一种镀制激光高反膜的方法技术

技术编号:12468427 阅读:93 留言:0更新日期:2015-12-09 17:41
本发明专利技术公开了一种镀制激光高反膜的方法,按一定比例混合几种常用高折射率单质薄膜材料,采用混合膜料镀制激光反射膜,使激光反射膜的抗损伤阀值和反射率大大提高;以该系列混合膜料作为高折射率材料,SiO2作为低折射率膜料镀制的激光反射膜,可使损伤阀值提高15%,吸收减小,机械强度增大,波长无飘移现象。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及真空镀膜
,尤其涉及。
技术介绍
目前,国际上报道的激光腔镜的最高反射率可以达到99. 999%,是采用离子束 溅射沉积技术制备的,运用这项技术可以很容易制备出反射率大于99. 99%,损耗低于 4. 0 X 10-6的全介质反射膜,主要应用于激光陀螺和高功率激光腔镜的研制。但是高的反射 率水平并不能直接反应反射镜抗激光损伤的强度,即激光高反射膜的损伤阀值。
技术实现思路
有鉴于此,本专利技术提供了,激光反射膜的抗损伤阀值 和反射率大大提高。 本专利技术的,包括如下步骤: 步骤1、制作混合膜料H,其中混合膜料H选用混合材料Ti02: Ta205和Ta 205: Zr02 中的一种;其中,Ti02:Ta205的比例选为9:1、8:2或7:3 ;Ta 205:Zr02的比例选为9:1、8:2或 6:4 ;将SiOjt为膜料L ; 步骤2、对镀件进行镀膜,具体为:0)、将镀件置于真空镀膜机的真空室上部,通过转轴与真空室上壁连接,并可绕转 轴转动;离子源设置在镀件的下方,离子源的两侧分别设置环形坩埚和普通坩埚;其中环 形坩埚中盛放膜料H,其形状为圆环形凹槽,采用电子枪A产生的电子束对其进行照射;环 形坩埚可绕圆环形凹槽的中心轴转动;普通坩埚盛放膜料L,形状为圆形,采用电子枪B产 生的电子束对其进行照射;采用膜厚控制仪监测镀件的膜层厚度;1)、清理真空室,镀件采用超声波清洗;2)、环形i甘埚转速设定为0. 5r/min;镀件转速设定为5r/min,对其进行烘烤; 3)、设定镀件的膜系结构,共33层,其中单数层镀制膜料H,双数层镀制膜料L ;各 膜层厚度均为f光学厚度;其中,A表示镀件镀制完成后的工作波长的中心波长; 4)、开始对真空室抽真空,当真空度到达6. 0X10 3Pa后,镀件转速调整到12r/ min,离子源的充氧气值为6. Osccm ;真空度降至1. 0 X 10 2pa时,离子源的离子束流调节到 70mA ; 5)、电子枪B的光斑调成圆形光斑,开始蒸镀普通坩埚中的"H"膜料,蒸镀过程采 用膜层控制仪实时监控膜层厚度,当膜层厚度到达f光学厚度时时,停止蒸镀,此时第1层 蒸镀完成;然后,将电子枪A调成"一"字型光斑,并使光斑照射在环形凹槽的膜料L上,同 时保证光斑处于环形坩埚的圆形的一条直径上,然后开始蒸镀环形坩埚中的膜料L,蒸镀过 程监控膜层厚度,当膜层到达f光学厚度时,停止蒸镀,此时第2层蒸镀完成;如此反复以 上过程,直至第33层蒸镀完成; 6)、蒸镀完成后,将真空室降到室温后,取出镀件,并对镀件进行烘烤,烘烤温度为 300 °C,保持8-1 Oh后,室温取出。 述真空镀膜机选用ZZS900型镀膜机。 所述膜厚监测仪型号为INFIC0N公司的SQC310薄膜镀层控制仪。 较佳的,蒸发速率设置为:膜料H为0. 5nm/s,膜料L为0. 35nm/s。 较佳的,步骤2)中对镀件(3)的烘烤温度设定为300 °C,烘烤时间设定为40min。 本专利技术具有如下有益效果: (1)本专利技术按一定比例混合几种常用高折射率单质薄膜材料,采用混合膜料镀制 激光反射膜,使激光反射膜的抗损伤阀值和反射率大大提高。 (2)以该系列混合膜料作为高折射率材料,Si02作为低折射率膜料镀制的激光反 射膜,可使损伤阀值提高15%,吸收减小,机械强度增大,波长无飘移现象。【附图说明】图1为混合膜料折射率色散曲线。 图2为波长1064nm激光反射膜的透过率。 图3为波长632. 8nm激光反射膜的透过率。 图4为镀制工艺中工作单元位置关系。 其中,1-真空室,2-转轴,3-镀件,4-膜厚控制仪,5-离子源,6-环形坩埚,7-普通 谢埚,8-电子枪A,9-电子枪B,10-氧气口。【具体实施方式】 下面结合附图并举实施例,对本专利技术进行详细描述。 本专利技术包括混合膜料的制备和激光高反射膜的镀制工艺两部分,采用混合膜料极 大的降低了镀制工艺的难度。 (一)膜料制备和测试 1、选取三种常用的高折射率单质薄膜材料: Ti02的折射率在2. 2-2. 7之间,而且折射率大小极强的依赖于镀制方式和基体温 度,但是其致密性一般,激光破坏阀值低。 