扬声器膜片参数检测方法技术

本发明专利技术涉及扬声器技术领域，具体涉及一种在对扬声器性能测试中使用的扬声器膜片参数检测方法，包括步骤：在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分；通过输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动；采用激光器收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应的频率Fr；测算出折环部分顺性Cms6的值。本发明专利技术的检测方法消除了现有检测方法中干扰因素较多的问题，能够提升膜片参数的检测精准度，且偏差很小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及扬声器
，具体涉及一种在对扬声器性能测试中使用的扬声器 膜片参数检测方法。
技术介绍
扬声器膜片是扬声器的重要零部件，与扬声器声学性能中的FO有直接关系，所以 较准确检测方案可以在零部件组装前发现问题，减少成品率损失。产品的谐振频率FO满其中，Cms为折环的顺性，由音圈以外的折环部分提供；Mms为 f 振动质量。 现有技术中，在对扬声器膜片折环部分的Cms传统的检测通常采用如下方法：通 过把膜片组装成成品，测试成品的F0,反推整个膜片的Cms。此时FO已经确定，由于测试过 程中，膜片由折环部分和球顶部分构成，影响膜片的Cms的参数较大，从而测试出来不够精 准，导致做出来的产品次品较大，报废量大。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种能够精准测算出膜片折环部分Cms的扬声器膜片参数 检测方法。 实现本专利技术目的的技术方案如下： ，待测的膜片由折环部分和球顶部分构成，折环部分的 顺性记作Cms6,球顶部分的顺性记作Cms7 ;膜片的质量记作MO; 步骤一，在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分，该随动部分的顺性记作 CmslO,随动部分的质量记作M1，其中，随动部分的杨氏模量大于膜片的杨氏模量，随动部分 的厚度大于膜片的厚度；随动部分的质量Ml是膜片的质量MO的4-20倍； 步骤二，通过输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动； 步骤三，采用激光器收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应的 频率Fr; 步骤四，膜片振动最大值对应的频率Fr满足如下条件， 其中，且由于M1+M0的波动接近Ml的波动，从而能够测算出折环部分顺性Cms6的值。进一步地，为了保证检测的精准性，所述随动部分平铺于球顶部分上表面。采用了上述技术方案，在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分，且随动部分质 量Ml是膜片质量MO的数倍，这样消除膜片球顶部分在检测过程中，对谐振的贡献，从而减 少检测的干扰因素，提升检测的精准性；本专利技术的检测方法消除了现有检测方法中干扰因 素较多的问题，能够提升膜片参数的检测精准度，且偏差很小。【附图说明】 图1为待测膜片装配于扬声器中的结构示意图； 图2为本专利技术检测方法检测的结构示意图； 附图中，1为膜片，2为音圈，3为盆架，4为磁路，5为前盖，6为折环部分，7为球顶 部分，8为发声器，9为激光器，10为随动部分，11为壳体。【具体实施方式】 为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例 的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发 明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术 人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。 参见图1，膜片1装配于盆架3与前盖5之间，音圈2装配在膜片中部的下方，音圈 下方设置有磁路4。 参见图2,本专利技术提供的一种，待测的膜片1由折环部分 6和球顶部分7构成，折环部分的顺性记作Cms6,球顶部分的顺性记作Cms7 ;膜片的质量记 作MO;待测膜片装配于壳体11中，壳体的下方具有发出不同频率的发声器8,发声器8对着 膜片发声，能够推动膜片的产生不同的谐振； 步骤一，在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分10,该随动部分的材质可采用 与膜片球顶部分的材质相同，该随动部分具有顺性并将该顺性记作CmslO,随动部分的质量 记作M1，其中，随动部分的杨氏模量大于膜片的杨氏模量，随动部分的厚度大于膜片的厚 度；随动部分的质量Ml是膜片的质量MO的4-20倍；随动部分平铺于球顶部分上表面，以增 强膜片振动的平稳性，最终保证检测的精准性。 