用于测试扬声器的方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于测试扬声器的方法及系统。该方法包括：利用激光位移传感器检测样品扬声器振膜的位移值，以当在不同频点样品扬声器振膜的位移值达到最大位移时，获取样品扬声器所需要的相应的激励电压；生成样品扬声器的EQ曲线，所述EQ曲线是样品扬声器在不同频点的所述激励电压与校准电压的比值；以及基于所述样品扬声器的EQ曲线和所述校准电压测试待测扬声器并获取测试结果。将根据本发明专利技术的方法应用到扬声器实际产品的测试系统中，更容易发现待测扬声器的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子元件检测技术，更具体地，涉及一种扬声器的测试方法及测试系统。
技术介绍
在电子
，扬声器的试音检测是一项重要的工序，而其检测方法和检测设备对测试结果起着重要的作用。随着移动互联网的发展，电子产品越来越受到用户的青睐。在电子产品日益轻薄化和大功率化的趋势下，智能功率放大器在电子产品中的应用成为主流。智能功率放大器能够实时调整其输出信号以使扬声器在可应用的频率范围内尽量达到最大位移(本专利技术中，位移指扬声器的振膜的位移；温度指扬声器音圈的温度)，并且不超过预定的温度阈值，例如，产品设计的最大温度。然而，在现有技术中，在消音室或者产线的试音测试中通常采用固定的电压来控制测试信号，因而很难保证扬声器在最大位移的条件下进行测试，这对于采用了智能功率放大器的扬声器的应用来说，不利于发现问题，影响了扬声器的实际应用。因此，如何准确测试应用了智能功率放大器的情况下的扬声器性能，成为扬声器测试领域中的挑战。因此，需要对现有技术进行改进以解决上述的至少一个问题。
技术实现思路
本专利技术的一个目的是提供一种扬声器测试的新技术方案。根据本专利技术的第一方面，一种用于测试扬声器的方法。该方法包括：利用激光位移传感器检测样品扬声器振膜的位移值，以当在不同频点所述样品扬声器振膜的位移值达到最大位移时，获取所述样品扬声器所需要的相应的激励电压；生成所述样品扬声器的EQ曲线，所述EQ曲线是所述样
品扬声器在不同频点的所述激励电压与校准电压的比值；以及基于所述样品扬声器的EQ曲线和所述校准电压测试待测扬声器并获取测试结果。优选地，当所述样品扬声器的温度高于预定的温度阈值的时，降低所述样品扬声器的激励电压。优选地，当所述样品扬声器振膜的位移在某个频点高于预定的位移阈值时，降低所述样品扬声器在该频点的激励电压。优选地，当待测扬声器的温度高于预定的温度阈值时，实时调整EQ曲线。优选地，将EQ曲线存储为文件的形式以在测试待测扬声器的过程中读取。根据本专利技术的第二方面，提供了一种用于测试扬声器的系统。该系统包括：用于利用激光位移传感器检测样品扬声器振膜的位移值以当在不同频点所述样品扬声器振膜的位移值达到最大位移时获取所述样品扬声器所需要的相应的激励电压的模块；用于生成所述样品扬声器的EQ曲线的模块，所述EQ曲线是所述样品扬声器在不同频点的所述激励电压与校准电压的比值；以及基于所述样品扬声器的EQ曲线和所述校准电压测试待测扬声器并获取测试结果的模块。优选地，所述系统还包括：用于当所述样品扬声器的温度在高于预定的温度阈值的时降低所述样品扬声器的激励电压的模块。优选地，所述系统还包括：用于当所述样品扬声器振膜的位移在某个频点高于预定的位移阈值时降低所述样品扬声器在该频点的激励电压的模块。优选地，所述还包括：用于当待测扬声器的温度高于预定的温度阈值时实时调整EQ曲线的模块。优选地，所述系统还包括：用于EQ曲线存储为文件的形式以在测试待测扬声器的过程中读取的模块。根据本专利技术的用于测试扬声器的方法和系统，能够在测试过程中，使待测扬声器在其应用频率范围内位移值达到最大位移，从而有利于发现产品的问题。此外，在测试过程中，还可以保证扬声器的位移值和温度不超
过预定的阈值，从而避免损坏待测扬声器和/或影响测试的准确性。通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例的详细描述，本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。附图说明被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。图1是根据本专利技术实施例的用于测试扬声器的方法的流程图。图2是根据本专利技术实施例的用于温度保护方法的示意框图。图3是使用智能功率放大器和普通功率放大器的扬声器振膜的位移示意图。图4是根据本专利技术的一个实施例的测试待测扬声器的示意性框图。具体实施方式现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本专利技术的范围。以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。图1是根据本专利技术实施例的用于测试扬声器的方法的流程图。如图1可知，根据本专利技术的测试方法主要分为两个阶段。第一阶段用