Ta205的折射率在2-2. 2之间,但是膜层致密性极高,填充密度趋于1,激光破坏阀 值略高与Ti02。 Zr02的折射率在1. 9-2. 1之间,致密性较差,折射率有负向性,但是它有较高的激 光破坏阀值。 2、制备不同比例混合膜料。为了避免膜料被污染,混合必须在极清洁的环境下进 行。 1)、将步骤1中所选定的三种单质材料晶体颗粒用天平分别称取各自的配比重 量,混合均匀; 2)、用玛瑙研磨后筛选成60目粉末; 3)、用油压机(压力250Kg/cm2,时间5-6分钟)压制成压片状膜料; 4)、250_300°C烘箱中烘烤 8-10 小时。 3、混合膜料折射率的色散 对于两种混合膜料镀制|光学厚度的膜层,混合材料Ti〇2:Ta20 5的比例为9:1, 8:2或7:3 ;混合材料Ta205: Zr02的比例为:和9:1,8:2或6: 4。 用不同混合比例混合膜料,镀制单层膜做实验,探索工艺条件,研究混合膜折射率 及其色散规律。具体如下:在基体上镀制f光学厚度膜层,用光度计测量出膜层在一定范围 内的光谱透射率,用椭偏仪测量出膜层的几何厚度,经过数据处理,得出一系列折射率值, 最后确定其膜层折射率色散系数,如表1。如图1所示,该图为几种常用的高折射率单质薄 膜材料按照不同比例混合制成的膜料的折射率色散曲线图。 表1不同比例混合材料薄膜的通用色散系数 注:色散方程为n2= A+B人2, A,B为色散系数。(二)激光高反射膜设计 膜系设计选用基体材料G为K9光学玻璃,选择混合材料Ti02: Ta205和Ta 205: Zr02 中的一种(比例关系也从(一)中测试的比例中选择一种)作为高折射率的混合膜料H, 本实施例选为Ta20 5:Zr02^# SiO 2作为低折射率材料L,大气折射率为A,设计软件采用 TFCalc35光学薄膜设计软件。激光高反射膜是膜系为GAHL) _16H/A的规整膜系,共计当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种镀制激光高反膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、制作混合膜料H,其中混合膜料H选用混合材料TiO2:Ta2O5和Ta2O5:ZrO2中的一种;其中,TiO2:Ta2O5的比例选为9:1、8:2或7:3;Ta2O5:ZrO2的比例选为9:1、8:2或6:4;将SiO2作为膜料L;步骤2、对镀件(3)进行镀膜,具体为:0)、将镀件(3)置于真空镀膜机的真空室(1)上部,通过转轴(2)与真空室上壁连接,并可绕转轴(2)转动;离子源(5)设置在镀件(3)的下方,离子源(5)的两侧分别设置环形坩埚(6)和普通坩埚(7);其中环形坩埚(6)中盛放膜料H,其形状为圆环形凹槽,采用电子枪A(8)产生的电子束对其进行照射;环形坩埚(6)可绕圆环形凹槽的中心轴转动;普通坩埚(7)盛放膜料L,形状为圆形,采用电子枪B(9)产生的电子束对其进行照射;采用膜厚控制仪(4)监测镀件(3)的膜层厚度;1)、清理真空室(1),镀件(3)采用超声波清洗;2)、环形坩埚(6)转速设定为0.5r/min;镀件(3)转速设定为5r/min,对其进行烘烤;3)、设定镀件(3)的膜系结构,共33层,其中单数层镀制膜料H,双数层镀制膜料L;各膜层厚度均为光学厚度;其中,λ表示镀件(3)镀制完成后的工作波长的中心波长;4)、开始对真空室(1)抽真空,当真空度到达6.0×10‑3Pa后,镀件(3)转速调整到12r/min,离子源(5)的充氧气值为6.0sccm;真空度降至1.0×10‑2pa时,离子源(5)的离子束流调节到70mA;5)、电子枪B(9)的光斑调成圆形光斑,开始蒸镀普通坩埚(7)中的“H”膜料,蒸镀过程采用膜层控制仪(4)实时监控膜层厚度,当膜层厚度到达光学厚度时时,停止蒸镀,此时第1层蒸镀完成;然后,将电子枪A(8)调成“一”字型光斑,并使光斑照射在环形凹槽的膜料L上,同时保证光斑处于环形坩埚(6)的圆形的一条直径上,然后开始蒸镀环形坩埚(6)中的膜料L,蒸镀过程监控膜层厚度,当膜层到达光学厚度时,停止蒸镀,此时第2层蒸镀完成;如此反复以上过程,直至第33层蒸镀完成;6)、蒸镀完成后,将真空室(1)降到室温后,取出镀件(3),并对镀件(3)进行烘烤,烘烤温度为300℃,保持8‑10h后,室温取出。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:惠建平魏春刚李永庆
申请(专利权)人:河北汉光重工有限责任公司
类型:发明
国别省市:河北;13

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