用于激光分析仪的样品盘及激光分析仪制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于激光分析仪的样品盘，其能够被直接、快速并准确地定位于激光分析仪中。其包括圆柱形的基体、设置在基体的顶面上的多个样品槽，以及设置在基体的侧壁的多个定位槽。本实用新型专利技术还提供一种包括上述样品盘的激光分析仪，使用该激光分析仪能够快速准确地检测矿物颗粒。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及油气勘探装置，尤其涉及一种用于激光分析仪的样品盘，还涉及一种具有上述样品盘的激光分析仪。
技术介绍
在地质勘探领域，需经常先将野外采集来的岩石样品进行矿物分选，然后使用激光分析仪对分选后得到的磷灰石和锆石等矿物颗粒进行激光加热剥蚀分析。在具体操作时，需要将装载好的矿物颗粒放置在样品盘上，然后使用通过马达来驱动样品盘，从而使样品盘上的各个样品刚好处在激光的正下方，以便通过激光来对矿物颗粒进行分析。在现有技术中，由于马达驱动样品盘运动的路径通常是直线，这需要沿着样品盘的移动路径将多个矿物颗粒摆放成一直列，以便激光能够连续地照射到各个颗粒。然而，样品盘和激光分析仪的用于放置样品盘的底座之间有一定的空隙，样品盘可以在底座中移动，这导致在将样品盘放置在底座中时，需要实验人员调整样品盘的位置。对样品位置的调整通常是实验人员根据经验，目视样品盘是否放置在底座的正中央，这不但无法保证精确性还耗费了较长的时间，在需要大批量分析样品时，这无疑既浪费了时间又增加了实验人员的工作量。鉴于以上情况，本技术提供了一种用于激光分析仪的样品盘，其能够被直接、快速并准确地定位于激光分析仪中，本技术还提供一种具有该样品盘的激光分析仪，其能够快速精确地检验矿物颗粒。
技术实现思路
本技术提供一种用于激光分析仪的样品盘，其包括圆柱形的基体、设置在基体的顶面上的多个样品槽，以及设置在基体的侧壁的多个定位槽。在一个优选的实施例中，定位槽构造成从基体的底面沿着基体的轴向延伸到基体的顶面。将定位槽设置成从基体的底面贯穿至基体的顶面的槽，在加工方面更简单，而且定位槽延伸至基体的顶面有利于实验人员能够方便地观察到定位槽的位置并且以该定位槽为标记来判断样品盘是否在底座内转动。在一个优选的实施例中，多个样品槽排列成正方形的阵列，该正方形的中心与基体的顶面的圆心相同。这有利于样品均匀间隔的方式放置在样品槽中，并且还有利于激光分析仪在得到一个样品槽的坐标时能够以样品盘的圆形为坐标原点快速计算出其他样品槽的位置，从而使得激光能够准确地对准各个样品槽。在一个优选的实施例中，多个定位槽是等间距地设置在基体的侧壁上的4个定位槽。设置定位槽个数少于4个，可能无法起到精确定位的作用，定位槽的个数多于4个，会增加加工的复杂程度。在一个优选的实施例中，4个定位槽中两两相对的定位槽的连线与样品槽的正方形阵列的边长垂直。这有利于实验人能够通过假想的定位槽的连线来确定样品槽的排列方向以及确定样品盘的中心点的位置。而且，由于马达在相互垂直的两个方向上驱动样品盘直线前进或后退，因此在将样品盘放置入激光分析仪中时可以使得两两相对的定位槽的连线分别垂直或平行于被马达驱动而移动的样品盘的移动路径，从而使得样品槽的各横列和各纵列的方向与马达驱动样品盘移动的方向相同。这有利于激光在对一列样品槽中的矿物颗粒进行加热剥蚀结束后，再转而对下一列样品槽中的矿物颗粒进行加热剥蚀，而不用使马达总是改变驱动样品盘进行运动的方向，这大大节省了分析时间。在一个优选的实施例中，样品槽为圆形的凹槽。在另一个优选的实施例中，定位槽的的深度为1mm到3mm。在一个优选的实施例中，还在激光分析仪的用于放置该样品盘的底座上设置了与样品盘的定位槽相配合的定位凸起。本技术还提供一种包括上述样品盘的激光分析仪。使用该激光分析仪能够快速准确地检测矿物颗粒。【附图说明】在下文中将基于实施例并参考附图来对本技术进行更详细的描述。其中:图1示意性地显示了根据本技术的放置在底座中的样品盘的俯视图。图2示意性地显示了根据本技术的样品盘的立体图。【具体实施方式】下面将结合附图对本技术作进一步说明。图1示意性地显示了根据本技术的放置在底座中的样品盘1的俯视图。如图1所示，样品盘1包括等间距地设置的四个定位槽2以及样品槽3。在图1中还显示了设置在激光分析仪的底座的内壁上的定位凸起4，该定位凸起4卡接在定位槽3中，对样品盘1的位置进行固定，使得样品盘1处于底座的中央位置。