步骤二，通过发声器8输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动； 步骤三，采用激光器9收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应 的频率Fr; 步骤四，膜片振动最大值对应的频率Fr满足如下条件，其中且由于，Ml的质量大于M0,因而M1+M0的波动 接近Ml的波动， 从而，Fr可以简化为 从而能够测算出.， 折环部分顺性Cms6的值，也就能够检测出产品的质量。 其中，本专利技术中的Cms6、Cms7、M0、CmslO、Ml中的数字起到标识区分的作用，并部 具有特殊的限定意义。 另外，在对膜片参数进行检测还可以采用如下方法（记作第二种方法）来实 现：通过膜片直接固定在壳体中，并在膜片一侧使用一发声器输出不同频率的声信号， 推动待测膜片振动，用激光器收集待测膜片的振动情况，其振动的最大值对应频率作为 参考Fr，由于该膜片由折环部分和球顶部分组成，两部分有数值相近的顺性Cms，分别记 作Cms6与Cms7。但是，其中，只有Cms6是有用部分。膜片振动质量为M0,则Fr满足：在实际生产过程中，MO随膜厚的波动而波动，一般有 +/-10%;球顶部分的Cms7会随球顶实际形状的改变而改变。于是最终需要测量的Cms6偏 差非常大。因而检测的精准度远远低于上面的检测方法。 下面提供本申请中所提及到三种检测方法的一些检测数据；其中，下面表格中数 据为采用
技术介绍
中常规检测方法对膜片检测到的数据： 结论：本专利技术的新方案测试减少了Cms7的影响，其结果均值与实际测试结果较接 近，且标准差较小。【主权项】1. ，其特征在于，待测的膜片由折环部分和球顶部分构成，折 环部分的顺性记作Cms6,球顶部分的顺性记作Cms7 ;膜片的质量记作MO ; 步骤一，在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分，该随动部分的顺性记作CmslO,随 动部分的质量记作M1，其中，随动部分的杨氏模量大于膜片的杨氏模量，随动部分的厚度大 于膜片的厚度；随动部分的质量Ml是膜片的质量MO的4-20倍； 步骤二，通过输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动； 步骤三，采用激光器收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应的频率 Fr ； 步骤四，膜片振动最大值对应的频率Fr满足如下条件，其中，且由于M1+M0的波动接近Ml的波动，从而能够测算出折环部分顺性Cms6的值。2. 根据权利要求1所述的，其特征在于，所述随动部分平铺 于球顶部分上表面。【专利摘要】本专利技术涉及扬声器
，具体涉及一种在对扬声器性能测试中使用的，包括步骤：在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分；通过输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动；采用激光器收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应的频率Fr；测算出折环部分顺性Cms6的值。本专利技术的检测方法消除了现有检测方法中干扰因素较多的问题，能够提升膜片参数的检测精准度，且偏差很小。【IPC分类】H04R29/00【公开号】CN105163260【申请号】CN201510400116【专利技术人】穆军 【申请人】江苏米笛声学科技有限公司【公开日】2015年12月16日【申请日】2015年7月9日本文档来自技高网...

【技术保护点】
扬声器膜片参数检测方法，其特征在于，待测的膜片由折环部分和球顶部分构成，折环部分的顺性记作Cms6，球顶部分的顺性记作Cms7；膜片的质量记作M0；步骤一，在膜片的球顶部分固定设置一个随动部分，该随动部分的顺性记作Cms10，随动部分的质量记作M1，其中，随动部分的杨氏模量大于膜片的杨氏模量，随动部分的厚度大于膜片的厚度；随动部分的质量M1是膜片的质量M0的4‑20倍；步骤二，通过输入不同频率的声信号，推动膜片及随动部分的振动；步骤三，采用激光器收集待测的膜片的振动情况，获取膜片的振动最大值对应的频率Fr；步骤四，膜片振动最大值对应的频率Fr满足如下条件，Fr=12π1(Cms6+Cms7*Cms10Cms7+Cms10)*(M0+M1)]]>其中，且由于M1+M0的波动接近M1的波动，从而能够测算出折环部分顺性Cms6的值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：穆军，
申请(专利权)人：江苏米笛声学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32