【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测定显示面板的像素(pixel)的辉度(luminance)的辉度测定方法及其辉度测定装置，以及一种采用该方法和装置的图像质量调节技术。
技术介绍
众所周知，由于制造偏差，诸如液晶面板和有机EL面板等显示面板显示不均(辉度不均和色彩不均)。当显示面板的每个像素具有R，G和B的亚像素时，即使每个像素内的R，G和B之间的相对亮度关系没有不同，如果相邻像素间的绝对亮度关系不同，，也会发生辉度不均。此外，如果相邻像素之间，每个像素的R，G和B之间的相对亮度关系不同，则会发生颜色不均。特别地，在难以使每个像素的有机化合物层的厚度一致的有机EL面板中，由于不均的层厚，可能发生显示不均，因此难以实现大屏尺寸。对于通过减少这种显示不均来提高显示面板的图像质量的技术，例如，在专利文献1中公开了一种辉度测定方法。该方法中，点亮该显示面板的所有像素(在该专利文献中称为“画素”(Picture Element))，这些像素成像于CCD照相机的多个成像点(ImagingPoints)(参照该专利的图5)，并且基于多个成像点处的辉度数据来算出这些像素的辉度。通过计...
【技术保护点】
一种辉度测定方法，其特征在于，其包括：单一像素成像步骤，当显示面板的像素由设有固态成像传感器的照相机成像时，点亮所述显示面板的一个或多个像素，并通过照相机成像所述像素，使得每个像素图像覆盖所述照相机的成像面上的多个画素且所述像素图像彼此不重叠；曝光系数计算步骤，基于与所述像素图像的中心部分对应的一个或多个画素的输出，计算中心曝光系数，所述中心曝光系数表示在所述单一像素成像步骤中成像的所述像素图像的中心部分的辉度占整个像素图像的辉度的比例；基于与所述像素图像的周边部分对应的一个或多个画素，计算周边曝光系数，所述周边曝光系数表示所述像素图像的周边部分的辉度占整个像素图像的辉度的...
【技术特征摘要】
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