虽然图中示出的样品盘1上的样品槽3的个数为25个，但是只要样片槽的个数能够形成正方形的阵列，也可以是4个、9个、16个。图1中的虚线为将相对的定位槽2相连而形成的假想线。图2示意性地显示了根据本技术的样品盘1的立体图。如图2所示样品盘1为圆柱形，四个定位槽2从圆柱形的样品盘1的底面沿着样品盘1的轴线延伸至样品盘1的顶面，定位槽2均在样品盘1的顶面和底面开口。以下，使用一个具体的实施例，对本专利技术的样品盘1的使用方法以及优点进行说明。在这个实施例中，样品槽3的个数是25个，其所排成的正方形阵列的横列和纵列上的样品槽3的个数均为5个。因此，首先在激光分析仪的底座的内壁上等间隔地设置有四个定位凸起4，相对的定位凸起4的连线与被马达驱动着移动的样品盘1的移动移动路径相同。然后，使得放置有矿物颗粒的样品盘1缓缓下沉进入凹陷的底座中，在样品盘1的底面触碰到定位凸起4时稍稍移动或转动样品盘1，使得定位凸起4卡合在样品盘1的定位槽2中，然后使样品盘1继续向下运动直至样品盘1的底面与底座的底面相接合。该放置样品盘1的步骤简单省时并且精确度高。虽然已经参考优选实施例对本技术进行了描述，但在不脱离本技术的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本技术并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。【主权项】1.一种用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，包括圆柱形的基体、设置在所述基体的顶面上的多个样品槽，以及设置在所述基体的侧壁的多个定位槽。2.根据权利要求1所述的用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，所述定位槽构造成从所述基体的底面沿着基体的轴向延伸到所述基体的顶面。3.根据权利要求2所述的用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，所述多个样品槽排列成正方形的阵列，该正方形的中心与所述基体的顶面的圆心相同。4.根据权利要求3所述的用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，所述多个定位槽是等间距地设置在所述基体的侧壁上的4个定位槽。5.根据权利要求4所述的用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，所述4个定位槽中两两相对的定位槽的连线与所述正方形的边长垂直。6.根据权利要求1到5中任一项所述的用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，所述样品槽为圆形的凹槽。7.根据权利要求1到5中任一项所述的用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，所述定位槽的深度为Imm到3mm。8.一种激光分析仪，其特征在于，包括上述任一权利要求所述的样品盘以及与所述定位槽相配合的定位凸起，其中，所述定位凸起插入在所述定位槽中以对所述样品盘的位置进行定位。【专利摘要】本技术提供了一种用于激光分析仪的样品盘，其能够被直接、快速并准确地定位于激光分析仪中。其包括圆柱形的基体、设置在基体的顶面上的多个样品槽，以及设置在基体的侧壁的多个定位槽。本技术还提供一种包括上述样品盘的激光分析仪，使用该激光分析仪能够快速准确地检测矿物颗粒。【IPC分类】G01N21/01【公开号】CN205027649【申请号】CN201520554906【专利技术人】本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于激光分析仪的样品盘，其特征在于，包括圆柱形的基体、设置在所述基体的顶面上的多个样品槽，以及设置在所述基体的侧壁的多个定位槽。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王萍，王杰，陶成，杨华敏，把立强，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：新型
国别省市：北京;11