下式2:(式1)扩散指数=X1/X2(式2)扩散指数≥‑0.0042×X1+0.62。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种图像形成设备,其特征在于包括:感光构件;使所述感光构件带电的充电构件;在带电的感光构件的表面上形成静电潜像的曝光构件;和将调色剂供给其上形成静电潜像的所述感光构件从而在所述感光构件的表面上形成调色剂图像的显影构件,其中:所述充电构件包括导电性基体和导电性树脂层,所述导电性树脂层包含粘结剂树脂C和使所述充电构件的表面粗糙化的树脂颗粒,各个所述树脂颗粒在其内部具有多个孔;并且所述充电构件的表面具有来源自所述树脂颗粒的多个凸部,并且其中:所述调色剂包括调色剂颗粒和无机细颗粒,各所述调色剂颗粒包含粘结剂树脂T和着色剂;所述无机细颗粒是二氧化硅细颗粒,基于100质量份的所述调色剂颗粒,所述调色剂包含0.40质量份以上且1.50质量份以下的量的所述二氧化硅细颗粒,所述二氧化硅细颗粒由基于100质量份的二氧化硅原料为15.0质量份以上且40.0质量份以下的硅油处理,并且所述硅油基于碳量的固定率是70%以上,并且由X射线光电子能谱仪ESCA测定的所述调色剂的表面的所述二氧化硅细颗粒的覆盖率X1是50.0面积%以上且75.0面积%以下,并且当所述调色剂的所述二氧化硅细颗粒的理论覆盖率是X2时,由以下式1表示的扩散指数满足以下式2:式1扩散指数=X1/X2式2扩散指数≥-0.0042×X1+0.62。2.根据权利要求1所述的图像形成设备,其中所述导电性树脂层具有含有炭黑和无机颗粒的聚集体。3.根据权利要求2所述的图像形成设备,其中所述聚集体包含两种以上的无机颗粒。4.根据权利要求1或2所述的图像形成设备,其中各个所述树脂颗粒的整体的孔隙率为2.5体积%以下。5.根据权利要求4所述的图像形成设备,其中所述树脂颗粒具有孔隙率V11是5体积%以上且20体积%以下的区域,其中在所述树脂颗粒中,所述区域距离所述导电性基体最远;并且假定所述树脂颗...

【专利技术属性】
技术研发人员:青山雄彦谷口智士宫川昇佐藤太一植松敦渡边政浩铃村祯崇
申请(专利权)人:佳能株式会社
类型:发明
国别省市:日本;JP

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