本发明专利技术公开了一种手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛装置及使用方法，该多功能磨抛装置包括手柄和底座，其中，所述手柄顶部包括水平校准装置，下部含滑轨可在一定范围内产生轴向位移以测量压力，内部含压力测量机构并在手柄侧面的显示器显示读数，底部含螺纹可与底座装配；所述底座依据试件不同形状可分为条形试件底座，曲边试件底座，圆形试件底座等，底座结构均为：顶部含螺纹可与手柄装配，底部含试件夹头可夹持试件，内部含导轨可供夹头定向移动，侧面含螺钉可调节夹头位置。通过本发明专利技术提供的多功能磨抛装置结合其使用方法，便于不同形状及大小试件磨抛过程中的夹持，保持试件水平，以及精确控制磨抛压力，从而实现快速精准磨抛。
【技术实现步骤摘要】
:本专利技术属于表面处理领域，涉及多种形状及大小试件表面的磨削与抛光，尤其是涉及一种手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具及使用方法。
技术介绍
:在生产实践及科研实验中，诸多测试与研究均对试件的表面粗糙度有较高要求，尤其是用电子显微镜获得高倍数微观结构图像及以纳米压痕为代表的微观力学性能测试，均需对试件表面进行高精度的磨削与抛光前处理。然而此类试件的尺寸通常较小且形状多样，现有的自动磨抛机普遍无法加持且夹头难以定制改装，大多需要人工手持磨抛，而市面上，手持式磨抛装置，尤其是自带水平校准以及压力测量的磨抛装置较为少见。在手持磨抛过程中，首先试件尺寸较小形状多样，难以夹持且易于滑脱，磨抛效率较低；其次难以保持磨抛面水平，易形成斜面，不利于微观结构的观测及力学性能测试；最后难以判断磨抛压力大小，磨抛随机性较强，无法形成相对固定的磨抛流程，从而难以控制磨抛精度。综上所述，用于微观结构观测及力学性能测试等的试件表面的磨抛前处理，需要一种能够实时水平校准并显示磨抛压力的手持式装置，且可根据不同试件形状及大小更换夹头。
技术实现思路
:本专利技术所要解决的技术问题是:在对不同形状及大小的试件的表面进行磨抛处理时，试件的稳固加持，磨抛面的水平度及磨抛压力的实时监测与控制，因此，提供了一种手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具及使用方法。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案是:手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具，包括手柄与底座；其中，所述手柄包括两端开口的套筒，该套筒一端开口处设置有水平校准装置，另一端开口处设置有滑轨，且套筒能够沿滑轨进行轴向滑动，套筒内设置有压力测量系统及显示系统，该压力测量系统及显示系统能够在手柄侧面显示读数；所述底座包括底座主体，滑轨固定在底座主体的顶端，底座主体的底端设置有试件夹头。本专利技术进一步的改进在于，底座主体的顶端上设置有圆环形凸台，圆环形凸台的内侧开设有内螺纹，滑轨与圆环形凸台的内侧之间通过螺纹连接。本专利技术进一步的改进在于，底座主体的侧面上设置有用于调节试件夹头相对位置的定位螺钉。本专利技术进一步的改进在于，套筒一端开口处的内侧开设有凹槽，水平校准装置通过该凹槽嵌入在套筒一端开口处。本专利技术进一步的改进在于，压力测量及显示系统包括嵌于套筒侧面的压力显示器以及嵌于套筒内部的压力测试系统组成。本专利技术进一步的改进在于，压力测试系统为弹簧测力机构或压电测力机构。本专利技术进一步的改进在于，底座主体的形状为条形试件底座、曲边试件底座或圆形试件底座。本专利技术进一步的改进在于，底座主体的底部设置有导轨，试件夹头能够沿底座主体的导轨滑动。手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具的使用方法，先调节试件夹头将试件稳固夹持，确保试件上表面与试件夹头完全接触，从而保证试件与底座主体上下表面平行；然后将夹持试件的底座与手柄装配；手持手柄移动至磨抛平台上方的位置处，通过水平校准装置校准水平；控制手柄垂直下压将试件与磨抛平台接触，再次确认水平校准装置显示水平后，继续垂直下压手柄使套筒与滑轨产生滑移，经过压力测量及显示系统的后台自动运算及显示，即可在压力测量及显示系统上读出实时磨抛压力；并且，磨抛过程中实时通过水平校准装置确认试件水平度。