本实用新型专利技术提出一种本振泄露校正装置，其特征在于：发射本振泄露检测模块、校准算法控制模块、发射IQ信号直流调整模块、通路选择开关、测试信号产生模块、反馈开关和存储单元；所述发射本振泄露检测模块连接射频收发机的接收通道的输出端，以检测本振泄露的大小；所述校准算法控制模块具有连接所述发射本振泄露检测模块的一个输入端，以及连接所述发射IQ信号直流调整模块、通路选择开关、反馈开关的若干个输出端，以对该些模块进行调控。本实用新型专利技术还提出应用该装置的数字接口射频收发机，利用数字接口射频收发机本身的资源为其提供简单易行的数字本振泄露校正方案，无需基带芯片参与。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于射频集成电路领域，具体涉及一种数字接口射频收发机及其应用的本振泄露校正装置。
技术介绍
零中频发射机因其结构简单、集成度高、功耗低，面积小，所需外围元器件少等特点在无线通信领域已经得到了广泛的应用。但是由于生产工艺偏差、电路设计参数设计不匹配等诸多非理想因素的存在，使得电路存在固有的直流失调，该直流失调和本振信号混频后不可避免地引入的本振泄露，对于零中频发射机，较大的本振泄露将直接恶化发射EVM(矢量幅度误差)以及发射杂散指标不达标，降低芯片量产良率，因此必须将本振泄露进行抑制或校正。现有技术中大多在基带数字处理芯片中采用数据辅助等相关算法对射频发射机的本振泄露进行检测和校正，由于需要大量样本数据，且需要多次复杂运算(如FFT运算)，存在处理时间长，运算量大，实现复杂等缺点，而且占用大量基带芯片硬件或软件资源。
技术实现思路
基于上述背景，本技术提出一种简单易行的数字本振泄露校正方案，直接集成于射频收发机内部，利用射频收发机本身的资源进行自校正，无需基带芯片参与，其具体
技术实现思路
如下:—种本振泄露校正装置，包括发射本振泄露检测模块、校准算法控制模块、发射IQ信号直流调整模块、通路选择开关、测试信号产生模块、反馈开关和存储单元；所述发射本振泄露检测模块连接射频收发机的接收通道的输出端，以检测本振泄露的大小；所述校准算法控制模块具有连接所述发射本振泄露检测模块的一个输入端，以及连接所述发射IQ信号直流调整模块、通路选择开关、反馈开关的若干个输出端，以对该些模块进行调控；所述通路选择开关具有连接所述测试信号产生模块的第一通道输入端，和连接射频收发机的双向信号接口的第二通道输入端，其输出端连接所述发射IQ信号直流调整模块；所述发射IQ信号直流调整模块连接所述射频收发机的发射通道的输入端；所述反馈开关设置于射频收发机的发射通道输出端与接收通道输入端之间。所述发射本振泄露检测模块包括I路累加求和、I路绝对值、Q路累加求和、Q路绝对值，以及对I路绝对值和Q路绝对值的求和。所述发射IQ信号直流调整模块包括I路信号直流调整和Q路信号直流调整。—种数字接口射频收发机，包括发射通道、接收通道、双向数字接口、天线开关、天线以及上述的本振泄露校正装置，其中，该本振泄露校正装置的发射IQ信号直流调整模块连接所述射频收发机的发射通道；该本振泄露校正装置的发射本振泄露检测模块连接射频收发机的接收通道。所述发射通道包括依次连接的可调增益放大器、发射上混频器、发射滤波器和DAC，所述接收通道包括依次连接的低噪声放大器、接收下混频器、接收抗混叠滤波器和ADC;其中，所述发射上混频器和接收下混频器分别连接本地振荡器。本技术与现有技术相比，其优越性体现在:1)在射频收发机内部直接集成发射本振泄露校正装置，无需基带参与；即利用射频收发机本身的发射接收通道，添加一定的算法和控制模块，对发射本振泄露加以校正，节省了基带的硬件、软件资源和处理时间；2)本装置可在发射机非正常发射的时候，获得I路和Q路信号预直流偏置值并存储下来；在正常发射时自动载入I路和Q路信号预直流偏置值对发射本振泄露加以校正，从而不影响正常发射和调制。【附图说明】图1为本技术的数字接口射频收发机的整体原理框图。图2为本技术的发射本振泄露检测模块的原理框图。图3为本技术的发射IQ信号直流调整模块的原理框图。【具体实施方式】如下结合附图1-3，对本申请方案作进一步描述:术语解释:DAC数-模转换器；ADC模-数转换器；L0本地振荡器；1同相分量；Q正交分量。—种本振泄露校正装置，内置于射频收发机当中，其包括发射本振泄露检测模块1、校准算法控制模块2、发射IQ信号直流调整模块3、通路选择开关4、测试信号产生模块5、反馈开关6和存储单元7 ;所述发射本振泄露检测模块1连接射频收发机的接收通道8的输出端，以检测本振泄露的大小；所述校准算法控制模块2具有连接所述发射本振泄露检测模块1的一个输入端，以及连接所述发射IQ信号直流调整模块3、通路选择开关4、反馈开关6的若干个输出端，以对该些模块进行调控；所述通路选择开关4具有连接所述测试信号产生模块5的第一通道输入端，和连接射频收发机的双向信号接口 10的第二通道输入端，其输出端连接所述发射IQ信号直流调整模块3 ；所述发射IQ信号直流调整模块3连接所述射频收发机的发射通道8的输入端；所述反馈开关设置于射频收机的发射通道8输出端与接收通道9输入端之间。所述发射本振泄露检测模块1包括I路累加求和、I路绝对值、Q路累加求和、Q路绝对值，以及对I路绝对值和Q路绝对值的求和。所述发射IQ信号直流调整模块3包括I路信号直流调整和Q路信号直流调整。上述方案的具体应用:—种数字接口射频收发机，包括发射通道8、接收通道9、双向数字接口 10、天线开关11、天线12以及上述的本振泄露校正装置，其中，该本振泄露校正装置的发射IQ信号直流调整模块3连接所述射频收发机的发射通道8 ;该本振泄露校正装置的发射本振泄露检测模块1连接射频收发机的接收通道9。所述发射通道8包括依次连接的可调增益放大器81、发射上混频器82、发射滤波器83和DAC数-模转换器84，所述接收通道9包括依次连接的低噪声放大器91、接收下混频器92、接收抗混叠滤波器93和ADC模-数转换器94 ;其中，所述发射上混频器82和接收下混频器92分别当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种本振泄露校正装置，其特征在于：包括发射本振泄露检测模块、校准算法控制模块、发射IQ信号直流调整模块、通路选择开关、测试信号产生模块、反馈开关和存储单元；所述发射本振泄露检测模块连接射频收发机的接收通道的输出端，以检测本振泄露的大小；所述校准算法控制模块具有连接所述发射本振泄露检测模块的一个输入端，以及连接所述发射IQ信号直流调整模块、通路选择开关、反馈开关的若干个输出端，以对该些模块进行调控；所述通路选择开关具有连接所述测试信号产生模块的第一通道输入端，和连接射频收发机的双向信号接口的第二通道输入端，其输出端连接所述发射IQ信号直流调整模块；所述发射IQ信号直流调整模块连接所述射频收发机的发射通道的输入端；所述反馈开关设置于射频收发机的发射通道输出端与接收通道输入端之间。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王昭，江洪波，
申请(专利权)人：广东博威尔电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44
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