来测试样品扬声器并获得EQ曲线，包括步骤S110和S120。第二阶段是将样品扬声器的EQ曲线应用于消音室测试或产线测试中，包括步骤S130。在步骤S110，利用激光位移传感器检测样品扬声器振膜的位移值，以当在不同频点样品扬声器振膜的位移值达到最大位移时，获取样品扬声器所需要的激励电压。通常，扬声器的试音测试包括设置扫频范围，在扫频范围内利用激励电压控制测试音频信号(例如，正弦波信号)的播放，以得到扬声器在扫频范围内的测试结果。通常，所述的扫频范围设置为扬声器的可应用的频率范围，例如，在谐振频率是1.0kHz的情况下，将扫频范围设置为100Hz-1.2kHz。本领域的人员应当可以理解，所述扬声器的可应用频率范围与多个因素有关，例如，与扬声器所连接的功率放大器的输出电压或扬声器的温度有关。本专利技术对于扬声器的应用频率范围不做具体限定，测试人员需要根据实际情况予以确定。所述激光位移传感器发射激光脉冲信号，经扬声器的振膜散射后返回该传感器，该传感器根据激光脉冲发射和返回的时间，即可测定扬声器振膜的位移(振幅)。通过使用激光位移传感器可以非接触的测试扬声器的位移值，其测试精度可达1um。在本实施例中，当在不同频点样品扬声器振膜的位移值达到最大位移时，获取样品扬声器所需要的相应的激励电压。此外，在测试样品扬声器的过程，可能重复多次以获得样品扬声器在不同的激励电压下所能达到的最大位移。所述扬声器的最大位移包括扬声器振膜的正向最大位移或负的最大位移或直流偏移。例如，正向最大位移是0.27mm，负的最大位移是-0.25mm等。用户在测试样品扬声器的过程中可以根据需要分别获取上述任一种情况或多种情况下的激励电压。此外，在对样品扬声器进行测试的过程中，可以监测扬声器的温度或位移是否高于预定的阈值，以相应的降低激励电压，从而避免样品扬声器因温度过高或位移过大而影响测试的精确性。例如，当样品扬声器振膜的位移在某个频点上高于预定的位移阈值时，降低样品扬声器在频点的激励电压。例如，当样品扬声器的温度高于预定的温度阈值的时，降低样品扬声器的激励电压。可以采用多种方式来降低样品扬声器的激励电压，例如，按照一定的步长来降低激励电压。例如，当检测到样品扬声器的温度在某个频点高于预定的阈值时，降低该频点之前全部频点或部分频点的激励电压。这主要是由于温度变化是慢变和累积的过程，因此，降低全部频点或部分频点的激励电压更能够反映温度的变化过程。通过上述降低激励电压的方式可本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测试扬声器的方法，包括：利用激光位移传感器检测样品扬声器振膜的位移值，以当在不同频点所述样品扬声器振膜的位移值达到最大位移时，获取所述样品扬声器所需要的相应的激励电压；生成所述样品扬声器的EQ曲线，所述EQ曲线是所述样品扬声器在不同频点的所述激励电压与校准电压的比值；以及基于所述样品扬声器的EQ曲线和所述校准电压测试待测扬声器并获取测试结果。

【技术特征摘要】
1.一种用于测试扬声器的方法，包括：利用激光位移传感器检测样品扬声器振膜的位移值，以当在不同频点所述样品扬声器振膜的位移值达到最大位移时，获取所述样品扬声器所需要的相应的激励电压；生成所述样品扬声器的EQ曲线，所述EQ曲线是所述样品扬声器在不同频点的所述激励电压与校准电压的比值；以及基于所述样品扬声器的EQ曲线和所述校准电压测试待测扬声器并获取测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，还包括：当所述样品扬声器的温度高于预定的温度阈值的时，降低所述样品扬声器的激励电压。3.根据权利要求1所述的方法，还包括：当所述样品扬声器振膜的位移在某个频点高于预定的位移阈值时，降低所述样品扬声器在该频点的激励电压。4.根据权利要求1所述的方法，还包括：当待测扬声器的温度高于预定的温度阈值时，实时调整EQ曲线。5.根据权利要求1所述的方法，还包括将EQ曲线存储为文件的形式以在测试待测扬声器的过程中读取。6.一种用于测试扬声器的系统，包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：王国福，杨鑫峰，平慷，
申请(专利权)人：歌尔股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37