相对于现有技术，本专利技术具有以下有益效果:本专利技术手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具，其结构简单，使用方便，通过水平校准装置和压力测量系统及显示系统可实时监测试件水平度和实时显示磨抛压力大小。进一步的，通过更换不同的底座主体，如条形试件底座、曲边试件底座和圆形试件底座，可适用于多种不同形状及大小的试件。本专利技术手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具的使用方法，通过手持手柄移动至磨抛平台上方的位置处，然后通过水平校准装置校准水平；控制手柄垂直下压将试件与磨抛平台接触，再次确认水平校准装置显示水平后，继续垂直下压手柄使套筒与滑轨产生滑移，经过压力测量及显示系统的后台自动运算及显示，即可在压力测量及显示系统上读出实时磨抛压力；并且，磨抛过程中实时通过水平校准装置确认试件水平度。此外，针对不同形状和大小的试件可以更换包括但不限于条形试件底座、曲边试件底座以及圆形试件底座。【附图说明】:图1-1、1_2、1-3及1-4分别为本专利技术的轴、主、左及俯示意图，其中与手柄装配的底座选用条形试件底座；图2-1、2-2、2_3及2-4分别为本专利技术的可替换式曲边试件底座的轴、主、左及俯视图；图3-1、3-2、3-3及3_4分别为本专利技术的可替换式圆形试件底座的轴、主、左及俯视图。图中:1为手柄，1-1为水平校准装置，1-2为压力测量及显示系统，1-3为套筒，1-4为滑轨，2为底座，2-1为底座主体，2-2为定位螺钉，2-3为试件夹头。【具体实施方式】:以下结合附图和【具体实施方式】对本专利技术作进一步说明。如图1-1?1-4，2-1?2_4及3_1?3_4所示，本专利技术一种手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具，包括手柄1和底座2 ;其中，所述手柄1包括两端开口的套筒1-3，该套筒1-3 —端开口处设置有水平校准装置1-1，另一端开口处设置有滑轨1-4，且套筒1-3能够沿滑轨1-4进行轴向滑动，套筒1-3内设置有压力测量系统及显示系统1-2，该压力测量系统及显示系统1-2能够在手柄1侧面显示读数；所述底座2包括底座主体2-1，滑轨1-4固定在底座主体2-1的顶端，底座主体2-1的底端设置有试件夹头2-3。为了对本专利技术进一步的了解，现对其作如下详细说明。所述套筒1-3 —端开口处的内侧开设有凹槽，所述水平校准装置1-1通过凹槽连接直接嵌入套筒1-3顶部。所述套筒1-3连接在滑轨1-4上，且能够沿滑轨1-4进行轴向当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
手持式带水平校准及压力测量的多功能磨抛夹具，其特征在于，包括手柄(1)与底座(2)；其中，所述手柄(1)包括两端开口的套筒(1‑3)，该套筒(1‑3)一端开口处设置有水平校准装置(1‑1)，另一端开口处设置有滑轨(1‑4)，且套筒(1‑3)能够沿滑轨(1‑4)进行轴向滑动，套筒(1‑3)内设置有压力测量系统及显示系统(1‑2)，该压力测量系统及显示系统(1‑2)能够在手柄(1)侧面显示读数；所述底座(2)包括底座主体(2‑1)，滑轨(1‑4)固定在底座主体(2‑1)的顶端，底座主体(2‑1)的底端设置有试件夹头(2‑3)。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王铁军，吕伯文，江鹏，宋岩，李定骏，范学领，
申请(专利权)人：西安交通大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61
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